【正文】 、并估判缺陷的性質(zhì)。 2）缺陷大小的測(cè)定：一般使用絕對(duì)靈敏度法測(cè)定缺陷的大小。 a）檢出缺陷后，應(yīng)在它的周?chē)^續(xù)進(jìn)行檢測(cè)，以確定缺陷范圍。此時(shí)探頭中心的移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)。 c）用單直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長(zhǎng)度，移動(dòng)探頭使缺陷第一次反射波波 高下降到基準(zhǔn)靈敏度條件下顯示屏滿刻度25%或使缺陷第一次反射波波高與底面第一次反射波高之比為50%。兩種方法測(cè)得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn)。此時(shí)探頭中心的移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)。所謂疊加效應(yīng)是指在薄板中當(dāng)缺陷較小時(shí)，缺陷反射波從第一次開(kāi)始，第二次、第三次反射波逐漸增高，增高到一定程度以后的反射波又逐漸降低的現(xiàn)象。 分層 ：缺陷波形陡直，底波明顯下降或完全消失。 白點(diǎn)： 波形密集尖銳活躍底波明顯降低，次數(shù)減少，重復(fù)性差，移動(dòng)探頭，回波此起彼伏。若單個(gè)缺陷的指示長(zhǎng)度小于 40㎜ 時(shí)，可不作記錄。 b）多個(gè)缺陷其相鄰間距小于 100㎜ 或間距小于相鄰較小缺陷的指示長(zhǎng)度（取其最大值）時(shí)，以各缺陷面積之和作為單個(gè)缺陷指示面積。如鋼板面積小于 1m 1m，可按比例折算。 2）在剖口預(yù)定線兩側(cè)各 50㎜ （當(dāng)板厚超過(guò) 100㎜ 時(shí)，以板厚的一半為準(zhǔn)）內(nèi)，缺陷的指示長(zhǎng)度大于或等于 50㎜ 時(shí)，應(yīng)評(píng)為Ⅴ 級(jí)。 表 鋼板質(zhì)量分級(jí) 等級(jí) 單個(gè)缺陷 指示長(zhǎng)度㎜ 單個(gè)缺陷 指示面積㎝ 2 在任 一 1m 1m檢測(cè) 面積內(nèi)存在的缺陷面積百分比 % 以下單個(gè)缺陷 指示面積不計(jì)㎝2 Ⅰ ＜ 80 ＜ 25 ≤3 ＜ 9 Ⅱ ＜ 100 ＜ 50 ≤5 ＜ 15 Ⅲ ＜ 120 ＜ 100 ≤10 ＜ 25 Ⅳ ＜ 150 ＜ 100 ≤10 ＜ 25 Ⅴ 超過(guò) Ⅳ 級(jí)者 復(fù)合板是由 基板 和 復(fù)合層 板組成的。復(fù)合層板用來(lái)提高耐磨、耐腐蝕等性能，基板用來(lái)保證復(fù)合板的強(qiáng)度。 復(fù)合板中的 缺陷 主要是復(fù)合層板和基板結(jié)合層界面上的未結(jié)合，未結(jié)合部分的缺陷呈完全脫開(kāi)或不完全脫開(kāi)狀態(tài)。 脫層（脫接） 復(fù)合不良 探頭的選用應(yīng)按表 。 耦合方式可采用直接接觸法或液浸法。 a) 掃查方式可采用 100%掃查或沿鋼板寬度方向，間隔為 50mm的平行線掃查； b) 根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書(shū)或圖樣的要求，采用其他掃查形式； c) 在坡口預(yù)定線兩側(cè)各 50mm內(nèi)應(yīng)作 100%掃查。以此作為基準(zhǔn)靈敏度。移動(dòng)探頭，使第一次底波升高到顯示屏滿刻度的 40%，以此時(shí)探頭中心作為未結(jié)合區(qū)邊界點(diǎn)。若單個(gè)缺陷的指示長(zhǎng)度小于 25mm時(shí)，可不作記錄。 未結(jié)合區(qū)總面積占復(fù)合板總面積的百分比。 表 復(fù)合鋼板質(zhì)量等級(jí)評(píng)定 等級(jí) 單個(gè)未結(jié)合指示長(zhǎng)度， mm 單個(gè)未結(jié)合區(qū)面積， cm2 未結(jié)合率， % Ⅰ 0 0 0 Ⅱ ≤50 ≤20 ≤2 Ⅲ ≤75 ≤45 ≤5 Ⅳ 大于 Ⅲ 級(jí)者 2)在剖口的預(yù)定線兩側(cè)各 50mm的范圍內(nèi)，未結(jié)合的指示長(zhǎng)度大于或等于 25mm時(shí)，定級(jí)為 Ⅳ 級(jí)。 復(fù)合板縱波垂直檢測(cè)時(shí)超聲波的傳播路徑和檢測(cè)圖形見(jiàn)示意圖，圖中 I、 I1為界面反射波， I2為界面多次反射波； B為底面反射波， B1的傳播路徑較為復(fù)雜：一條是 I1經(jīng)復(fù)合板表面反射然后在界面處透射，而后經(jīng)基板底面反射，這個(gè)反射波在界面處透射最后回到復(fù)合板表面；另一條是 B經(jīng)復(fù)合板表面反射后，在界面處再次反射并回到復(fù)合板表面。這里基材（鋼）的聲阻抗取 46 106kg/m2s。 無(wú)縫鋼管加工方法有熱軋（擠壓無(wú)縫鋼管）和冷拔，無(wú)縫鋼管中缺陷與加工方法有關(guān)。 無(wú)縫鋼管中缺陷按其方向有縱向缺陷和橫向缺陷，鋼管的檢測(cè)主要針對(duì)縱向缺陷。檢測(cè)橫向缺陷時(shí)超聲聲束應(yīng)沿軸向傾斜入射呈鋸齒形傳播（如圖 ）。因此將管材檢測(cè)的傾斜入射聲束入射角選擇在第一臨界角和第二臨界角之間，使管材中只存在橫波進(jìn)行檢測(cè)且聲束軸線能掃查到內(nèi)壁。 圖 管壁內(nèi)聲束的周向傳播 圖 管壁內(nèi)聲束的軸向傳播 接觸法檢測(cè)使用與鋼管表面吻合良好的斜探頭。接觸法檢測(cè)效率低、探頭損耗大適用于單件小批量及規(guī)格多的情況。 求 : 將液浸縱波探頭置于液體中，利用縱波傾斜入射到液體 /鋼界面，當(dāng)入射角 α在第一臨界角和第二臨界角之間時(shí)，在管材內(nèi)對(duì)縱向缺陷進(jìn)行全橫波檢測(cè)，見(jiàn)圖 （圖中所示反射波表示的是相對(duì)位置，實(shí)際檢測(cè)中它們不會(huì)同時(shí)出現(xiàn)在顯示屏上）。這里簡(jiǎn)單介紹一下液浸法的幾個(gè)工藝參數(shù)的選擇： ： 探頭聲束軸線與管材中心軸線的水平距離。 偏心距的范圍由兩個(gè)條件決定，一是保證聲束軸線能夠檢測(cè)到管材內(nèi)壁，二是保證全橫波檢測(cè)。如果用水作為耦合液體的話，由水和鋼的聲速可知水層厚度大于管材中橫波聲程的一半就能滿足上述要求，即： 22 rRh ?? f: 22 xRhf ??? 39。這里主要介紹縱向缺陷的檢測(cè)。接觸法檢測(cè)使用與鋼管表面吻合良好的斜探頭或聚焦斜探頭。探頭頻率為 ～。對(duì)比試塊上的人工反射體為尖角槽，尖角槽的位置和尺寸如圖 。 液浸法基準(zhǔn)靈敏度按下述方法確定： （ ）來(lái)確定； 表 鋼管超聲波檢測(cè)縱向缺陷的人工試塊上的人工反射體尺寸 級(jí)別 長(zhǎng)度 l， mm 深度 t占壁厚百分比， % Ⅰ 40 5（ ≤t≤1mm） Ⅱ 40 8（ ≤t≤2mm） Ⅲ 40 10（ ≤t≤3mm） ，一面用適當(dāng)?shù)乃俣绒D(zhuǎn)動(dòng)管子，一面將探頭慢慢偏心，使對(duì)比試樣管內(nèi)、外表面人工反射體所產(chǎn)生的反射波幅度均達(dá)到顯示屏滿刻度的 50%，以此作為基準(zhǔn)靈敏度。 探頭沿徑向按螺旋線進(jìn)行掃查。探頭相對(duì)鋼管螺旋進(jìn)給的螺距應(yīng)保證超聲聲束對(duì)鋼管進(jìn)行 100%掃查時(shí)，有不小于 15%的覆蓋率。每根管材應(yīng)從管材兩端沿相反方向各檢查一次。在檢測(cè)中當(dāng)發(fā)現(xiàn)缺陷時(shí)，儀器應(yīng)調(diào)回到基準(zhǔn)靈敏度，對(duì)于缺陷反射波幅度 ≥基準(zhǔn)靈敏度，則該管材為不合格。 鍛件是由熱態(tài)鋼錠經(jīng)鍛壓變形而成。鍛壓的方式大致分為鐓粗、拔長(zhǎng)和滾壓。拔長(zhǎng)是鍛造時(shí)壓力施加于坯料的外圓，形變發(fā)生在長(zhǎng)度方向。滾壓既有縱向形變，又有橫向形變。 為了改善鍛件的組織性能，鍛后需要進(jìn)行正火、退火或調(diào)質(zhì)等熱處理工藝。 ? 鑄錠原材料缺陷主要有：縮孔、疏松、夾雜、白點(diǎn)、裂紋等。 ? 熱處理缺陷主要有：裂紋等。 原材料檢測(cè)和制造過(guò)程中檢測(cè)的目的是及早發(fā)現(xiàn)缺陷，以便及時(shí)采取措施避免缺陷發(fā)展擴(kuò)大造成報(bào)廢。在役檢驗(yàn)的目的是監(jiān)督運(yùn)行后可能產(chǎn)生或發(fā)展的缺陷，主要是疲勞裂紋。 ? ? ，盡可能地檢測(cè)到鍛件的全體積。 ? ? 鍛件進(jìn)行橫波檢測(cè)時(shí)，檢測(cè)方法按 JB/— 2022標(biāo)準(zhǔn)附錄 C（規(guī)范性附錄）的要求進(jìn)行。考慮到缺陷會(huì)有其它的分布及取向，因此軸類(lèi)鍛件檢測(cè)，必要時(shí)還應(yīng)輔以直探頭軸向檢測(cè)和斜探頭周向檢測(cè)及軸向檢測(cè)。 圖 軸類(lèi)鍛件直探頭徑向、軸向檢測(cè) 直探頭作軸向檢測(cè)時(shí)，探頭置于軸的端頭，并在軸端作全面掃查，以檢出與軸線相垂直的橫向缺陷。 ⑵ 斜探頭周向及軸向檢測(cè)：鍛件中若存在片狀軸向（尺寸較小且接近圓周面）及徑向缺陷或軸上有幾個(gè)不同直徑的軸段，用直探頭徑向及軸向檢測(cè)都難以檢出的，則必須使用斜探頭在軸的外圓作周向及軸向檢測(cè)。 長(zhǎng)方體鍛件的鍛造工藝主要是以鐓粗為主，拔長(zhǎng)為輔，缺陷主要平行于鍛件長(zhǎng)的端面。鍛件側(cè)面檢測(cè)為輔，以檢測(cè)與端面垂直的缺陷。 （ a）周向檢測(cè) （ b）軸向檢測(cè) 圖 軸類(lèi)鍛件斜探頭周向、軸向檢測(cè) 圖 長(zhǎng)方體鍛件檢測(cè) 、碗類(lèi)鍛件的檢測(cè) 餅類(lèi)和碗類(lèi)的鍛造工藝主要以鐓粗為主，缺陷的分布主要平行于端面，所以用直探頭在端面檢測(cè)是檢出缺陷的最佳方法。鍛件側(cè)面檢測(cè)為輔，以檢測(cè)與端面垂直的軸向缺陷。 碗類(lèi)鍛件的檢測(cè)，參照餅類(lèi)及長(zhǎng)方體的方法進(jìn)行檢測(cè)。 筒類(lèi)鍛件的鍛造工藝是先鐓粗，后沖壓，再滾壓。但由于鑄錠中質(zhì)量最差的中心部分已被沖孔時(shí)去除。其缺陷的主要取向仍與筒類(lèi)的外圓表面平行，所以筒類(lèi)鍛件的檢測(cè)仍以直探頭外圓面檢測(cè)為主，但對(duì)于筒壁較厚的筒類(lèi)鍛件，須增加斜探頭檢測(cè)。外圓檢測(cè)主要是發(fā)現(xiàn)與軸線平行的周向缺陷。 2）雙晶探頭檢測(cè)：如圖 ，為了檢測(cè)筒體近表面缺陷，需采用雙晶探頭從外圓面或端面檢測(cè)。 軸向檢測(cè)為了發(fā)現(xiàn)與軸線垂直的徑向缺陷 。 ，可參照上述鍛件的檢測(cè)方法進(jìn)行檢測(cè)。 鍛件超聲波檢測(cè)時(shí)，主要使用縱波直探頭，晶片尺寸為Φ14～ Φ25mm，常用 Φ20mm。有時(shí)為了檢測(cè)與檢測(cè)面成一定傾角的缺陷，也可采用一定 K值的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)。 鍛件的晶粒一般比較細(xì)小，因此可選用較高的檢測(cè)頻率，單晶直探頭采用 ～ 5MHz。雙晶探頭的頻率采用 5 MHz。 鍛件檢測(cè)時(shí)，常用機(jī)油、漿糊等作耦合劑，也可采用專(zhuān)用耦合劑。 鍛件檢測(cè)時(shí)，原則上應(yīng)在兩個(gè)相互垂直的檢測(cè)面上進(jìn)行全面掃查。探頭移動(dòng)速度不大于 150mm/s。特別是材質(zhì)衰減嚴(yán)重時(shí)，影響更加明顯。衰減系數(shù)的測(cè)定參照 有關(guān)規(guī)定。 采用 CSⅠ 試塊，其形狀及尺寸應(yīng)符合第 3章圖 ，尺寸應(yīng)符合表 1的規(guī)定。 b) CSⅡ 試塊的形狀及尺寸應(yīng)符合圖 ，尺寸符合表 2的規(guī)定。 表 2 CSⅡ 標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸 mm 試塊序號(hào) 孔徑 檢測(cè)距離 L 1 2 3 4 5 6 7 8 9 CSⅡ 1 Φ2 5 10 15 20 25 30 35 40 45 CSⅡ 2 Φ3 CSⅡ 3 Φ4 CSⅡ 4 Φ6 鍛件超聲波檢測(cè)應(yīng)在熱處理后進(jìn)行，因?yàn)闊崽幚砜梢约?xì)化晶粒，減少衰減。 對(duì)于帶孔、槽和臺(tái)階的鍛件，超聲波檢測(cè)應(yīng)在孔、槽、臺(tái)階加工前進(jìn)行。 當(dāng)熱處理后材質(zhì)衰減仍較大且對(duì)于檢測(cè)結(jié)果有較大影響時(shí)，應(yīng)重新進(jìn)行熱處理。 ⒉掃描速度的調(diào)節(jié)可在試塊上進(jìn)行，也可在鍛件上尺寸已知的部位上進(jìn)行，在試塊上調(diào)節(jié)掃描速度時(shí)，試塊的材質(zhì)應(yīng)與工件相同或聲學(xué)性能相近。注意，不能利用一次反射波與始波進(jìn)行掃描速度的調(diào)節(jié)。 ⒋鍛件檢測(cè)一般情況下是采用縱波進(jìn)行檢測(cè)，因此掃描速度以縱波聲程按 1： n的比例進(jìn)行調(diào)節(jié)。 ⒉掃描速度的調(diào)節(jié)可在試塊上進(jìn)行，也可在鍛件上尺寸已知的部位上進(jìn)行，在試塊上調(diào)節(jié)掃描速度時(shí)，試塊的材質(zhì)應(yīng)與工件相同或聲學(xué)性能相近。注意，不能利用一次反射波與始波進(jìn)行掃描速度的調(diào)節(jié)。 ⒋鍛件檢測(cè)一般情況下是采用縱波進(jìn)行檢測(cè)，因此掃描速度以縱波聲程按 1： n的比例進(jìn)行調(diào)節(jié)。 或根據(jù)顯示屏的范圍進(jìn)行比例，顯示屏的范圍為 100，則：100:200=1:2 , 即檢測(cè)此工件的掃描比例為 1:2 注意：掃描比例選擇時(shí)，是根據(jù)被檢工件的厚度且保證底波在顯示屏范圍內(nèi)進(jìn)行確定。 τ:100=1:2； τ =50，即 B1波在顯示屏 50的位置，同理 B2波在 100的位置。 鍛件檢測(cè)靈敏度是由鍛件技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)確定的。 調(diào)節(jié)鍛件檢測(cè)靈敏度的方法有兩種，一種是波高比較法來(lái)調(diào)節(jié)，另一種是曲線比較法來(lái)調(diào)節(jié)。 底波調(diào)節(jié)首先要計(jì)算或查 AVG曲線求得底面反射波與某平底孔反射波的分貝差，然后再進(jìn)行調(diào)節(jié)。 對(duì)于空心圓柱體，同距離處圓柱曲底面與平底孔反射波的 分貝差為：