【正文】 時，是根據(jù)被檢工件的厚度且保證底波在顯示屏范圍內(nèi)進行確定。 2）具體調(diào)節(jié)的方法步驟： 可利用 Ⅰ A試塊尺寸為 100mm進行調(diào)節(jié)， a確定 B１、Ｂ２波的位置。 τ:100=1:2； τ =50，即 B1波在顯示屏 50的位置，同理 B2波在 100的位置。 b、校準(zhǔn)： 調(diào)節(jié)時將直探頭對準(zhǔn) Ⅰ A試塊上厚度為 100mm的底面，調(diào)節(jié)儀器上的相關(guān)旋鈕將 B１、Ｂ２的前沿同時分別對準(zhǔn)顯示屏上水平刻度值 50、 100，此時，時基掃描線的比例正好為 1:2。 鍛件檢測靈敏度是由鍛件技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)確定的。一般不低于 Φ2平底孔當(dāng)量直徑。 調(diào)節(jié)鍛件檢測靈敏度的方法有兩種，一種是波高比較法來調(diào)節(jié)，另一種是曲線比較法來調(diào)節(jié)。 有底波調(diào)節(jié)法與試塊調(diào)節(jié)法兩種 1）底波調(diào)節(jié)法 當(dāng)鍛件被檢部位厚度 ≥，且鍛件具有平行底面或圓柱曲面時，常用底波來調(diào)節(jié)檢測靈敏度。 底波調(diào)節(jié)首先要計算或查 AVG曲線求得底面反射波與某平底孔反射波的分貝差，然后再進行調(diào)節(jié)。 a)計算：對于平底面或?qū)嵭膱A柱體底面，同距離處底波與平底孔反射波的分貝差為： （ ） 式中 — 波長； — 被檢部位的厚度； — 平底孔直徑。 對于空心圓柱體，同距離處圓柱曲底面與平底孔反射波的 分貝差為： （ ） 式中 — 空心圓柱體內(nèi)徑； — 空心圓柱體外徑； “ +”— 外圓徑向檢測，內(nèi)孔凸柱面反射； “ ”— 內(nèi)孔徑向檢測，外圓凹柱面反射。 b)調(diào)節(jié)：探頭對準(zhǔn)工件完好區(qū)的底面，找到反射回波，在保證衰減器有效儲存（ +5～ 10） dB及以上時，調(diào)“增益”使底波 B1達基準(zhǔn)波高，然后用“衰減器”增益 Δ dB，這時靈敏度就調(diào)節(jié)完成。實際檢測時為了便于發(fā)現(xiàn)缺陷可再增益 5～ 10dB作為檢測靈敏度，即掃查靈敏度。 例 1，用 Φ500mm的實心圓柱體鍛件，CL=5900m/s，問如何利用底波調(diào)節(jié) 500/Φ2靈敏度？ 解：由題意得： ①計算： 500mm處底波與 Φ2平底孔反射波分貝差為： 2調(diào)節(jié)：探頭對準(zhǔn)工件完好區(qū)圓柱底面，找出反射回波，在保證衰減器有效儲存量后，用“衰減器”衰減 55dB，調(diào)“增益或衰減器”使底波 B1達基準(zhǔn) 50％高，然后用“衰減器”增益 46dB，這時 Φ2靈敏度就調(diào)節(jié)好了。 例 2，用 Φ1000mm，內(nèi)徑為Φ100mm的空心圓柱體鍛件， CL=5900m/s，問如何利用內(nèi)孔回波調(diào)節(jié) 450/Φ2靈敏度？ 解：由題意得： ①計算： 450mm處內(nèi)孔反射波與 Φ2平底孔反射波分貝差為： 2調(diào)節(jié)：探頭對準(zhǔn)完好的內(nèi)孔表面，找出反射反射波，用“衰減器”衰減 45dB，調(diào)“增益”使底波 B1達基準(zhǔn) 50％高，然后用“衰減器”增益 35dB作為檢測靈敏度，此時，450/Φ2的檢測靈敏度的調(diào)節(jié)就完成了。必要時再增益 6dB作為掃查靈敏度。 注意：采用底波法（計算法）調(diào)節(jié)靈敏度時，因在工件上進行調(diào)節(jié)且平底孔與工件底面的聲程相同，所以不用考慮材質(zhì)衰減差。靈敏度調(diào)節(jié)與實際掃查在同一面上，因此不用考慮表面耦合補償。 2）試塊調(diào)節(jié)法 單直探頭檢測：當(dāng)鍛件的厚度 ＜ 或由于幾何形狀所限或底面粗糙時，應(yīng)利用具有人工反射體的試塊來調(diào)節(jié)檢測靈敏度，如 CSⅠ 系列試塊。調(diào)節(jié)時將探頭對準(zhǔn)所需試塊的平底孔，調(diào)“增益”使平底孔反射波達基準(zhǔn)高即可。 值得注意的是，當(dāng)試塊表面形狀、粗糙度與鍛件不同時，要進行耦合補償。當(dāng)試塊與工件的材質(zhì)衰減相差較大時，還要考慮介質(zhì)衰減補償。 例 1，用 50mm的小鍛件，采用CSⅠ 系列試塊調(diào)節(jié) 50/Φ2靈敏度，試塊與鍛件表面耦合差3dB，問如何調(diào)節(jié)靈敏度？ 解：利用 CSⅠ 系列試塊調(diào)節(jié)靈敏度的方法如下： 將探頭對準(zhǔn) CSⅠ 1試塊 Φ2平底孔距離為 50mm，衰減 10dB，調(diào)“增益”使 Φ2回波達 50％高 (或用“衰減器”將 Φ2平底孔反射反射波調(diào)至滿顯示屏的 50%左右，再用“增益”將回波調(diào)至 50%高。注意：此時儀器有效靈敏度余量必須儲存 3dB＋ 10dB以上余量 )，然后再用“衰減器”增益 3dB，這時50/Φ2靈敏度就調(diào)節(jié)好了。 例 2，用 ，厚度為 400mm的鍛件，問如何利用 100/Φ4平底孔試塊調(diào)節(jié) 400/Φ2靈敏度？試塊與工件表面耦合差 6dB。 解：①計算： 100/Φ4與 400/Φ2回波分貝差： ② 調(diào)節(jié)：探頭對準(zhǔn) 100/Φ4平底孔，找到最高回波后，衰減50dB，調(diào)“增益”使 Φ4平底孔反射波達基準(zhǔn)高 (50%)，然后用“衰減器”增益 42dB，這時 400/Φ2靈敏度就調(diào)節(jié)好了。這時工件上 400/Φ2平底孔缺陷反射波正好達基準(zhǔn)高 50％。 2．曲線比較法 雙晶直探頭檢測：采用雙晶直探頭檢測時，應(yīng)用數(shù)字式儀器，根據(jù)圖 。先根據(jù)需要選擇相應(yīng)的平底孔試塊，并測試一組距離不同直徑相同的平底孔的反射波，使其每個孔的最高反射波達基準(zhǔn)波高，確認后記錄相應(yīng)的讀數(shù)值，所有孔測試完畢后進行最終確認，從而得到一條平底孔距離 —— 波幅 (dB)曲線。并以此方法測出其它孔徑的曲線，從而得到一組平底孔的距離 —— 波幅 (dB)曲線并以此作為靈敏度校核及工件的檢測靈敏度。 注意： 1)采用試塊法調(diào)節(jié)檢測靈敏度時，應(yīng)保證試塊的材質(zhì)與被檢工件的材質(zhì)相同或聲學(xué)性能相近。 2)試塊與被檢工件表面狀態(tài)不同時，應(yīng)進行表面狀態(tài)耦合損失的測定，在試塊上調(diào)節(jié)靈敏度后，將表面耦合損失補償后再進行工件的超聲波檢測。 3)當(dāng)工件的反射面粗造或與粘有其它油性物質(zhì)時，應(yīng)將工件反射面進行清洗或修理，以避免聲波在此面上的反射損失。否則應(yīng)進行反射損失的測定，并在實際檢測中進行補償。 4)使用模擬式儀器進行雙晶直探頭檢測時，其距離 —— 波幅曲線的繪制可采用面板曲線或 dB曲線進行。 ，主要采用縱波直探頭進行檢測，因此可根據(jù)顯示屏上缺陷波前沿所對的水平刻度值 和掃描速度 1： n來確定缺陷在鍛件中的位置。缺陷至探頭的距離（缺陷的埋藏藏深度） 為： （ ） ： a）若缺陷的尺寸小于聲束的截面尺寸，則缺陷在探頭所在位置往下距離即為缺陷的位置。 b）若缺陷的尺寸大于聲束的截面尺寸，則以缺陷的最高波為準(zhǔn)，以 6dB法（半波高度法）確定缺陷的邊界點測出缺陷的指示面積。 在鍛件檢測中，對于尺寸小于聲束截面的缺陷一般采用當(dāng)量法定量。若缺陷位于 ≥ 區(qū)域內(nèi)時，常用當(dāng)量計算法和當(dāng)量 AVG曲線法確定缺陷的當(dāng)量大??；若缺陷位于 ＜ 區(qū)域內(nèi)時，常用試塊比較法或?qū)崪y AVG曲線法確定缺陷的當(dāng)量大小。對于尺寸大于聲束截面的缺陷一般采用測長法確定缺陷的指示面積，常用的測長法有 6dB法和端點 6dB法。必要時還可采用底波高度法來確定缺陷的相對大小。下面重點介紹當(dāng)量計算法和 6dB法在鍛件檢測中的應(yīng)用。 （適用于尺寸小于聲束截面的缺陷） 當(dāng)量計算法是利用各種規(guī)則反射體的反射波聲壓公式和實際檢測中測得的結(jié)果（缺陷的位置和波高）來計算缺陷的當(dāng)量大小。當(dāng)量計算法是目前鍛件檢測中應(yīng)用最廣的一種定量方法。用當(dāng)量計算法定量時，要考慮調(diào)節(jié)檢測靈敏度的基準(zhǔn)。 當(dāng)用平底面的和實心圓柱體曲底面調(diào)節(jié)靈敏度時，不同距離處的大平底與平底孔回波分貝差為： （ ） 式中 — 平底孔缺陷至檢測面的距離； ≥ — 鍛件底面至檢測面的距離； — 材質(zhì)衰減系數(shù)； λ— 波長； — 平底孔缺陷的當(dāng)量直徑； — 底波與平底孔缺陷的反射波分貝差。 不同平底孔回波分貝差為 （ ） 式中 — 平底孔 2的 dB差； 、 — 平底孔 2的當(dāng)量直徑； 、 — 平底孔 2的距離。 當(dāng)用空心圓柱體內(nèi)孔或外圓曲底面調(diào)節(jié)靈敏度時， 當(dāng)量計算公式為： （ ） 式中 — 空心圓柱體的內(nèi)徑； — 空心圓柱體的外徑； “ +”— 外圓徑向檢測，內(nèi)孔凸柱面反射； “ ”— 內(nèi)孔徑向檢測，外圓凹柱面反射； — 圓柱曲底面與平底孔缺陷的回波分貝差。 例 1，用 Φ600的實心圓柱體鍛件， CL=5900m/s， α=。利用鍛件底波調(diào)節(jié) 600/Φ2靈敏度，底波達基準(zhǔn)高時衰減讀數(shù)為 50dB，檢測中在400mm處發(fā)現(xiàn)一缺陷，缺陷波達基準(zhǔn)高時衰減器讀數(shù)為30dB，求此缺陷的當(dāng)量平底孔直徑為多少？ 解：由題意得： ， =D2/4λ=202/4 =(mm) = =127(mm)≤400(mm)，可進行計算； ，代入公式得： = =； = ∴ 答：此缺陷的當(dāng)量平底孔直徑為 。 例 2，用 Φ1000mm，內(nèi)徑為 Φ100mm的空心圓柱體鍛件， CL=5900m/s， α=，檢測中在 200mm處發(fā)現(xiàn)一缺陷，其反射波比內(nèi)孔反射波低 12dB，求此缺陷的當(dāng)量大?。? 解：由題意得： , =D2/4λ=202/4 =(mm) = =127(mm)≤200(mm)，可進