x射線衍射儀與能譜儀綜合介紹-在線瀏覽
2025-06-13 13:10本頁面
【正文】 整機(jī)功率： 40W ? 重量： ? 測量對象：塊狀固體、液體、固體粉末 ? X射線輻射劑量 1μSv/h ? 重復(fù)性： RSD4％ XRF7－應(yīng)用領(lǐng)域 ? RoHS指令電子信息產(chǎn)品有害物質(zhì)檢測 ? 環(huán)境保護(hù)行業(yè)（自來水、污水污泥等） ? 農(nóng)業(yè)（土壤中元素的快速測定） ? 地礦、冶金 ? 合金回收 ? 考古以及材料行業(yè) ? 輕工、食品 XRF8 －全反射 X射線熒光能譜儀 全反射 X射線能譜 ? 儀器的特點(diǎn)－與傳統(tǒng) X射線能譜儀的區(qū)別 全反射 X射線能譜 ? 全反射 X射線能譜分析圖譜示意 全反射 X射線能譜 ? 全反射 X射線能譜分析圖譜示意 全反射 X射線能譜 ? 技術(shù)指標(biāo) ? 多元素同時(shí)分析 ? 從 11號元素 Na到 92號元素 U，一次同時(shí)分析近 30種元素； ? 檢出限低 ? 最低絕對檢出限： ng～ pg級（ 10－ 9 ～ 10－ 11 g ） ； ? 最低相對檢出限： ppb級； ? 樣品用量少 ? 可對固體、粉末、液體、懸浮物、過濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進(jìn)行定性、定量分析，樣品用量 μ L、 μ g級； ? 測量時(shí)間短 ? 30秒～ 600秒 ? 前處理簡單，直接測量 ? 粉末樣品、懸浮液樣品等有平面的樣品都可直接進(jìn)行分析； ? 使用功率小于 ，安全可靠。 因?yàn)槊糠N元素原子的電子能級是特征的，它受到激發(fā)時(shí)產(chǎn)生的 X熒光也是特征的。 X射線 X射線與物質(zhì)的相互作用 北京普析 X射線分析儀器 ? 兩大類： ? X射線衍射儀 ? 多晶： XD XD XD6 ? 單晶：無 ? X射線熒光分析儀 ? 能譜色散： XRF XRF XRF9 ? 波長色散：無 X射線能譜儀產(chǎn)品系列 XRF9 XRF8 ?XRF7便攜能量色散 X射線熒光分析儀 ?XRF9能量色散 X射線熒光分析儀 ?XRF8全反射 X射線熒光分析儀 XRF7 X射線熒光激發(fā)原理 X射線熒光激發(fā)原理 ? 基本原理： 原 子在受到 X射線源照射作用時(shí)，某層軌道上飛行的電子如果被 X射線束打中，該電子會(huì)向更低能級軌道發(fā)生躍遷，能級差造成的多余能量被釋放出來，以電磁波的形式發(fā)出。 X射線的頻率大約是可見光的 103倍 ，所以它的光子能量比可見光的光子能量大得多 ， 表現(xiàn)出明顯的粒子性 。X射線熒光與衍射分析儀器技術(shù) 北京普析通用儀器有限責(zé)任公司 提綱 ?X射線原理 ?儀器分類 ?能譜儀技術(shù)應(yīng)用介紹 ?衍射儀技術(shù)應(yīng)用介紹 X射線 1895年倫琴發(fā)現(xiàn) X射線 。 X射線和可見光一樣屬于電磁輻射 ， 但其波長比可見光短得多 ， 介于紫外線與射線之間 ， 約為 10– 2到102埃的范圍 。 由于 X射線具有波長短光子能量大這個(gè)基本特性 ， 所以 ， X射線光學(xué) (幾何光學(xué)和物理光學(xué) ) 雖然具有和普通光學(xué)一樣的理論基礎(chǔ) ， 但兩者的性質(zhì)卻有很大的區(qū)別 ， X射線與物質(zhì)相互作用時(shí)產(chǎn)生的效應(yīng)和可見光迥然不同 。而這一高頻電磁波的頻率同樣在X波段上，因此它也是一種 X射線，稱 X熒光。 探測器根據(jù)不同能量特征對所有收集的 X熒光能量譜線進(jìn)行甄別，并根據(jù)熒光強(qiáng)度大小進(jìn)行定量，這就是能譜儀分析的主要理論依據(jù)。 全反射 X射線能譜 ? 分析應(yīng)用的特點(diǎn)－粉末樣品制備與測試 混合均勻的粉末樣品（懸浮質(zhì)、土壤、礦物、金屬、色素、生化樣品，等等），可以把樣品直接放在樣品架上直接測量。g ）的樣品到樣品架上。 粉末樣品也可以使用揮發(fā)性溶劑如丙酮或甲醇制成懸浮液，懸浮液用移液管轉(zhuǎn)移到樣品架上，還可以使用微波消解的辦法 。液體樣品必須制備在能全反射 X射線的樣品架上。使用微量移液管轉(zhuǎn)移幾微升（ 181。如果是由不規(guī)則固體樣品轉(zhuǎn)換制備的液體樣品，前處理過程必須確保樣品的代表性以保證結(jié)果準(zhǔn)確。 序排列 晶胞：重復(fù)排列的最
教學(xué)課件相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號-1