陣列感應(yīng)資料處理培訓(xùn)-在線瀏覽
2025-03-02 13:40本頁面
【正文】 σ xo=,ri=) 深度響應(yīng)電導(dǎo)率(s/m)6H9H12H12M15H15M21M21L27M27L39M39L72M72L低侵地層響應(yīng)（ σ m=2s/m,8inch, σ t=, σ sh=， σ xo=，ri=) 深度響應(yīng)電導(dǎo)率(s/m)6H9H12H12M15H15M21M21L27M27L39M39L72M72L ? 一 . MIT5530儀器結(jié)構(gòu)及技術(shù)指標(biāo) ? 二 . MIT5530儀器原始曲線質(zhì)量控制 ? 三 . MIT5530測井不合格原始曲線 ? 四 . MIT5530儀器影響因素及處理流程 ? 五 . MIT5530資料處理質(zhì)量控制 MIT5530常見問題： ?原始曲線缺失字符 ?未安裝間隔器 ?儀器預(yù)熱不足 ?刻度文件加載錯誤 ?測井遇卡 ?硬件故障 名稱 說明 名稱 說明 A6HR 6號線圈測量高頻實(shí)部信號 A6HX 6號線圈測量高頻虛部信號 A9HR 9號線圈測量高頻實(shí)部信號 A9HX 9號線圈測量高頻虛部信號 A12HR 12號線圈測量高頻實(shí)部信號 A12HX 12號線圈測量高頻虛部信號 A12MR 12號線圈測量中頻實(shí)部信號 A12MX 12號線圈測量中頻虛部信號 A15HR 15號線圈測量高頻實(shí)部信號 A15HX 15號線圈測量高頻虛部信號 A15MR 15號線圈測量中頻實(shí)部信號 A15MX 15號線圈測量中頻虛部信號 A21MR 21號線圈測量中頻實(shí)部信號 A21MX 21號線圈測量中頻虛部信號 A21LR 21號線圈測量低頻實(shí)部信號 A21LX 21號線圈測量低頻虛部信號 A27MR 27號線圈測量中頻實(shí)部信號 A27MX 27號線圈測量中頻虛部信號 A27LR 27號線圈測量低頻實(shí)部信號 A27LX 27號線圈測量低頻虛部信號 A39MR 39號線圈測量中頻實(shí)部信號 A39MX 39號線圈測量中頻虛部信號 A39LR 39號線圈測量低頻實(shí)部信號 A39LX 39號線圈測量低頻虛部信號 A72MR 72號線圈測量中頻實(shí)部信號 A72MX 72號線圈測量中頻虛部信號 A72LR 72號線圈測量低頻實(shí)部信號 A72LX 72號線圈測量低頻虛部信號 MIT5530陣列感應(yīng)曲線命名規(guī)范 MIT5530陣列感應(yīng)不同扶正器方案測試 MIT5530陣列感應(yīng)不同扶正器對短陣列影響 ? 一 . MIT5530儀器結(jié)構(gòu)及技術(shù)指標(biāo) ? 二 . MIT5530儀器原始曲線質(zhì)量控制 ? 三 . MIT5530測井不合格原始曲線 ? 四 . MIT5530儀器影響因素及處理流程 ? 五 . MIT5530資料處理質(zhì)量控制 ? MIT5530測井影響因素 : ? 溫度影響 ? 井眼影響 ? 趨膚效應(yīng) ? 圍巖影響 ? 原因 : 溫度的變化會導(dǎo)致三線圈系的距離發(fā)生微變，產(chǎn)生直耦（無用信號）變化。 溫度影響 1 儀器 1 線圈系所有道升溫變化總圖( 實(shí)部：第3 次加溫)1008060402002020 30 40 50 60 70 80 90 100 110 120 130溫度( ℃)值(mS)27MR_up72LR_up27
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