陣列感應資料處理培訓(參考版)
2025-01-16 13:40本頁面
【正文】 此現(xiàn)象為校正不當，需要適當調(diào)整處理參數(shù)。 這是由于其分辨率差異導致 。即合成淺探測曲線分辨率高 ， 合成深探測分辨率低 。用合成濾波庫來約束、提取實測信號，進行加權(quán)組合，形成 5條不同探測深度不同分辨率曲線 ? 輸入數(shù)據(jù)： A6HR_EC、 A9HR_EC… ? 輸出數(shù)據(jù)： T T T T60、 T90 ? 分辨率匹配 ? 在原始信號和真分辨率處理結(jié)果的基礎上，針對不同縱向分辨率需求，從對應的測量信號中提取分辨率信息，對真分辨率曲線進行分辨率信息補償和消除，得到需要的縱向分辨率曲線 ? 輸入數(shù)據(jù)： T T T T60、 T90 ? 輸出數(shù)據(jù)： ?一英尺匹配 AO AO AO AO60、 AO90 ?二英尺匹配 AT AT AT AT60、 AT90 ?四英尺匹配 AF AF AF AF60、 AF90 ?反演 ? 利用陣列感應提供的豐富數(shù)據(jù)，用二維幾何因子理論方法和數(shù)值模式匹配法對陣列感應測井數(shù)據(jù)進行了反演計算，迭代求出地層真電阻率等參數(shù) ? 輸入數(shù)據(jù)：真分辨率計算結(jié)果或者分辨率匹配結(jié)果 ? 輸出數(shù)據(jù)： ZRT、 ZRXO、 ZID ZID ZID3 MIT5530反演 ? 一 . MIT5530儀器結(jié)構(gòu)及技術(shù)指標 ? 二 . MIT5530儀器原始曲線質(zhì)量控制 ? 三 . MIT5530測井不合格原始曲線 ? 四 . MIT5530儀器影響因素及處理流程 ? 五 . MIT5530資料處理質(zhì)量控制 處理環(huán)節(jié)質(zhì)量控制 處理環(huán)節(jié)質(zhì)量控制主要是判定處理過程中參數(shù)選取是否合適 ， 井段的選擇應以井眼相對規(guī)則的大段泥巖段作為判斷點 ， 結(jié)合滲透層曲線進行綜合判斷；處理效果可以通過井眼校正曲線和真分辨率聚焦曲線來綜合判定 。 ? 測量信號的探測深度與分辨率之間是矛盾的，探測深度深必定分辨率低，探測深度淺則分辨率高。首先是滿足物理條件的真分辨率合成，不同探測深度合成出相應分辨率的曲線。將實際測量地層信號與計算的地層響應庫進行匹配，獲得相應的無井眼情況地層響應 MIT5530井眼校正 ? 合成處理 ? 陣列感應測井儀器的測井信號經(jīng)過井眼校正得到八組線圈系的 28條虛實信號，合成處理的目的就是將這些信號合成為測井分析家所需的信號。 ? 解決措施：真分辨率聚焦及分辨率匹配 圍巖影響 深度 =, 分辨率 = 深度 =, 分辨率 = 深度 =, 分辨率 = 深度 =, 分辨率 = 深度 =, 分辨率 = MIT5530資料處理流程 預處理：對陣列感應原始數(shù)據(jù)進行數(shù)據(jù)單位和采樣間隔轉(zhuǎn)換 等操作，保證輸入數(shù)據(jù)統(tǒng)一規(guī)范。 ? 解決措施：獲取線圈系溫度變化圖版，進行溫度校正 。在判斷原始曲線關(guān)系時，應選擇典型厚層進行曲線關(guān)系分析，如果與理論圖版相符，即儀器工作狀態(tài)正常。 原始曲線合理性判定： MIT5530原始曲線在典型地層情況下應符合理論響應。且QC曲線無突變。 ?MIT5530陣列感應儀器適用最佳井眼條件：鉆頭直徑在 6”（ 150cm） 12”(300cm)， 當井眼尺寸大于 12”時 ， 合成的誤差可能較大 。 2% 縱向分辨率： 30cm、 60cm、 120cm 探測深度： 25cm、 50cm、 75cm、 150cm、 225cm MIT5530陣列感應儀器適應范圍 MIT55305530短陣列測量誤差較大 ?M
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