【正文】 終作用在每一個零件上 ， 隨著時間的推移分布改變 。 ? 當過程存在變差的特殊原因時，這時輸出的產(chǎn)品特性不穩(wěn)定，過程處于非受控狀態(tài)或不穩(wěn)定狀態(tài) 。 滿足要求 受控 不受控 可接受 1類 3類 不可接受 2類 4類 10 如果僅存在變差的普通原因，隨著時間的推移，過程的輸出形成一個穩(wěn)定的分布并可預測。 預測 預測 時間 時間 范圍 范圍 目標值線 11 受控且有能力符合規(guī)范 （普通原因造成的變差已減少） 規(guī)范下限 規(guī)范上限 時間 范圍 受控但沒有能力符合規(guī)范 （普通原因造成的變差太大） 過程能力 12 持續(xù)改進及統(tǒng)計過程控制概述之六 過程改進循環(huán)及過程控制 PLAN DO STUDY ACT PLAN DO STUDY ACT PLAN DO STUDY ACT 1一、分析過程 ? 本過程應做些什么 ? 會出現(xiàn)什么錯誤 ? 達到統(tǒng)計控制狀態(tài) ? 確定能力 2二、維護過程 ? 監(jiān)控過程性能 ? 查找偏差的特殊 原因并采取措施 3三、改進過程 ? 改變過程從而更好理解普通原因變差 ? 減少普通原因變差 13 上控制限 中心限 下控制限 收集 收集數(shù)據(jù)并畫在圖上 控制 根據(jù)過程數(shù)據(jù)計算實驗控制限 識別變差的特殊原因并采取措施 分析及改進 確定普通原因變差的大小并采取減小它的措施 重復這三個階段從而不斷改進過程 持續(xù)改進及統(tǒng)計過程控制概述之七 控制圖：過程控制工具 14 持續(xù)改進及統(tǒng)計過程控制概述之八 控制圖的益處 合理使用控制圖能 : ? 供正在進行過程控制的操作者使用 。 ? 提高產(chǎn)品質量、生產(chǎn)能力、降低成本 。 ? 區(qū)分變差的特殊原因和普通原因，作為采取局部措施或采取系統(tǒng)措施的指南。 英、美等國開始著手研究用統(tǒng)計方法代替事后檢驗的質量控制方法。 ? 控制圖 (Control Chart)：對過程質量特性記錄評估，以監(jiān)察過程是否處于受控狀態(tài)的一種統(tǒng)計方法圖。 ? 產(chǎn)品質量特征值落在 [? 3 ? ， ? +3 ? ]之外的概率為 %，其中單側的概率分別為 %。 17 控制圖原理 控制圖的形成： ? 將正態(tài)分布圖按逆時針方向旋轉 90176。圖中 UCL= ? +3?為上控制限， CL= ?為中心線， LCL= ? 3?為下控制限。 b. 子組頻率 ? 在過程的初期研究中，通常是連續(xù)進行分組或很短的時間間隔進行分組 ? 過程穩(wěn)定后，子組間的時間間隔可以增加。子組容量 A2 D3 D4 2 1 . 8 8 * 3 . 2 7 3 1 . 0 2 * 2 . 5 7 4 . 7 3 * 2 . 2 8 5 . 5 8 * 2 . 1 1 6 . 4 8 * 2 . 0 0 7 . 4 2 . 0 8 1 . 9 2 8 . 3 7 . 1 4 1 . 8 6 9 . 3 4 . 1 8 1 . 8 2 1 0 . 3 1 . 2 2 1 . 7 8對特殊原因采取措施的說明? 任何超出控制限的點? 連續(xù)7 點全在中心線之上或之下? 連續(xù)7 點上升或下降? 任何其它明顯非隨機的圖形采取措施的說明1 不要對過程做不必要的改變2 在此表后注明在過程因素（人員、設備、材料、方法、環(huán)境或測量系統(tǒng)）所做的調整。 Xbar和 R的值為縱坐標，按時間先后的子組為橫坐標。 數(shù)據(jù)欄應包括每個讀數(shù)的空間。 25 A3計算每個子組的極差和均值 畫在控制圖上的特性量是每個子組的樣本均值（ Xbar）和樣本極差（ R），合在一起后它們分別反映整個過程的均值及其變差。 n為子組的樣本容量。子組容量 A2 D3 D4 2 1 . 8 8 * 3 . 2 7 3 1 . 0 2 * 2 . 5 7 4 . 7 3 * 2 . 2 8 5 . 5 8 * 2 . 1 1 6 . 4 8 * 2 . 0 0 7 . 4 2 . 0 8 1 . 9 2 8 . 3 7 . 1 4 1 . 8 6 9 . 3 4 . 1 8 1 . 8 2 1 0 . 3 1 . 2 2 1 . 7 8對特殊原因采取措施的說明? 任何超出控制限的點? 連續(xù)7 點全在中心線之上或之下? 連續(xù)7 點上升或下降? 任何其它明顯非隨機的圖形采取措施的說明1 不要對過程做不必要的改變2 在此表后注明在過程因素（人員、設備、材料、方法、環(huán)境或測量系統(tǒng)）所做的調整。 Xbar圖：坐標上的刻度值的最大值與最小值之差應至少為子組均值（ Xbar）的最大值與最小值差的 2倍。 28 12345和數(shù)讀日期時間在確定過程能力之前，過程必須受控。X=讀數(shù)數(shù)量和R = 最高 最低R =均 值R = UC L= D4R = L CL =D3R = *X =均 值X = U C L= X+ A2R = LC L =X A2R=極差（R 圖）均值（X 圖）工廠： X XX機器編號： X XX部門： X XX日期： 6 /8 6 /1 6工序： 彎曲夾片特性： 間隙、尺寸“A ”計算控制限日期 工程規(guī)范： . 50 —.9 0m m樣本容量/ 頻率: 5 /2 h零件號： X XX零件名稱： X XX* 樣本容量小于7時 ，沒有極差的下控制限X R 控 制 圖 初始研究A 4 步驟6 88. 6 5. 7 0. 6 5. 6 5. 8 53 . 5 0. 7 0. 2 0. 7 5 . 7 5. 8 5. 7 5. 8 5. 6 53 . 8 5. 7 7. 2 0. 8 0. 8 0. 7 0. 7 53 . 8 0. 6 0. 7 0. 7 0. 7 5. 6 53 . 4 0. 7 6 . 6 8. 1 0 . 1 5. 0 0. 1 0. 2 0. 3 0. 4 0. 5 0. 5 0. 5 5. 6 0. 6 5. 7 0. 7 5. 8 0. 8 5. 9 0. 9 510 12 146 98 10 12 146 1 08. 7 0. 7 5. 6 5. 8 5. 8 03 . 7 5. 7 5. 2 0. 6 0. 7 5. 7 5. 8 5. 7 03 . 6 5. 7 3. 2 5. 7 5. 8 0. 6 5. 7 5. 7 03 . 6 5. 7 3. 1 5. 6 0. 7 0. 8 0. 7 5. 7 53 . 6 0. 7 2. 2 0. 6 5. 8 0. 8 5. 8 5. 7 53 . 9 0. 7 8. 2 010 12 14. 6 0. 7 0. 6 0. 8 0. 6 53 . 3 5. 6 7. 2 0. 8 0. 7 5. 9 0. 5 0. 8 03 . 7 5. 7 5. 4 06 1 18. 8 5. 7 5. 8 5. 6 5. 7 03 . 8 0. 7 6. 2 0. 7 0. 7 0. 7 5. 7 5. 7 03 . 6 0. 7 2. 0 510. 6 5