spc控制圖速成教材-在線瀏覽
2024-10-24 12:18本頁(yè)面
【正文】 k值 本例： TL=1253， Tμ =1783，則 M=1/2[1253+1783]=， T=Tμ TL=530 ????? ff121 XXXX 或)fXX(f1S)X(X21S 222n 1i2 ????? ? 或1 5 0 0. 5] 3 3 7. [100 1X : ???????? ??本例 X fXf1f ) X(X f1S 2222 ??????方差9)(41 5 0 0 . 5 )( 1 2 8 7 . 5[1001 22 ?????]1)(31 5 0 0 . 5 )( 1 7 3 7 . 5 22 ??????? ? 1 11 3 6 6 5S ??1 5 0 0 . 5 μ? ,μ X , 1 1 6 . 9σ? σ,S ?? 估計(jì)用估計(jì)用0 . 7 0 5 5 0 4 7S3 TXC ,M μ? Lpk ????? 于是由于481016 161510973104812162024 TL Tμ f X 8 表 3 頻數(shù)分布數(shù) 組號(hào) 組距界線值 頻數(shù) f 中間值 X 1 ～ 4 1 ～ 9 3 ～ 10 4 ～ 16 5 ～ 16 6 ～ 15 7 ～ 10 8 ～ 9 9 ～ 7 10 ～ 3 11 ～ 1 四、 圖圖與 SXRX ?? [例 2] 某種線圈的陰抗值 X 可認(rèn)為服從正態(tài)分布，工序能力等級(jí)達(dá)到二級(jí)以上，試?yán)L制計(jì)量值控制圖。 本例：每日定點(diǎn)抽樣一次，每次抽取 n=5 個(gè)產(chǎn)品，得到 5 個(gè)數(shù)據(jù)，詳見表 4，共抽取 N=20 個(gè)樣本。 Rt=max{Xt1， Xt2， Xt3， Xt4， Xt5}min{ Xt1， Xt2， Xt3， Xt4， Xt5} 如 t=1， 詳見表 4， X~ 為中位數(shù)，省略，當(dāng)樣本容量 n 不超過(guò) 30 時(shí)，稱 為小樣本，此時(shí)計(jì)算樣本方差 S2，要用 n1除，作用是保證樣本方差 S2估計(jì)總體方差 S2 具有無(wú)偏性。 表 5 控制圖的系數(shù)值表 N 2 3 4 5 6 7 8 9 10 A1 B1 C2 D1 五、控制圖的觀察與分析 控制圖用于對(duì)生產(chǎn)現(xiàn)狀的分析，對(duì)于工序狀態(tài)是否處于控制狀態(tài)的判斷，是根據(jù)控制圖上的樣本點(diǎn)子分布的規(guī)律作出。工序處于控制狀態(tài)時(shí)，控制圖上的點(diǎn)子隨機(jī)地分散在中心線的兩側(cè)，離開中心線而接近上、下控制界限的點(diǎn)子少，越出界限的點(diǎn)子更小。 如果點(diǎn)子落在控制界限外，或者是點(diǎn)子雖然沒能越出控制界外，但其排列存在下面一川缺陷情況，則認(rèn)為生產(chǎn)過(guò)程發(fā)生了異常變化，或者說(shuō)工序已處于異常狀態(tài)。點(diǎn)子在控制界限內(nèi)的缺陷分下述 4 種情況。 有鏈狀的控制圖 點(diǎn)子靠近控制線 若點(diǎn)子在中心線上側(cè)的 [μ +2σ，μ +3σ ]范圍內(nèi)或者在中心線下側(cè)的 [μ +3σ，μ 2σ ]范圍內(nèi)排列，則稱點(diǎn)子靠近控制線排列，如： ⑴連續(xù) 3個(gè)點(diǎn)子中有 2 個(gè)點(diǎn)落在控制界限附近； ⑵連續(xù) 7個(gè)點(diǎn)子中 3個(gè)點(diǎn)子落在控制界限附近； ⑶連續(xù) 10個(gè)點(diǎn)子中有 4個(gè)點(diǎn)子在控制界限附近。 有趨勢(shì)傾向的控制 圖 14 點(diǎn)子排列具有周期性 為什么對(duì)于上述點(diǎn)子排列出現(xiàn)缺陷情況時(shí)，可以判斷出工序處于異常呢？因?yàn)樵谡顟B(tài)下，計(jì)算出各種缺陷排列發(fā)生的概率很小，千分之五左右。 第三節(jié) 計(jì)數(shù)值控制圖 計(jì)數(shù)值制圖用于對(duì)以計(jì)數(shù)數(shù)據(jù)為管理對(duì)象的控制：紡織品疵點(diǎn)數(shù)、鑄件氣孔數(shù)、單位噴漆面積上的班點(diǎn)數(shù)、不合格品件數(shù)、不合格率等。由數(shù)理統(tǒng)計(jì)學(xué)中的切比雪夫不等式知， 不論 X 服從什么概率分布，都有： E(X)表示隨機(jī)變數(shù) X 的均值（總體均值）， D(X)表示方差（總體方差）， 為標(biāo)準(zhǔn)差。由 (1)式告知，當(dāng) X 服從正態(tài)分布時(shí)， X 的取值落在區(qū)間 之外的概率為 ；若 X 不服從正態(tài)分布，則 X 的取值落在這個(gè)區(qū)間之個(gè)的概率為 [18/9=1/9]，也不算很大。 人們都有這個(gè)常識(shí)：“零缺陷”。于是對(duì)于計(jì)數(shù)值控制圖，不必設(shè)置控制下限 LCL，只需設(shè)置控制上限 UCL。 一、 Pn圖與 P圖 98)X(D)X(EX)X(D( X)E{P 33 ????)X(D)X(DB 6?)]X(D)X(E )X(D( X )E[ 33 ?)]X(D)X(E L C L , )X(D( X )EU C L 33 ????15 對(duì)于不合格數(shù)（不良品數(shù)） X 的控制圖，稱為計(jì)數(shù)值控制圖，又稱 Pn 圖。 N 是從中隨時(shí)機(jī)抽取的產(chǎn)品個(gè)數(shù)， X 為 n件產(chǎn)品中不合格品個(gè)數(shù)， X 服從二項(xiàng)分布。 P 作為生產(chǎn)過(guò)程的不合格率，又稱作總體不合格率，通常是未知參數(shù)。設(shè)第 t個(gè)樣本為 nt 個(gè)產(chǎn)品，經(jīng)檢測(cè)發(fā)現(xiàn)有 dt個(gè)不合格品，則 P的估計(jì)值為 (6)式是國(guó)家統(tǒng)計(jì)方法技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)委員會(huì)推薦用算法。 [解 ] ( 5 ) )p1(P)n/1(P U CLY , P)) P ( 1n1(n/)P1(nP)X(D)n1(D ( y ) , P)X(E)n1(E ( y ) , n ,X / n Y ⑵ ( 4 ) , P)n P ( 1nPU CL( 3 ) P)n P ( 1DX , nP)X(E Pn ⑴32223??????????????的控制上限為則有率件產(chǎn)品中的樣本不合格表示圖( 6 )
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