spc應(yīng)用工具控制圖-在線瀏覽
2025-03-24 15:08本頁(yè)面
【正文】 制圖 （ 2） 計(jì)數(shù)值 控制圖 a) P控制圖 不良率控制圖 b) Pn控制圖 不良品數(shù)控制圖 c) C控制圖 缺陷數(shù)控制圖 d) u控制圖 單位缺陷數(shù)控制圖 圖 RX ? 圖 ~ 圖 SR? 圖 SX ?八、控制圖應(yīng)用條件 過程應(yīng)處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)， 即工序處于受控狀態(tài)； 過程因素處于相對(duì)的穩(wěn)定狀態(tài)， 即測(cè)量?jī)x器、方法、手段等必須統(tǒng)一； μ177。 適用于成批生產(chǎn)的產(chǎn)品；單件小批量生產(chǎn)的 產(chǎn)品質(zhì)量分布不一定符合正態(tài)分布。 A、 收集數(shù)據(jù) 選定工序 ——選定對(duì)象，并明確應(yīng)用目的。 確定子組大小 —— 在一個(gè)單一的過程流中確定樣本子組的大小，對(duì)計(jì)量型的控制 圖，通常一次測(cè)取 25個(gè)過程統(tǒng)計(jì)量。 （ 2） 控制圖異常判定準(zhǔn)則 ： ▲點(diǎn)子呈 “鏈狀”排列 ——在中心線一側(cè)連續(xù)出現(xiàn) 7點(diǎn)或多于 7點(diǎn)； ——點(diǎn)子在中心線一側(cè)多次出現(xiàn)（間斷鏈） a） 連續(xù) 11點(diǎn)中至少有 10點(diǎn)位于中心線一側(cè)； b） 連續(xù) 14點(diǎn)中至少有 12點(diǎn)位于中心線一側(cè)； c） 連續(xù) 17點(diǎn)中至少有 14點(diǎn)位于中心線一側(cè)； d） 連續(xù) 20點(diǎn)中至少有 16點(diǎn)位于中心線一側(cè)； ▲ 點(diǎn)子呈 “趨勢(shì)”狀排列 ——點(diǎn)子連續(xù) 7點(diǎn)上升或下降 ▲點(diǎn)子呈 “周期”狀排列 ——階梯狀周期變動(dòng) ——波動(dòng)形周期變動(dòng) ——大波中疊加小波的周期性變動(dòng)。 控制圖異常的處理 ?當(dāng)出現(xiàn)異常傾向時(shí)，應(yīng)采取預(yù)防措施，進(jìn)行原因分析，針對(duì)原因采取措施，消除異常波動(dòng)因素。 十、其它控制圖的應(yīng)用 （ 1） 圖 （中位數(shù) — 極差控制圖） RX ?~ 。n，23 的大小而變化其值的大小隨樣本界限系數(shù)是中位數(shù)控制圖的控制Amn 2 3 4 5 6 7 m3A2 （ 2） X—RS圖（單值 — 移動(dòng)極差控制圖） 該圖常適用于批量小、加工時(shí)間長(zhǎng)、測(cè)量費(fèi)用高（例如：破壞性試驗(yàn)）、或用于在任何時(shí)刻點(diǎn)的輸出性質(zhì)比較一致時(shí)（如：化學(xué)溶液的PH值）。 RX? SSREXLCLRX22EXUCLXCL ?????圖SSSRDLCLRDUCLR34SRCL ??圖N 2 3 4 5 6 7 E2 （ 3） 圖 （均值 —標(biāo)準(zhǔn)偏差控制圖） 樣本的標(biāo)準(zhǔn)差 S是過程變異更有效的指標(biāo)，尤其是對(duì)樣本容量較大的情況。 SX?? ?21122iS 1XS：???????????????????? ??nxnxnXniinii或每個(gè)子組的標(biāo)準(zhǔn)差SBLCLSS34BUCLSCL ???圖n A3 B4 B3 C4 2 3 4 5 6 `.879 7 系數(shù) （ 4） P圖（不合格品率控制圖） P控制圖 ，就是用不合格品率 P進(jìn)行工序控制的控制圖。 子組容量 ——用于計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖中一般要求較大的子組容量（ 例如 50到 200或更多 ），以便檢驗(yàn)出性能的一般變化。 子組的數(shù)量 ，一般情況下，也應(yīng) 包括 25或更多的 子組，以便很好地檢驗(yàn)過程的穩(wěn)定性，并且如果過程穩(wěn)定，對(duì)過程性能也可產(chǎn)生可靠的估計(jì)。 當(dāng)滿足下列情況時(shí)可選用 Pn圖： a） 不合格品的實(shí)際數(shù)量比不合格品率更有意義或更容易報(bào)告； b） 各階段 子組的樣本容量相同 。 計(jì)算過程不合格品數(shù)均值及控制界限 ： ? ????kiinn Pkp11? ?? ?PPPLCLPPPUCLPCLnnnnn???????1313? ?knPPkiin??? 1（ 6） C圖 （缺陷數(shù)控制圖） 或稱 不合格數(shù)控制圖 C圖用來測(cè)量一個(gè)檢驗(yàn)批內(nèi)的不合格（或缺陷）的 數(shù)量（與描繪在 Pn圖上的不合格品數(shù)量不同）。 C圖主要用于以下兩類檢驗(yàn)： a） 不合格分布在連續(xù)的產(chǎn)品流上 （例如毎匹維尼龍 上的瑕疵、玻璃上的氣泡、鑄件表面砂眼 氣孔、 噴漆表面?zhèn)? 色斑或電線上絕緣層薄的點(diǎn)等）， 以及 可以用不合格的平均比率表示的地方 （如毎 100m2維尼龍上的瑕疵）； b） 在單個(gè)的產(chǎn)品檢驗(yàn)中 可能發(fā)現(xiàn)許多不同潛在原因 造成的不合格 （例如：在一個(gè)修理部記錄毎輛車 或元件可能存在一個(gè)或多個(gè)不同的不合格）。 計(jì)算過程不合格數(shù)均值及控制界限： kCCki
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