【正文】 ．XRs控制圖多用于對(duì)每一個(gè)產(chǎn)品都進(jìn)行檢驗(yàn)，采用自動(dòng)化檢查和測(cè)量的場(chǎng)合。2．Xs控制圖與XR圖相似，只是用標(biāo)準(zhǔn)差（s）圖代替極差（R）圖而已。3σ范圍,可以認(rèn)定此三次是因機(jī)遇原因跑出界線而不予計(jì)較：,抽樣頻率和抽樣方式(上,下管制界線等),利用管制圖監(jiān)視制程搜集數(shù)據(jù)繪制解析用管制圖管制用管制圖繪制直方圖安定狀態(tài)滿足規(guī)格追求,去除異常原因檢討機(jī)器,制程..提升制程能力計(jì)算Cp,Cpk(輔助參考變異是否常態(tài)分布)三、各類常規(guī)控制圖的使用場(chǎng)合1．XR控制圖用于控制對(duì)象為長(zhǎng)度、重量、強(qiáng)度、純度、時(shí)間、收率和生產(chǎn)量等計(jì)量值的場(chǎng)合。3σ%%－３σ－２σ－１σ　＋１σ＋２σ＋３σ%%%管制圖是以3個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差為基礎(chǔ),換言之,只要群體是常態(tài)分配,從群體中抽樣時(shí), 每10000個(gè)當(dāng)中即有27個(gè)會(huì)跑出 177。2σ%%μ177。1σ%%μ177。kσ在內(nèi)機(jī)率在外機(jī)率μ177。 (3).幾個(gè)原因較為代表性。 Δ 原材料之不同，發(fā)生之變異。 Δ 機(jī)器設(shè)備之變動(dòng)，發(fā)生之變異。 例如:Δ 未遵照操作標(biāo)準(zhǔn)而操作，所發(fā)生之變異。 Δ 儀器測(cè)定時(shí)不十分精確之量法。 例如： Δ 原料之微小變異。如果制程中有非機(jī)遇原因之變異存在，則其成品將不穩(wěn)定，而且無法預(yù)測(cè)。 二 .管制圖原理 1. 變異― 機(jī)遇及非機(jī)遇原因 量度產(chǎn)品時(shí)，如果制程很穩(wěn)定，則將形成一種固定形狀,稱為分配。 3. 管制圖最主要之用途為察覺制程有無產(chǎn)生變異之“ 非機(jī)遇原因” ，所謂非機(jī)遇原因，就是引起質(zhì)量大變動(dòng)之原因。.. . . .. 常規(guī)控制圖的作法及其應(yīng)用一:管制圖的概論任何產(chǎn)品或事物均有變異存在,即沒有任何兩件產(chǎn)品是完全相同的,因此如何控制變異使之在我們可以接受的范圍內(nèi),乃是產(chǎn)品生產(chǎn)過程中的重要品管工作.管制圖是極具有功效的管制工具之一,用以偵測(cè)品質(zhì)變異的原因,然后采取對(duì)策以消除其原因,使生產(chǎn)過程恢復(fù)正常.管制圖是由三條管制界限,即中心線,上管制界限及下管制界限組成的圖形,并將生產(chǎn)過程中所獲得的統(tǒng)計(jì)量繪入圖中,以判定其為管制中或管制外,如果其狀況是屬于管制中時(shí),顯示生產(chǎn)過程的變異行為掌握在我們的預(yù)知中,則顯示其變異情況已超出我們的控制外,必須控討其發(fā)生的原因,采取對(duì)策以矯正之.:變異的原因:管制圖的目的在于探討變異的行為及原因,以便消除之,其原因通常可分為機(jī)遇原因及非機(jī)遇原因.管制圖的設(shè)計(jì):即決定管制界限的寬度以給制其上管制界限,.管制圖的訊號(hào):管制圖是透過異行為來判定其為管制中或管制外,其發(fā)生原因?yàn)楹?如保采取對(duì)策,也是管制圖的核心.1. 所謂管制圖:管制圖上均包含有中心線 (Central line (CL)) 及上下兩條管制 界線 [Uppe r and Lowe r Control Lim i ts, (UCL)(LCL)]，用以測(cè) 知制程是否在正常狀態(tài)。 2. 管制圖系于 1924 年由美國(guó)品管大師 W. A . S h e w h a r t 博士發(fā)明。 4. 管制圖與一般統(tǒng)計(jì)圖不同，因其不僅能將數(shù)值以曲線表示出來，以觀其變異之趨勢(shì)，且能顯示變異系屬于機(jī)遇性或非機(jī)遇性者，以指示某種現(xiàn)象是否正常，而備采取適當(dāng)之措施。如果制程中，只有機(jī)遇原因之變異存在，則其成品將形成一個(gè)很穩(wěn)定之分布，而且是可以預(yù)測(cè)的。 機(jī)遇原因 (Chance causes) 又稱為：不可避免之原因、非人為原因、共同原因、偶然原因、一般原因等。 Δ 機(jī)械之微小振動(dòng)。 Δ 氣候及環(huán)境之變化 . 非機(jī)遇原因 又稱為：可避免之原因、人為原因、特殊原因、異常原因、 局部原因等等。Δ 雖然遵照操作標(biāo)準(zhǔn)，但操作標(biāo)準(zhǔn)不完善，以致發(fā)生之變異。 Δ 操作人員之更動(dòng)，造成之變異。 Δ 量具不準(zhǔn)確，造成之變異 :同種原料內(nèi)的變化,機(jī)械的振動(dòng),當(dāng)這些變化量極小時(shí),(chance cause)或一般原因(mon cause),稱其在管制中(in control)(Chance causes)：又稱為不可避免之原因,非人為原因,共同原因,偶然原因,一般原因等若能及早發(fā)現(xiàn)可歸屬原因,如:品管七大手法,管制圖,制程能力分析,這些有助于迅速偵測(cè)出制程發(fā)生變異及找出變異發(fā)生的原因.(Assignable causes)：又稱為可避免之原因,人為原因,特殊原因,異常原因,局部原因等此外,制程中可能有其它變因,如參數(shù)調(diào)整不當(dāng),原料不良,機(jī)器故障,這些變異稱為可歸屬原因(assignable cause),或特殊原因(special cause),稱為制程失控(out of control).3.(非)機(jī)遇原因之辨別機(jī)遇原因與非機(jī)遇原因之辨別機(jī)遇原因之變異 非機(jī)遇原因之變異(1).大量之微小原因所引起 (1).一個(gè)或少數(shù)幾個(gè)較大原因所引起(2).其個(gè)別之變異極為微小 (2).可能發(fā)生大變異(3).幾個(gè)原因較為代表性。 (4).要除去變異原因,是件非常困難的事 (4).不但可找出原因,并且除去這些原因分類出現(xiàn)次數(shù)影響結(jié)論機(jī)遇次數(shù)多微小不值得調(diào)查非機(jī)遇次數(shù)甚少顯著須徹底調(diào)查(Classification of Data)數(shù)據(jù)的整理及分析,因數(shù)據(jù)型態(tài)之不同有不同的整理與 分析方法,單位產(chǎn)品的質(zhì)量特性及其衡量方式可歸納為(Attribute Data)數(shù)據(jù)均屬予以單位計(jì)算者,如PCB上的不良悍點(diǎn)數(shù),每公尺棉布有幾個(gè)疵點(diǎn)等特性均為間斷性者 (Variable Data)長(zhǎng)度,重量,成分,厚度等特性均為連續(xù)性者計(jì)量值管制圖(Control Charts for Variables)平均值與全距管制圖(R Chart)平均值標(biāo)準(zhǔn)差管制圖(sChart)中位數(shù)與全距管制圖(MeR Chart)個(gè)別值與移動(dòng)全距管制圖(XRs Chart)計(jì)數(shù)值管制圖(Control Charts for Attribute)不良率管制圖(P Chart)不良數(shù)管制圖(pn Chart)缺點(diǎn)數(shù)管制圖(C Chart)單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖(u Chart) 管制圖之種類雖然很多,但都是以同樣之統(tǒng)計(jì)原理為出發(fā)點(diǎn).假設(shè)有群體,其平均值為 μ, 標(biāo)準(zhǔn)差為σ, 如圖,抽取一個(gè)樣本x時(shí),其值會(huì)小于μ3σ 或大于μ+% ,x值在μ+kσ與μkσ之間稱為機(jī)率μμ+kσμ kσ當(dāng)一分配經(jīng)證實(shí)為一常態(tài)分配時(shí),則算出此常態(tài)分配之標(biāo)準(zhǔn)差σ及平均值μ后，其特性可用下列圖表說明：μ177。%%μ177。%%μ177。%%μ177。3σ之外,亦即每1000次中約有3次機(jī)會(huì)超出 177。X控制圖主要用于觀察正