spc統(tǒng)計(jì)制程管制與管制圖-展示頁
2025-02-26 01:35本頁面
【正文】 距 R = R1+R2+ +Rk K K為界組數(shù) ,正常應(yīng)為 25組 管制界線 UcLr=D4R UcLx = X + A2R LcLr = D3R LcLx = X A2R D4 , D3 , A2 均為係數(shù) ,其值如下 (緊烈 n = 2 ~ 5個時 ) n 2 3 4 5 D4 D3 * * * * A2 主畫面 主畫面 主畫面 R 管制圖 解析 (一 ) 解析 (二 ) 主畫面 R 管制圖 解析 (三 ) 主畫面 XR Chart 解析練習(xí) (1) 主畫面 XR C h a rt 解析練習(xí) ( 1 )1951961971981992002012022032042051 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25UCLLCLCL請判定製程是否在管制狀態(tài)XR Chart 解析練習(xí) (2) 主畫面 常態(tài)分配的機(jī)率分配 交 分配比率一定 主畫面 標(biāo)準(zhǔn)常態(tài)分配 B4 Pz,代表與製程平均相距 z 個標(biāo)準(zhǔn)差時 ,製程產(chǎn)品超出某一特定值 (如 : 規(guī)格界限 )的比率。但是製程必須是在統(tǒng)計(jì)管制狀態(tài)夏 ,而且呈常態(tài)分 配。 2..z = 3 則 Pz = 或 %,因此正負(fù) 3 o 所包含的面 積應(yīng)為 1 x 2 = % 主畫面 標(biāo)準(zhǔn)常態(tài)分配 (Z值表 ) 主畫面 R Chart 解析與處置 ? 全距管制圖上的點(diǎn)超出管制上限時 ,通常代表 : – 管制界限或繪點(diǎn)錯誤 ,或是 – 製品件之間的變異增大或散佈太廣 – 量測單位不相同 在全距管制圖下限的點(diǎn) ,可能因?yàn)? : – 管制界限或繪點(diǎn)錯誤 – 組內(nèi)變異國 (製品件之間 )變小即變好 – 量測方法變更 (包含數(shù)據(jù)填寫的方法變更 ) 主畫面 製程能力解析 B5 主畫面 製程能力解析 計(jì)算 Cpk 計(jì)算製程標(biāo)準(zhǔn)差 s = R / d2 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d2 計(jì)算製程能力 Z = SL X X = 製程平均值 s s = 製程估計(jì)標(biāo)準(zhǔn)差 Zusl = USL X Zzsl = LSL X Zmin = Zusl 或 Zlsl s s USL=規(guī)格上限 LSL =規(guī)格下限 主畫面 製程能力解析 B ? 製程能力評價 X + 3 s (Zmin 3, 或 Cpk ) X + 4 s (Zin 4 , Cpk 1..33)。 ? 製程未達(dá)到製程能力要求時 ,要採取之不補(bǔ)救措施 – 挑選製成品 ,並且視情形而予以報廢或補(bǔ)修 – 改變規(guī)格以達(dá)到製程能力之要求 主畫面 製程能力解析 B ? 改善製程能力 共同原因?yàn)樵斐裳u程能力不足的主要原因 ,其對策應(yīng)著重於系統(tǒng)的改善 ─ 亦即製程中的潛在因素 ,譬如機(jī)器性能 ,進(jìn)料品質(zhì)的一致性 , 製程之一致性 ,製程之基本設(shè)計(jì) ,訓(xùn)練方法 ,或是工作環(huán)境。 主畫面 Ca與 Cp B6 Ca 準(zhǔn)確度 Cp 精密度 主畫面 Ca 準(zhǔn)確度 Ca = x u u : 規(guī)格中心值 T/2 T : 公差大小 Ca等級
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