【正文】 下列現(xiàn)象之表明過程已改變或出現(xiàn)某種趨勢(shì)： 連續(xù) 7點(diǎn)在平均值一側(cè)或 7點(diǎn)連續(xù)上升或下降 a 與過程均值有關(guān)的鏈通常表明出現(xiàn)下列情況之一或兩者 。并且一定要改變過程，以使特殊原因不會(huì)作為過程的一部分重現(xiàn)。 注：排除代表不穩(wěn)定條件的子組并不僅是“丟棄壞數(shù)據(jù)”。 修改后的 R 和 X 可用于重新計(jì)算均值的試驗(yàn)控制限， X 177。 33 重新計(jì)算控制限（極差圖） a 在進(jìn)行首次過程研究或重新評(píng)定過程能力時(shí)，失控的原因已 被識(shí)別和消除或制度化，然后應(yīng)重新計(jì)算控制限，以排除失控 時(shí)期的影響，排除所有已被識(shí)別并解決或固定下來的特殊原因 影響的子組，然后重新計(jì)算新的平均極差 R和控制限，并畫下來， 使所有點(diǎn)均處于受控狀態(tài)。 32 識(shí)別并標(biāo)注所有特殊原因（極差圖） a 對(duì)于極差數(shù)據(jù)內(nèi)每一個(gè)特殊原因進(jìn)行標(biāo)注，作一個(gè)過程操作 分析，從而確定該原因并改進(jìn)，防止再發(fā)生。 d2 過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個(gè)或多個(gè)具有 明顯不同的變化性的過程流的測量值（如：輸入材料批次混 淆）。 c3 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯（極差和均值相差太遠(yuǎn)的幾個(gè)子組更改刪除）。 C 如果顯著多余 2/3以上的描點(diǎn)落在離 R 很近之處（對(duì)于 25子組，如果超過 90%的點(diǎn)落在控制限的 1/3區(qū)域），則應(yīng)對(duì)下列情況的一種或更多進(jìn)行調(diào)查： c1 控制限計(jì)算錯(cuò)或描點(diǎn)已描錯(cuò) 。 UCL LCL R UCL R LCL 不受控制的過程的極差 （存在高于和低于極差均值的兩種鏈） 不受控制的過程的極差（存在長的上升鏈） 313 明顯的非隨機(jī)圖形 a 非隨機(jī)圖形例子：明顯的趨勢(shì)；周期性；數(shù)據(jù)點(diǎn)的分布在整個(gè)控制限內(nèi)，或子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有規(guī)律的關(guān)系等。 注 1： 當(dāng)子組數(shù)（ n）變得更?。?5或更?。r(shí)，出現(xiàn)低于 R 的鏈的可能 性增加，則 8點(diǎn)或更多點(diǎn)組成的鏈才能表明過程變差減小。 b 低于平均極差的鏈或下降鏈說明存在下列情況之一或全部： b1 輸出值的分布寬度減小 ， 好狀態(tài) 。 b 超出極差上控制限的點(diǎn)通常說明存在下列情況中的一種或幾種： 控制限計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò) 零件間的變化性或分布的寬度已增大 (即變壞 ） 測量系統(tǒng)變化 （ 如：不同的檢驗(yàn)員或量具 ） c 有一點(diǎn)位于控制限之下 ， 說明存在下列情況的一種或多種 控制限或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò) 分布的寬度變小 （ 變好 ） 測量系統(tǒng)已改變（包括數(shù)據(jù)編輯或變換） 不受控制的過程的極差（有超過控制限的點(diǎn)） UCL LCL UCL LCL R R 受控制的過程的極差 312 鏈 有下列之現(xiàn)象表明過程已改變或出現(xiàn)某種趨勢(shì)： ? 連續(xù) 7點(diǎn)在平均值一側(cè)； ? 連續(xù) 7點(diǎn)連續(xù)上升或下降； a 高于平均極差的鏈或上升鏈說明存在下列情況之一或全部： a1 輸出值的分布寬度增加 ， 原因可能是無規(guī)律的 （ 例如：設(shè)備工作不正常或固定松動(dòng) ） 或是由于過程中的某要素變化 （ 如使用新 的不一致的原材料 ） ， 這些問題都是常見的問題 ， 需要糾正 。 9 注 2： 因?yàn)樽咏M極差或子組均值的能力都取決于零件間的變差， 10 因此，首先應(yīng)分析 R圖。 5 （即其中之一或兩者均不受控）進(jìn)而采取適當(dāng)?shù)拇胧? ? 對(duì)各條線標(biāo)上記號(hào)（ UCLR ， LCLR ， UCLX ， LCLX） ? 注：在初始研究階段，應(yīng)注明試驗(yàn)控制限。 23 在控制圖上作出均值和極差的控制限 ? 平均極差和過程均值畫成實(shí)線。其系數(shù)值 見下表 ： n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 D3 ? ? ? ? ? A2 注： 對(duì)于樣本容量小于 7的情況， LCLR可能技術(shù)上為一個(gè)負(fù)值?？刂葡奘怯勺咏M的樣本容量以及反 12 映在極差上的子組內(nèi)的變差的量來決定的。 2 計(jì)算控制限 3 首先計(jì)算極差的控制限，再計(jì)算均值的控制限 。 52 確保所畫的 X 和 R點(diǎn)在縱向是對(duì)應(yīng)的。 注： 一個(gè)有用的建議是將 R 圖的刻度值設(shè)置為 X 圖刻度值的 2倍。 n 表示子組 的樣本容量 1選擇控制圖的刻度 41 兩個(gè)控制圖的縱坐標(biāo)分別用于 X 和 R 的測量值。一般為 25組，首次使 用管制圖選用 35 組數(shù)據(jù)，以便調(diào)整。對(duì)正在生產(chǎn)的產(chǎn) 品進(jìn)行監(jiān)測的子組頻率可以是每班 2次，或一小時(shí)一 次等。（ 注： 數(shù)據(jù)僅代表單一刀具、沖頭、模具等 生產(chǎn)出來的零件，即一個(gè)單一的生產(chǎn)流。 注： 應(yīng)制定一個(gè)收集數(shù)據(jù)的計(jì)劃，將其作為收集、記錄及描圖的依據(jù)。 使不必要的變差最小 確保過程按預(yù)定的方式運(yùn)行 確保輸入的材料符合要求 恒定的控制設(shè)定值 注： 應(yīng)在過程記錄表上記錄所有的相關(guān)事件，如：刀具更新，新的材料批 次等，有利于下一步的過程分析。 確定待控制的特性 應(yīng)考慮到： 顧客的需求 當(dāng)前及潛在的問題區(qū)域 特性間的相互關(guān)系 接上頁 確定測量系統(tǒng) a 規(guī)定檢測的人員、環(huán)境、方法、數(shù)量、頻率、設(shè)備或量具。 計(jì)量型數(shù)據(jù)控制圖 與過程有關(guān)的控制圖 計(jì)量單位：（ mm, kg等） 過程 人員 方法 材料 環(huán)境 設(shè)備 1 2 3 4 5 6 結(jié)果舉例 控制圖舉例 螺絲的外徑（ mm） 從基準(zhǔn)面到孔的距離（ mm） 電阻（ Ω） 錫爐溫度（ 186。確定過程參數(shù) 特點(diǎn)： 分析過程是否為統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài) 過程能力指數(shù)是否滿足要求？ ●控制用控制圖 等過程調(diào)整到穩(wěn)態(tài)后，延長控制圖的控制線作為控制用控制圖。 控制圖的控制線 ? 中心線（ CL): X ? 上控制線 /限（ UCL): X+ 3 σ ? 下控制線 /限（ LCL): X 3 σ ? 右轉(zhuǎn) 90度 3 σ 3 σ x+ 3 σ x 3 σ x x % 公差界限與控制界限的區(qū)別 ? 公差界限： 區(qū)分合格品與不合格品 ? 控制界限： 區(qū)分正常波動(dòng)與異常波動(dòng) α β UCL LCL ?第 Ⅰ 類錯(cuò)誤（ α）：虛發(fā)警報(bào) ?第 Ⅱ 類錯(cuò)誤（ β）：漏發(fā)警報(bào) 兩類錯(cuò)誤 ?兩類錯(cuò)誤都會(huì)造成損失 ?上下控制限間距變大： α減小， β增大 ?上下控制限間距變?。? α增大， β減小 ?間距的設(shè)定尋求二者的均衡點(diǎn)（ 3 σ） 兩類錯(cuò)誤 控制圖設(shè)計(jì)思想 ●先確定 α ，再看 β 按照 3σ方式確定 UCL、 CL、 LCL， α0 =% 通常采用 α =1%， 5%， 10%三級(jí)，為了增加使用者的信心，取 α =%。 ? 所以，在過程正常情況下約有 %的點(diǎn)落在在此控制線內(nèi)。 ? 根據(jù)小概率事件可以“忽略”的原則：如果出現(xiàn)超出 μ177。 ? 二戰(zhàn)后的日本工業(yè)企業(yè)將控制圖應(yīng)用到極致，為戰(zhàn)后日本的經(jīng)濟(jì)復(fù)蘇做出了很大的貢獻(xiàn) 控制圖原理 3Sigma原則 ? 當(dāng)質(zhì)量特性的隨機(jī)變量 x服從正態(tài)分布時(shí)，則 x落在 μ177。 達(dá)到統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)？ 確定能力 計(jì)劃 實(shí)施 計(jì)劃 實(shí)施 措施 研究 措施 研究 計(jì)劃 實(shí)施 改進(jìn)過程 措施 研究 改進(jìn)過程從而更好地理解 普通原因變差 減少普通原因變差 帶有不同水平的變差的能夠符合規(guī)范的過程（所有的輸出都在規(guī)范之內(nèi)） 規(guī)范下限 LSL 規(guī)范上限 USL 范圍 LSL USL 范圍 不能符合規(guī)范的過程（有超過一側(cè)或兩側(cè)規(guī)范的輸出） LSL LSL USL USL 范圍 范圍 過程能力指數(shù)（ Cp) ? 過程能力用過程能力指數(shù)來加以量化 Cpk=(T2ε)/6 σ 其中， ε=|Xbar(T/2)| Cp=T/6σ –T=（ USLLSL) –USL:公差上限 –LSL:公差下限 無偏情況下： 存在偏移時(shí)： Cpk值的判定原則 Cpk值 處理原則 ≦ Cpk 無缺點(diǎn)考慮降低成本 ≦ Cpk≦ 維持現(xiàn)狀 1≦ Cpk≦ 有缺點(diǎn)發(fā)生 Cpk≦ 采取緊急措施，進(jìn)行品質(zhì) 改善，并研討規(guī)格 過程控制的工具 控制圖 上控制限 中心限 下控制限 ? 控制圖是 1924年休哈特博士在貝爾實(shí)驗(yàn)室發(fā)明的。 ?如果根據(jù)每一次所做的測量結(jié)果來調(diào)整一個(gè)穩(wěn)定的過程，則調(diào)整本身就成了一個(gè)變差源。 預(yù)測