【正文】 P 為平均不良率； n 為樣本容量 注： 從上述公式看出 ， 凡是各組容量不一樣 ， 控制限隨之 變化 。 (初始研究時 ， 這些被認(rèn)為是試驗控制限 。 測量系統(tǒng)的改變（如新的檢驗人或新的量具 過程性能已惡化 b 低于均值的鏈或下降鏈說明存在下列情況之一或全部： 過程性能已改進(jìn) 測量系統(tǒng)的改好 注：當(dāng) np 很小時 （ 5以下 ） ， 出現(xiàn)低于 P 的鏈的可能性增加 ， 因此有必要用長度為 8點(diǎn)或更多的點(diǎn)的長鏈作為不合格 品率降低的標(biāo)志 。 8212 各階段子組的樣本容量相同。 833 計算控制限 8331 計算過程不合格數(shù)均值（ C）： C = (C1+C2+…+Ck) / K 式中： C1, C2, … Ck為每個子組內(nèi)的缺陷數(shù) 8331 計算控制限 U/LSLc= C177。 832 數(shù)據(jù)的收據(jù) 8321 檢驗樣本的容量（零件的數(shù)量，織物的面積，電線的長度 等）要求相同，這樣描繪的 C值將反映質(zhì)量性能的變化而 不是外觀的變化，在數(shù)據(jù)表上記錄樣本容量。 8133 重新計算控制限 初次研究，應(yīng)排除有變差的子組，重新計算控制限。 測量系統(tǒng)已改變或過程性能已改進(jìn)。 3 P ( 1 – P ) / n = P 177。 8114 將不合格品率描繪在控制圖上 a 描點(diǎn) ， 連成線來發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢 。見下表： 注 ： 只有過程受控，才可直接用 δ的估計值來評價過程能力 。 11 移動圖的三中用法： a 單值 b 移動組 c 固定子組 數(shù)據(jù)收集 （ 基本同 XR ） 21 在數(shù)據(jù)圖上 ， 從左到右記錄單值的讀數(shù) 。 4 過程能力的分析 （同 XR） 5 估計過程標(biāo)準(zhǔn)偏差： 6 δ= R / d2 7 注：只有中位數(shù)和極差處于受控狀態(tài)，才可用 δ的估計值來評價過程 8 能力。見下表： 當(dāng)需要計算過程能力時；將 σ 帶入 XR圖 42的公式即可。 總結(jié)：過程異常判斷準(zhǔn)則 ? 出現(xiàn)超出控制線的點(diǎn) ? 存在鏈（ Run)： – 連續(xù)七個點(diǎn)全在控制限之上或之下， – 連續(xù)七個點(diǎn)上升（后點(diǎn)等于或大于前點(diǎn)）或下降 ? 任何其他明顯非隨機(jī)的圖形，例如： – 顯著多于 2/3以上的點(diǎn)落在均值很近之處（ 25組有超過 90%的點(diǎn)落在控制限 1/3區(qū)域） – 顯著少于 2/3以上的點(diǎn)落在均值很近之處（ 25組有等于或少于 40%的點(diǎn)落在控制限 1/3區(qū)域） 以下控制圖理論為選學(xué)內(nèi)容 根據(jù)時間確定 均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖（ Xs圖） 一般來講 ， 當(dāng)出現(xiàn)下列一種或多種情況時用 S圖代替 R圖： a 數(shù)據(jù)由計算機(jī)按設(shè)定時序記錄和 /或描圖的 ， 因 s的計算程序 容易集成化 。 d2 過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個或多個不 同的過程流的測量值（這可能是由于對可調(diào)整的過程進(jìn)行 過度 控制造成的，這里過程改變是對過程數(shù)據(jù)中隨機(jī)波 動的響應(yīng)）。并且一定要改變過程，以使特殊原因不會作為過程的一部分重現(xiàn)。 32 識別并標(biāo)注所有特殊原因（極差圖） a 對于極差數(shù)據(jù)內(nèi)每一個特殊原因進(jìn)行標(biāo)注，作一個過程操作 分析，從而確定該原因并改進(jìn)，防止再發(fā)生。 UCL LCL R UCL R LCL 不受控制的過程的極差 （存在高于和低于極差均值的兩種鏈） 不受控制的過程的極差（存在長的上升鏈） 313 明顯的非隨機(jī)圖形 a 非隨機(jī)圖形例子：明顯的趨勢；周期性；數(shù)據(jù)點(diǎn)的分布在整個控制限內(nèi)，或子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有規(guī)律的關(guān)系等。 9 注 2： 因為子組極差或子組均值的能力都取決于零件間的變差， 10 因此，首先應(yīng)分析 R圖。其系數(shù)值 見下表 ： n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 D3 ? ? ? ? ? A2 注： 對于樣本容量小于 7的情況， LCLR可能技術(shù)上為一個負(fù)值。 注： 一個有用的建議是將 R 圖的刻度值設(shè)置為 X 圖刻度值的 2倍。（ 注： 數(shù)據(jù)僅代表單一刀具、沖頭、模具等 生產(chǎn)出來的零件，即一個單一的生產(chǎn)流。 計量型數(shù)據(jù)控制圖 與過程有關(guān)的控制圖 計量單位：（ mm, kg等） 過程 人員 方法 材料 環(huán)境 設(shè)備 1 2 3 4 5 6 結(jié)果舉例 控制圖舉例 螺絲的外徑（ mm） 從基準(zhǔn)面到孔的距離（ mm） 電阻（ Ω） 錫爐溫度（ 186。 ? 根據(jù)小概率事件可以“忽略”的原則：如果出現(xiàn)超出 μ177。 預(yù)測 時間 范圍 目標(biāo)值線 如果存在變差的特殊 原因，隨著時間的推 預(yù)測 移，過程的輸出不 穩(wěn)定。由于過程波動具有統(tǒng)計規(guī)律性，當(dāng)過程受控時，過程特性一般服從穩(wěn)定的隨機(jī)分布；而失控時，過程分布將發(fā)生改變。正常波動是偶然性原因（不可避免因素）造成的。 誰進(jìn)行？（能力 /技能 /培訓(xùn)） 有資格檢驗員、操作員； 質(zhì)量負(fù)責(zé)人（領(lǐng)班）； 培訓(xùn)授權(quán)。 如何做？（方法 /程序 /技術(shù)） 按程序（不合格品控制）； 不合格品評審； 返工 /返修指導(dǎo)書； SPC圖； 分隔 /追溯性； 標(biāo)準(zhǔn)樣品。它對產(chǎn)品質(zhì)量影響很大，但能夠采取措施避免和消除。 SPC技術(shù)原理 SPC的概念 ? 使用諸如控制圖等統(tǒng)計技術(shù)來分析過程或其輸出以便采取適當(dāng)?shù)拇胧﹣磉_(dá)到并保持統(tǒng)計控制狀態(tài)從而提高過程能力。 過程控制 ? 目標(biāo)：對影響過程的措施做出合理經(jīng)濟(jì)的決定 ? 過程在統(tǒng)計控制下運(yùn)行（過程受控）：僅存在造成變差的特殊原因 ? 過程控制的作用：當(dāng)出現(xiàn)變差的特殊原因時報警；反之，不報警 過程控制 受控 （消除了特殊原因） 時間 范圍 不受控 （存在特殊原因） 過程能力 ? 過程能力是指過程處于受控狀態(tài)下（不存在變差的特殊原因）的實際加工能力 – 一個穩(wěn)定過程的固有變差的總范圍 ? 過程能力是由造成變差的普通原因造成 ? 工序能力高時：產(chǎn)品品質(zhì)出現(xiàn)異常的幾率越小 ? 工序能力低時：產(chǎn)品品質(zhì)出現(xiàn)異常的幾率越大 過程能力 受控且有能力符合規(guī)范 （普通原因造成的變差已減少） 規(guī)范下限 規(guī)范上限 時間 范圍 受控但沒有能力符合規(guī)范 （普通原因造成的變差太大） 過程改進(jìn)循環(huán) 分析過程 維護(hù)過程 本過程應(yīng)做什么？ 監(jiān)控過程性能 會出現(xiàn)什么錯誤？ 查找變差的特殊原因并 本過程正在做什么？ 采取措施。 ? 觀察控制圖的數(shù)據(jù)位置，可以了解過程情況有無改變。 b 確保檢測設(shè)備或量具本身