【正文】 1– P ) / n P 為平均不良率； n 為樣本容量 注： 從上述公式看出 ， 凡是各組容量不一樣 ， 控制限隨之 變化 。 8112 計(jì)算每個(gè)子組內(nèi)的不合格品率 （ P） P=np /n n為每組檢驗(yàn)的產(chǎn)品的數(shù)量； np為每組發(fā)現(xiàn)的不良品的數(shù)量。 811 收集數(shù)據(jù) 8111 選擇子組的容量、頻率和數(shù)量 子組容量 ：子組容量足夠大（最好能恒定），并包括幾個(gè)不 合格品。見下表： 4 過程控制解釋（同其他計(jì)量型管制圖） 5 5 過程能力解釋 δ= R / d2 = δ R / d2 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 7 8 1 0 2 6 2 8 D3 * * * * * 8 4 8 2 E2 7 6 9 8 1 5 1 8 樣本容量小于 7時(shí)，沒有極差的控制下限。 23 單值圖 （ X） 圖的刻度按下列最大者選取： a 產(chǎn)品規(guī)范容差加上允許的超出規(guī)范的讀數(shù) 。 56 改善 操作者對超出控制限的極差或中位數(shù)采取適當(dāng)?shù)拇胧┻M(jìn)行改善，或通知管理人員。 10 52 制作極差的控制圖片 11 在一張透明的膠片標(biāo)上極差的控制限。 3 過程控制分析（同 XR） 4 31 凡是超出控制限的點(diǎn)，連成鏈或形成某種趨勢的都必須進(jìn)行特 5 殊原因的分析，采取適當(dāng)?shù)拇胧?。 4 12 只要描一張圖，刻度設(shè)置為下列的較大者： 5 a 產(chǎn)品規(guī)范容差加上允許的超出規(guī)范的讀數(shù) 6 b 測量值的最大值與最小值之差的 2倍。見下表： 注： 在樣本容量低于 6時(shí)，沒有標(biāo)準(zhǔn)差的下控制限。 11 數(shù)據(jù)的收集（基本同 XR圖） 111 如果原始數(shù)據(jù)量大，常將他們記錄于單獨(dú)的數(shù)據(jù)表，計(jì)算 出 X 和 s 112 計(jì)算每一子組的標(biāo)準(zhǔn)差 s = ∑ (Xi–X )178。 b 當(dāng)子組容量變化時(shí)，（例如：減少樣本容量，增加抽樣頻率） 應(yīng)調(diào)整中心限和控制限 。 UCL X LCL UCL X LCL 均值失控的過程（點(diǎn)離過程均值太近） 均值失控的過程（點(diǎn)離控制限太近） 35 識別并標(biāo)注所有特殊原因（均值圖） a 對于均值數(shù)據(jù)內(nèi)每一個(gè)顯示處于失控狀態(tài)的條件進(jìn)行一次過 程操作分析，從而確定產(chǎn)生特殊原因的理由，糾正該狀態(tài)， 防止再發(fā)生。 c 如果顯著多余 2/3以上的描點(diǎn)落在離 R很近之處 （ 對于 25子組 ， 如果超過 90%的點(diǎn)落在控制限的 1/3區(qū)域 ） ， 則應(yīng)對下列情況的 一種或更多進(jìn)行調(diào)查： c1 控制限計(jì)算錯(cuò)或描點(diǎn)描錯(cuò) c2 過程或取樣方法被分層 ， 每個(gè)子組系統(tǒng)化包含了從兩個(gè)或 多個(gè)具有完全不同的過程均值的過程流的測量值 （ 如：從 幾組軸中 ， 每組抽一根來測取數(shù)據(jù) 。 a3 測量系統(tǒng)發(fā)生變化（例如：不同的量具或 QC） 不受控制的過程的均值（有一點(diǎn)超過控制限） 受控制的過程的均值 UCL LCL X LCL UCL X 342 鏈 有下列現(xiàn)象之表明過程已改變或出現(xiàn)某種趨勢： 連續(xù) 7點(diǎn)在平均值一側(cè)或 7點(diǎn)連續(xù)上升或下降 a 與過程均值有關(guān)的鏈通常表明出現(xiàn)下列情況之一或兩者 。 注：排除代表不穩(wěn)定條件的子組并不僅是“丟棄壞數(shù)據(jù)”。 33 重新計(jì)算控制限（極差圖） a 在進(jìn)行首次過程研究或重新評定過程能力時(shí)，失控的原因已 被識別和消除或制度化，然后應(yīng)重新計(jì)算控制限，以排除失控 時(shí)期的影響，排除所有已被識別并解決或固定下來的特殊原因 影響的子組，然后重新計(jì)算新的平均極差 R和控制限，并畫下來， 使所有點(diǎn)均處于受控狀態(tài)。 d2 過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個(gè)或多個(gè)具有 明顯不同的變化性的過程流的測量值（如：輸入材料批次混 淆）。 C 如果顯著多余 2/3以上的描點(diǎn)落在離 R 很近之處（對于 25子組，如果超過 90%的點(diǎn)落在控制限的 1/3區(qū)域），則應(yīng)對下列情況的一種或更多進(jìn)行調(diào)查： c1 控制限計(jì)算錯(cuò)或描點(diǎn)已描錯(cuò) 。 注 1： 當(dāng)子組數(shù)（ n）變得更?。?5或更?。r(shí)，出現(xiàn)低于 R 的鏈的可能 性增加，則 8點(diǎn)或更多點(diǎn)組成的鏈才能表明過程變差減小。 b 超出極差上控制限的點(diǎn)通常說明存在下列情況中的一種或幾種： 控制限計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò) 零件間的變化性或分布的寬度已增大 (即變壞 ） 測量系統(tǒng)變化 （ 如：不同的檢驗(yàn)員或量具 ） c 有一點(diǎn)位于控制限之下 ， 說明存在下列情況的一種或多種 控制限或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò) 分布的寬度變小 （ 變好 ） 測量系統(tǒng)已改變（包括數(shù)據(jù)編輯或變換） 不受控制的過程的極差（有超過控制限的點(diǎn)） UCL LCL UCL LCL R R 受控制的過程的極差 312 鏈 有下列之現(xiàn)象表明過程已改變或出現(xiàn)某種趨勢： ? 連續(xù) 7點(diǎn)在平均值一側(cè)； ? 連續(xù) 7點(diǎn)連續(xù)上升或下降； a 高于平均極差的鏈或上升鏈說明存在下列情況之一或全部： a1 輸出值的分布寬度增加 ， 原因可能是無規(guī)律的 （ 例如：設(shè)備工作不正?；蚬潭ㄋ蓜?dòng) ） 或是由于過程中的某要素變化 （ 如使用新 的不一致的原材料 ） ， 這些問題都是常見的問題 ， 需要糾正 。 5 （即其中之一或兩者均不受控）進(jìn)而采取適當(dāng)?shù)拇胧? 23 在控制圖上作出均值和極差的控制限 ? 平均極差和過程均值畫成實(shí)線。控制限是由子組的樣本容量以及反 12 映在極差上的子組內(nèi)的變差的量來決定的。 52 確保所畫的 X 和 R點(diǎn)在縱向是對應(yīng)的。 n 表示子組 的樣本容量 1選擇控制圖的刻度 41 兩個(gè)控制圖的縱坐標(biāo)分別用于 X 和 R 的測量值。對正在生產(chǎn)的產(chǎn) 品進(jìn)行監(jiān)測的子組頻率可以是每班 2次，或一小時(shí)一 次等。 注： 應(yīng)制定一個(gè)收集數(shù)據(jù)的計(jì)劃，將其作為收集、記錄及描圖的依據(jù)。 確定待控制的特性 應(yīng)考慮到： 顧客的需求 當(dāng)前及潛在的問題區(qū)域 特性間的相互關(guān)系 接上頁 確定測量系統(tǒng) a 規(guī)定檢測的人員、環(huán)境、方法、數(shù)量、頻率、設(shè)備或量具。確定過程參數(shù) 特點(diǎn)： 分析過程是否為統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài) 過程能力指數(shù)是否滿足要求？ ●控制用控制圖 等過程調(diào)整到穩(wěn)態(tài)后，延長控制圖的控制線作為控制用控制圖。 ? 所以，在過程正常情況下約有 %的點(diǎn)落在在此控制線內(nèi)。 ? 二戰(zhàn)后的日本工業(yè)企業(yè)將控制圖應(yīng)用到極致，為戰(zhàn)后日本的經(jīng)濟(jì)復(fù)蘇做出了很大的貢獻(xiàn) 控制圖原理 3Sigma原則 ? 當(dāng)質(zhì)量特性的隨機(jī)變量 x服從正態(tài)分布時(shí)，則 x落在 μ177。 ?如果根據(jù)每一次所做的測量結(jié)果來調(diào)整一個(gè)穩(wěn)定的過程，則調(diào)整本身就成了一個(gè)變差源。 普通原因 造成變差的一個(gè)原因，它影響被研究過程輸出的所有單值；在控制圖分析中，它表現(xiàn)為隨機(jī)過程變差的一部分。因而，它強(qiáng)調(diào)過程在受控和有能力的狀態(tài)下運(yùn)行，從而使產(chǎn)品和服務(wù)穩(wěn)定地滿足顧客的要求。它對生產(chǎn)過程進(jìn)行分析評價(jià)，根據(jù)反饋信息及時(shí)發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)性因素出現(xiàn)的征兆，并采取措施消除其影響，使過程維持在僅受隨機(jī)性因素影響的受控狀態(tài)，以達(dá)到控制質(zhì)量的目的。異常波動(dòng)是由系統(tǒng)原因（異常因素）造成的。它是由人、機(jī)器、材料、方法和環(huán)境等基本因素的波動(dòng)影響所致。 過 程 生產(chǎn)中不合格品控制 輸 出 識別產(chǎn)品； 隔離 /通過； 分類 /返工通知； 停產(chǎn)通知。SPC(Statistical Process Control) 統(tǒng)計(jì)過程控制 shenyunz 過程 ? 一組將輸入轉(zhuǎn)化為輸出的相互關(guān)聯(lián)或相互關(guān)系的活動(dòng)，就過程。 輸 入 不合格品 /可疑產(chǎn)品； 顧客投訴； 過程異常、 SPC圖紙； 設(shè)備發(fā)生異常。 產(chǎn)品生產(chǎn)過程分析“烏龜圖” 過程控制系統(tǒng) 有反饋的過程控制系統(tǒng)模型 過程的呼聲 人 設(shè)備 材料 方法 產(chǎn)品或 環(huán)境 服務(wù) 輸入 過程 /系統(tǒng) 輸出 顧客的呼聲 我們工作的方式 /資源的融合 統(tǒng)計(jì)方法 顧客 識別不斷變化的需求量和期望 變差 /波動(dòng) ? 過程的單個(gè)輸出之間不可避免的差別 ?變差的兩個(gè)原因： –普通原因 –特殊原因 ?變差的兩個(gè)趨勢 –集中趨勢 –離散趨勢 過程控制的需要 ? 檢測 容忍浪費(fèi)：抽樣或 100%檢驗(yàn)的不足 ? 預(yù)防 避免浪費(fèi)： – 質(zhì)量是生產(chǎn)出來的，不是檢驗(yàn)出來的 在生產(chǎn)過程中，產(chǎn)品的加工尺寸的波動(dòng)是不可避免的。它對產(chǎn)品質(zhì)量影響較小，在技術(shù)上難以消除，在經(jīng)濟(jì)上也不值得消除。 為什么要應(yīng)用 SPC 統(tǒng)計(jì)過程控制（ SPC）是一種借助數(shù)理統(tǒng)計(jì)方法的過程控制工具。 SPC正是利用過程波動(dòng)的統(tǒng)計(jì)規(guī)律性對過程進(jìn)行分析控制的。有時(shí)被稱為可查明原因，存在它的信號是：存在超過控制線的點(diǎn)或存在在控制線之內(nèi)的鏈或其他非隨機(jī)性的情形。 時(shí)間 范圍 局部措施和對系統(tǒng)采取措施 ? 局部措施 ? 通常用來消除變差的特殊原因 ? 通常由與過程直接相關(guān)的人員實(shí)施 ? 通?？杉m正大約 15%的過程問題 ? 對系統(tǒng)采取措施 ? 通常用來消除變差的普通原因 ? 幾乎總是要求管理措施，以便糾正 ? 大約可糾正 85%的過程問題 過度調(diào)整 ? 過度調(diào)整是把每一個(gè)偏離目標(biāo)的值當(dāng)作過程中特殊原因處理的作法。 ? 基于可控制和不可控制的變差的區(qū)分。 3 σ范圍的 x值，則認(rèn)為過程存在異常。 Α越大， β越小 1% 5% 10% 合理使用控制圖的益處 ? 供正在進(jìn)行過程控制的操作者使用 ? 有助于過程在質(zhì)量上和成本上能持續(xù)的、可預(yù)測的保持下去 ? 使