【正文】 品缺陷數(shù)的 u圖 “u”圖用來測(cè)量，容量不同的樣本 (受檢材料的量不同 )的子組內(nèi)每檢驗(yàn)單位產(chǎn)品之內(nèi)的缺陷數(shù)量。 主要不同之處如下： 118 A收集數(shù)據(jù) 檢驗(yàn)樣本的容量 (零件的數(shù)量，織物的面積，電線的長(zhǎng)度等 )要求相等，這樣描繪的 c值將反映質(zhì)量性能的變化 (缺陷的發(fā)生率 )而不是外觀的變化 (樣本容量 n)，在數(shù)據(jù)表中記錄樣本容量； 記錄并描繪每個(gè)子組內(nèi)的缺陷數(shù) (c) 119 CCCLCLCCUCLkCCCLkcccccccck?????????????33.....21B計(jì)算控制限 120 過程控制解釋、過程能力解釋 過程控制解釋 同 p圖解釋 過程能力解釋 過程能力為 c平均值，即固定容量 n的樣本的缺陷數(shù)平均值。 D過程能力解釋：過程能力如下： p :chart np of capability the114 1 09876543210543210S a m p l e N u m b e rSample CountN P C h a r t f o r C 2N P = 1 . 2 0 03 . 0 S L = 4 . 4 6 7 3 . 0 S L = 0 . 0 0 0100 100 100 100 100 100 100 100 100 100 1 2 1 0 1 2 1 2 0 2 不合格品數(shù) np圖 115 Case study 組 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 “n” 150 150 150 150 150 150 150 150 150 150 “d” 1 0 1 3 2 1 0 2 1 0 組 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 “ n” 150 150 150 150 150 150 150 150 150 150 “ d” 0 1 0 2 0 1 0 2 1 0 組 21 22 23 24 25 “ n” 150 150 150 150 150 “ d” 0 1 2 0 1 116 Case study ? 請(qǐng)計(jì)算出上表的 np控制圖的控制限？ ? 請(qǐng)判定過程是否穩(wěn)定？ ? 如果是不穩(wěn)定該如何處理？ 117 缺陷數(shù) c圖 “c”圖用來測(cè)量一個(gè)檢驗(yàn)批內(nèi)的缺陷的數(shù)量， c圖要求樣本的容量或受檢材料的數(shù)量恒定，它主要用以下兩類檢驗(yàn)： 不合格分布在連續(xù)的產(chǎn)品流上 (例如每匹維尼龍上的瑕疪，玻璃上的氣泡或電線上絕緣層薄的點(diǎn) )，以及可以用不合格的平均比率表示的地方 (如每 100平方米維尼龍上暇疵 )。 記錄并描繪每個(gè)子組內(nèi)的不合格品數(shù)(np)。分組的周期應(yīng)按照生產(chǎn)間隔和反饋系統(tǒng)而定。 各階段子組的樣本容量相同。 108 Case study 組 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 “n” 100 150 100 200 150 100 100 200 150 100 “d” 1 0 1 3 2 1 0 2 1 0 組 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 “ n” 150 200 100 150 100 100 150 200 200 150 “ d” 0 1 0 2 0 1 0 2 1 0 組 21 22 23 24 25 “ n” 100 150 200 150 100 “ d” 0 1 2 0 1 109 Case study ? 請(qǐng)計(jì)算出上表的 p控制圖的控制限？ ? 請(qǐng)判定過程是否穩(wěn)定？ ? 如果是不穩(wěn)定該如何處理？ 110 不合格品數(shù) np圖 “np”圖是用來度量一個(gè)檢驗(yàn)中的不合格品的數(shù)量，與 p圖不同， np圖表示不合格品實(shí)際數(shù)量而不是與樣本的比率?？勺鳛楝F(xiàn)行控制的基礎(chǔ)。 在過程改變期間出現(xiàn)的特殊原因變差被識(shí)別并糾正后，過程將按一個(gè)新的過程均值處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)。 對(duì)過程進(jìn)行改變時(shí)，應(yīng)小心地監(jiān)視控制。 可以使用諸如排列圖分析法及因果分析圖等解決問題技術(shù)。必須對(duì)系統(tǒng)本身直接采取管理措施，否則過程能力不可能得到改進(jìn)。 105 評(píng)價(jià)過程能力 過程穩(wěn)定，不良率維 持在一定的水平當(dāng)中 降低不良率 采取管理上的措施 降低偶因，如此才能 縮小控制界限，降低不良率 縮小控制限 106 改善過程能力 過程一旦表現(xiàn)出處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)，該過程所保持的不合格平均水平即反應(yīng)了該系統(tǒng)的變差原因─ 過程能力。 當(dāng)正式研究過程能力時(shí)，應(yīng)使用新的數(shù)據(jù)，最好是 25個(gè)或更多時(shí)期子組，且所有的點(diǎn)都受統(tǒng)計(jì)控制。如需要，還可以用符合規(guī)范的比例 (1p)來表示。它們便變成了操作控制限，當(dāng)將來的數(shù)據(jù)收集記錄了后，就對(duì)照它來評(píng)價(jià)。 99 控制圖的實(shí)時(shí)性 process TIME 100 重新計(jì)算控制限 當(dāng)進(jìn)行初始過程研究或?qū)^程能力重新評(píng)價(jià)時(shí)，應(yīng)重新計(jì)算試驗(yàn)控制限，以便排除某些控制時(shí)期的影響，這些時(shí)期中控制狀態(tài)受到特殊原因的影響，但已被糾正。由于特殊原因是通過控制圖發(fā)現(xiàn)的，要求對(duì)操作進(jìn)行分析，并且希望操作者或現(xiàn)場(chǎng)檢驗(yàn)員有能力發(fā)現(xiàn)變差原因并糾正。 98 尋找并糾正特殊原因 當(dāng)從數(shù)據(jù)中已發(fā)現(xiàn)了失控的情況時(shí)，則必須研究操作過程以便確定其原因。 控制限用水平虛線：一般為紅色虛線。 記錄過程的變化或者可能影響過程的異常狀況，當(dāng)這些情況被發(fā)現(xiàn)時(shí)，將它們記錄在控制圖的“備注”部份。 劃圖區(qū)域 90 A4將不合格品率描繪在控制圖上 描繪每個(gè)子組的 p值，將這些點(diǎn)聯(lián)成線通常有助于發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢(shì)。 Ppn 5~1?88 A2計(jì)算每個(gè)子組內(nèi)的不合格品率 記錄每個(gè)子組內(nèi)的下列值 被檢項(xiàng)目的數(shù)量 ─n 發(fā)現(xiàn)的不合格項(xiàng)目的數(shù)量 ─np 通過這些數(shù)據(jù)計(jì)算不合格品率 nnpndp ??89 A3選擇控制圖的坐標(biāo)刻度 描繪數(shù)據(jù)點(diǎn)用的圖應(yīng)將不合格品率作為縱坐標(biāo)，子組識(shí)別作為橫坐標(biāo)。 分組頻率：應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品的周期確定分組的頻率以便幫助分析和糾正發(fā)現(xiàn)的問題。 81 ? 估計(jì)過程標(biāo)準(zhǔn)偏差： ?式中， R為移動(dòng)極差的均值， d2是用于對(duì)移動(dòng)極差分組的隨樣本容量 n而變化的常數(shù)。 可用單值圖分析超出控制限的點(diǎn)，在控制限內(nèi)點(diǎn)的分布，以趨勢(shì)或圖形。記住連續(xù)的移動(dòng)極差間是有聯(lián)系的，因?yàn)樗鼈冎辽儆幸稽c(diǎn)是共同的。移動(dòng)極差的個(gè)數(shù)會(huì)比單值讀數(shù)少一個(gè) (25個(gè)讀值可得 24個(gè)移動(dòng)極差 )，在很少的情況下，可在較大的移動(dòng)組 (例如 3或 4個(gè) )或固定的子組 (例如所有的讀數(shù)均在一個(gè)班上讀取 )的基礎(chǔ)上計(jì)算極差。 78 A收集數(shù)據(jù) 收集各組數(shù)據(jù) 計(jì)算單值間的移動(dòng)極差。 單值控制圖不能區(qū)分過程零件間重復(fù)性，最好能使用 XbarR。 72 RDLCLRDUCLRCLRAmXLCLRAmXUCLXCLXRRRXXX342323~~~~????????全距管制圖值管制圖管制圖RX ?~B計(jì)算控制限 73 ?C過程控制解釋 ?(同 XbarR圖解釋 ) 管制圖RX ?~74 管制圖RX ?~估計(jì)過程標(biāo)準(zhǔn)偏差： 2?dR??75 Case study 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 1 67 76 74 72 76 74 70 72 70 73 74 73 70 72 2 68 75 73 74 78 74 72 74 78 76 74 76 75 79 3 68 77 96 75 78 71 73 75 77 75 76 77 75 80 4 69 79 95 72 80 72 71 76 72 75 77 72 72 78 5 67 75 75 73 76 72 70 73 72 74 75 74 75 75 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 1 75 74 70 62 74 78 80 80 72 55 70 73 72 73 2 74 78 65 64 75 77 81 79 68 56 72 73 74 72 3 78 77 65 62 76 72 81 74 68 58 71 76 70 74 4 79 72 64 61 75 73 79 74 65 56 72 74 74 76 5 75 75 68 65 72 75 76 75 73 60 73 71 70 70 76 Case study ? 請(qǐng)計(jì)算出上表的 XR控制圖的控制限？ ? 請(qǐng)判定過程是否穩(wěn)定？ ? 如果是不穩(wěn)定該如何處理？ ? 如果制程假設(shè)已穩(wěn)定，但想將抽樣數(shù)自 n=4調(diào)為 n=5時(shí)，那么其新控制限為何？ 77 管制圖mRX ?單值控制在檢查過程變化時(shí)不如 XbarR圖敏感。 65 管制圖sX ?A收集數(shù)據(jù)：在計(jì)算各個(gè)子組的平均數(shù)和標(biāo)準(zhǔn)差其公式分別如下： 554321 xxxxxx ?????1)( 2??? ?nxxs i66 SBLCLSBUCLSCLSAXLCLSAXUCLXCLRRRXXX3433????????標(biāo)準(zhǔn)差管制圖平均值管制圖B計(jì)算控制限 管制圖sX ?67 ? C過程控制解釋 ?(同 XR圖解釋 ) 管制圖sX ?68 ? D過程能力解釋 管制圖sX ?4?cs??69 Case study 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10