【正文】 。 4 Implement SPC for defects from yield failures 實施來自不良率的缺點的統(tǒng)計制程控制 Supplier has developed C or U charts and established a Pareto of defect categories. This Pareto is updated on a regular basis. 供應(yīng)商已經(jīng)展開 C圖或 U圖并建立缺陷種類的柏拉圖?！?u”圖的繪制和“ p”圖相似，不同之處如下： 124 A收集數(shù)據(jù) 各子組樣本的容量彼此不必都相同，盡管使它的容量保持在其平均值的正負(fù)25%以內(nèi)可以簡化控制限的計算。 112 B計算控制限 )1()1(3)1(3.....21ppnppnpnLCLppnpnUCLkddpnCLknpnpnppnnpnpnpnpk?????????????????113 過程控制解釋、過程能力解釋 C過程控制解釋：同“ p”圖的解釋。但是還應(yīng)對繼續(xù)系統(tǒng)進行調(diào)查和改進。有必要使用長期的解決問題的方法來糾正造成長期不合格的原因。 101 收集數(shù)據(jù) 繪圖及計算 控制限 是否異常 延伸控制限 N 找出異常點原因 并提出相應(yīng)措施 制程有變化 人機料法環(huán)測量 Y 控制限運用說明 102 Ｄ過程能力解釋 D1計算過程能力 D2評價過程能力 D3改進過程能力 D4繪制并分析修改后的過程控制圖 建立 p的步驟 D 103 過程能力解釋 偶因和異因并存 找出異因 只剩偶因 運用控制圖 過程穩(wěn)定 (連 25點不超限 ) 計算過程能力 104 計算過程能力 對于 p圖，過程能力是通過過程平均不合格率來表，當(dāng)所有點都受控后才計算該值。 盡量讓樣本數(shù)一致，如果樣本數(shù)一直在變化則會如下圖： 100 200 300 100 200 100 100 200 300 100 1 2 1 2 1 2 1 2 3 2 94 1 098765432100 . 0 40 . 0 30 . 0 20 . 0 10 . 0 0S a m p l e N u m b e rProportionP C h a r t f o r C 2P = 0 . 0 1 0 0 03 . 0 S L = 0 . 0 3 9 8 5 3 . 0 S L = 0 . 0 0 095 判讀 : 96 Ｃ過程控制用控制圖解釋 C1分析數(shù)據(jù)點，找出不穩(wěn)定證據(jù) C2尋找并糾正特殊原因 C3重新計算控制界限 超出控制限的點 鏈 明顯的非隨機圖形 建立 p圖的步驟 C 97 分析數(shù)據(jù)點，找出不穩(wěn)定的證據(jù) 點 線 面 以上三種方式做判定。時間隔短則反饋快，但也許與大的子組容量的要求矛盾 子組數(shù)量：要大于等于 25組以上，才能判定其穩(wěn)定性。 管制圖mRX ?79 mRmRmRmXmXxRDLCLRDUCLRCLREXLCLREXUCLXCLX3422全距管制圖值 管制圖~????????管制圖mRX ??B計算控制限 80 管制圖mRX ?C過程控制解釋 審查移動極差圖中超出控制限的點，這是存在特殊原因的信號。如果子組樣本容量為偶數(shù)，中位數(shù)是中間兩個數(shù)的均值。 41 控制圖示意說明 初期的二十五點 計算時有些超出 控制界限，此時 須尋找原因。 11 SPCSQC PROCESS 原料 測量 結(jié)果 針對產(chǎn)品所做的是在做 SQC 針對過程的重要控制參數(shù)所做的才是 SPC 針對原料所做的 控制也可屬 SPC 12 SPC用在那里？ PROCESS OUTPUT INPUT 消極的地方 只能防堵 積極的地方 可防止不良 積極的地方 可防止不良 13 SPC想法 藉由以往的數(shù)據(jù) 了解正常的變異范圍 設(shè)定成控制界限 繪點判定是否超出界限 糾正異常 持續(xù)改進，縮小控制界限 14 SPC目的 了解 CTQ，定義 Y 了解影響 CTQ的因子， Y=f(x1,x2..) 做解析用控制圖，了解正常變異范圍 制程穩(wěn)定，控制界限延用 現(xiàn)場繪圖、點圖、判圖、糾異 持續(xù)改進、縮小變異 15 SPC原理 收集數(shù)據(jù) 一開始要多收 集數(shù)據(jù)以了解 制程狀況 解析數(shù)據(jù) 了解其正常波 動的范圍 控制用圖形 運用控制限來 判定制程是否 異常 16 16 正確應(yīng)用 SPC的 7項重要概念 (一 ) SPC重要概念 1 ： 把客戶需求轉(zhuǎn)換成質(zhì)量特性為應(yīng)用 SPC的第一要務(wù) . 17 17 (二 ) SPC重要概念 2： 應(yīng)把焦點集中在如何利用控制制程參數(shù)，以使制程維持在穩(wěn)定狀態(tài)，并且使其具備足夠符合質(zhì)量規(guī)格之能力 18 18 (三 ) SPC重要概念 3： 應(yīng)利用適當(dāng)之管制圖，以判斷制程是否持續(xù)維持在穩(wěn)定狀態(tài) (四 ) SPC重要概念 4： 不可忽視量測系統(tǒng)之重要性 (五 ) SPC重要概念 5： 制程不穩(wěn)定的三大可能原因 1. 未適當(dāng)層別 2. 迷信反饋控制 (即過度調(diào)整 ) 3. 原物料不穩(wěn)定 19 19 (六 ) SPC重要概念 6： 光有穩(wěn)定的制程是不夠的 ，你的制程必須還要具備足夠符合質(zhì)量規(guī)格之能力 (七 ) SPC重要概念 7： 你可能會遇到的兩種問題：由管制圖中判讀出有偶發(fā)性的異?，F(xiàn)象發(fā)生及制程能力不足 ， 解決這兩種問題的方法完全不同 20 控制圖種類 (以數(shù)據(jù)來分 ) 計量值控制圖 平均值與全距控制圖 平均值與標(biāo)準(zhǔn)差控制圖 中位值與全距控制圖 個別值與移動全距控制圖 計數(shù)值控制圖 不良率控制圖 不良數(shù)控制圖 缺點數(shù)控制圖 單位缺點控制圖 21 “ n”=10~25 控制圖的選定 資料性質(zhì) 不良數(shù)或 缺陷數(shù) 單位大小 是否一定 “ n”是否一定 樣本大小 n≧ 2 Cl的性質(zhì) “n”是否較大 “u” 圖 “c” 圖 “np” 圖 “p” 圖 XRm 圖 XR 圖 XR 圖 Xs 圖 計數(shù)值 計量值 “n”=1 n≧ 2 中位數(shù) 平均值 “ n”=2~5 缺陷數(shù) 不良數(shù) 不一定 一定 一定 不一定 控制圖的選擇 22 CASE STUDY 質(zhì)量特性 樣本數(shù) 選用什么圖 長度 5 重量 10 乙醇比重 1 電燈亮／不亮 100 每一百平方米的臟點 100平方米 23 控制圖所用的統(tǒng)計原理 計量型 XbarR Xbars X中位數(shù) R XRm 正態(tài)分布 計數(shù)型 P np 二項分布 計數(shù)型 C u 卜氏分布 24 搜集數(shù)據(jù) 繪解析用控制圖 是否穩(wěn)定 繪直方圖 是否滿足規(guī)格 控制用控制圖 尋找異常原因 檢討機械、設(shè)備 提升制程能力 控制圖的繪制流程 25 控制圖種類 (依用途來分 ) 解析用控制圖 決定方針用 制程解析用 制程能力研究用 制程管制準(zhǔn)備用 解析用 穩(wěn)定 控制用 管制用控制圖 追查不正常原因 迅速消除此項原因 并且研究采取防止此項原因重復(fù)發(fā)生之措施 26 % % % μ +1σ +2σ +3σ 1σ 2σ 3σ 正態(tài)分布概率 27 中央極限定理 ),(2??N 24 )4,( ,4,2????????xmeanitNthennwhen39 )9,( ,9,2????????xmeanitNthennwhen28 為何樣本數(shù)不同時控制限不同 主要原因就是因為中央極限定理，自中央極限定理來看，樣本愈多時，其控制限愈狹窄。 10 Y=f(x1,x2,….) Y可視為顧客所要求的產(chǎn)品特性。 經(jīng)過平均值之后，其分布會更趨近于正態(tài)分布。 64 Cpk和 Ppk的差異 Cpk：只考慮了組內(nèi)變異，而沒有考慮組間變異，所以一定是適用于制程穩(wěn)定時，其組間變異很小可以忽略時，不然會高估了制程能力；另句話也可以說明如果努力將組間變異降低時所能達到的程度。 78 A收集數(shù)據(jù) 收集各組數(shù)據(jù) 計算單值間的移動極差。 81 ? 估計過程標(biāo)準(zhǔn)偏差： ?式中， R為移動極差的均值， d2是用于對移動極差分組的隨樣本容量 n而變化的常數(shù)。 記錄過程的變化或者可能影響過程的異常狀況，當(dāng)這些情況被發(fā)現(xiàn)時，將它們記錄在控制圖的“備注”部份。 99 控制圖的實時性 process TIME 100 重新計算控制限 當(dāng)進行初始過程研究或?qū)^程能力重新評價時，應(yīng)重新計算試驗控制限，以便排除某些控制時期的影響，這些時期中控制狀態(tài)受到特殊原因的影響，但已被糾正。 105 評價過程能力 過程穩(wěn)定，不良率維 持在一定的