特種設備無損檢測相關知識-文庫吧資料
2025-01-20 15:05本頁面
【正文】 五、影響探傷結(jié)果的因素1）儀器與探頭組合性能 垂直線性－－會影響缺陷當量大小判定 水平線性－－影響缺陷定位，非缺陷波的識別 盲區(qū)－－影響近表面的缺陷的檢測2）探頭頻率－－理論上能夠發(fā)現(xiàn)的最小缺陷是波長的 1/2，在能保證穿透的前提下，選高一些頻率直徑－－直徑大，發(fā)射功率大，能探厚度大的工件，工作 效率高，但近場區(qū)長度增加，近場區(qū)內(nèi)易漏缺陷，波高不穩(wěn)。斜楔的縱波聲速必須小于工件中的縱波波速 ,要耐磨、易加工 ,對超聲波的衰減系數(shù)小。探頭的主要參數(shù)有：晶片材料、直徑、頻率、保護膜如 四、儀器探頭試塊（ 2）斜探頭結(jié)構(gòu)主要有壓電晶片 、斜楔、電纜線、阻尼塊、吸聲材料、外殼、接頭。阻尼塊的作用是：晶片在受激勵振蕩后立即停下來，使脈沖寬度變小，分辨力提高。根據(jù)晶片數(shù)可分為單晶片、雙晶片。儀器顯示方式儀器的主要性能指標（含與探頭后）：水平線性 、垂直線性、靈敏度、盲區(qū)、始脈沖寬度、分辨力等四、儀器探頭試塊探頭根據(jù)波型，探頭可分為有縱波探頭、橫波探頭、表面波探頭、板波探頭等。為使進入放大器中的信號在一定范圍，儀器上有一衰減器。三、超聲波探傷原理橫波探傷示意圖超聲波橫波探傷水平定位超聲波橫波探傷深度定位四、儀器探頭試塊儀器按缺陷的顯示方式分為 A 型 B型還有 C型，普遍使用 A型顯示。三、超聲波探傷原理探傷方法分類① 按波型分： a 縱波探傷：垂直探傷法b 橫波探傷：斜射探傷法c 表面波探傷② 按耦合方式分a 直接耦合接觸法 ，又稱接觸法。三、超聲波探傷原理 把 15兆赫（ 1－ 5MHZ）高頻超聲波入射到被檢物中，如遇到缺陷（界面）則一部分入射超聲波被反射，并利用探頭接收反射信號的性能，可不損壞工件檢出缺陷大小（尺寸）和位置，這種方法叫 UT檢測。二、超聲波的發(fā)射與接收在聲束徑向上的聲壓分布情況：分別是 N 3N和 6N處聲壓分布在聲束徑向上的聲壓分布情況：分別是晶片附近、 1/2 N和1 N處聲壓分布二、超聲波的發(fā)射與接收4）橫波發(fā)射聲場 常用的橫波探頭，是使縱波傾斜入射到界面 上，通過波型轉(zhuǎn)換來實現(xiàn)橫波探傷的。N近場長度計算N=(D2 λ2)/4λ探傷時缺陷在聲場中才能被發(fā)現(xiàn)，如在近場區(qū)聲壓為零處也不能發(fā)現(xiàn)。二、超聲波的發(fā)射與接收（ 1）超聲場的形狀如圖指向性用半擴散角表示， θ＝ 。如果晶片在超聲波的聲壓作下，在晶片兩側(cè)產(chǎn)生電荷，產(chǎn)生一個小的電信號，經(jīng)放大器放大后可識別。反之當晶體材料在交變電場作用下，產(chǎn)生伸縮變形的效應稱為逆壓電效應。介質(zhì) 1介質(zhì) 2α介質(zhì) 1介質(zhì) 2αβ Lβ S一、超聲波的性質(zhì)在有機玻璃與鋼的介面，第一臨界角為 α1=βS= 0，用于焊縫檢測的超聲波斜探頭的入射角必須大于第一臨界角而小于第二臨界角。焊縫探傷用的橫波就是，經(jīng)過界面波型轉(zhuǎn)換得到的。介質(zhì) 1介質(zhì) 2αβ Lβ Sα S’α L
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