freepeople性欧美熟妇, 色戒完整版无删减158分钟hd, 无码精品国产vα在线观看DVD, 丰满少妇伦精品无码专区在线观看,艾栗栗与纹身男宾馆3p50分钟,国产AV片在线观看,黑人与美女高潮,18岁女RAPPERDISSSUBS,国产手机在机看影片

正文內(nèi)容

集成電路ic測(cè)試簡(jiǎn)介課件ppt-文庫(kù)吧資料

2024-08-20 11:01本頁(yè)面
  

【正文】 不符合規(guī)格,那么它會(huì)被測(cè)試過(guò)程判為失效 (Fail),通常會(huì)用墨點(diǎn) (Ink)將其標(biāo)示出來(lái)(也可以通過(guò) Mapping圖來(lái)區(qū)分)。測(cè)試一片晶圓稱為“ Circuit probe”(即常說(shuō)的 CP,芯片測(cè)試 )、“ Wafer probe”或者“ Die sort”。 測(cè)試相關(guān)術(shù)語(yǔ) Test technicalities ? CP Circuit probing(晶圓測(cè)試、中測(cè) ) ? FT Final test (成品測(cè)試 ) ? ATE Automatic Test Equipment(自動(dòng)測(cè)試設(shè)備 ) ? DUT Device Under Test(被測(cè)器件 ) ? DIB Device Interface Board / Load board(負(fù)載板,用于成測(cè) ) ? Die An individual site on a wafer (指晶圓上的芯片 ) ? PIB Probe Interface Board (用于中測(cè) ) ? BIN Sorting the DUTs dependant upon test results (指給所測(cè)芯片分類(lèi) ) ? Handler 自
點(diǎn)擊復(fù)制文檔內(nèi)容
環(huán)評(píng)公示相關(guān)推薦
文庫(kù)吧 www.dybbs8.com
備案圖鄂ICP備17016276號(hào)-1