巖石礦物樣品成分分析法-文庫吧資料
2025-07-01 02:33本頁面
【正文】 ?X射線螢光分析：用強度很高的X射線照射樣品，樣品會因吸收X射線的能量而激發(fā)，放出所含元素本身特有的X射線光譜。應(yīng)用：(1) 判別結(jié)晶物質(zhì)中原子的間隔與排列，對金屬、高分子物質(zhì)和其他固體物理性質(zhì)有更清晰的聊解。光譜線的強度，大致與各成分的含量成正比。再者，結(jié)晶上各面原子密度不同，則各面繞射時的強度也就不同，因此由一粉末繞射光譜中，各光譜線的強弱和位置，就可以鑑定某一結(jié)晶物質(zhì)的存在。根據(jù)粉末繞射光譜，可以鑑定結(jié)晶性物質(zhì)。又知道AP = PC = d sinθ其中d為結(jié)晶的平面距離，因此可得出光束在θ角的建設(shè)性干涉條件為：nλ= 2d sinθ (Bragg diffraction law)只有在入射角滿足sinθ= nλ/2d時，X射線像是被晶體反射，其他角度都是破壞性干涉。s Law）：有一窄光束以θ角打在結(jié)晶表面，射線與O, P, R處的原子作用而產(chǎn)生散射。繞射的條件：(1)原子層之間的間隔必須與輻射的波長大約相同；(2)散射中心的空間分佈必須有高度規(guī)則性。當(dāng)原子內(nèi)層失去電子後，外層電子就會移向內(nèi)層，填補空軌，當(dāng)原子外層電子移向內(nèi)層電子空軌道時，放出的能量是移動兩個能階的能量差，這個能量差所形成射線，就是X射線。巖石礦物樣品成分分析法 8 主要元素（major elements）X
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