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巖石礦物樣品成分分析法-在線瀏覽

2024-08-05 02:33本頁面
  

【正文】 用的X射線分析儀器有:(1) X射線光譜儀 (Xray sepctrometer)(2) X射線繞射儀 (Xray diffratometer):XRD(3) X射線螢光儀 (Xray fluorescence spectrometer):XRF(4)電子微探儀 (Electron microprobe)通常X射線分析儀器,一定包括以下部分:(1)高電壓發(fā)生器(Highvoltage generator)(2) X射線管(Xray tube)(3)分光晶體(Analyzer crystal)(4)偵檢器(Detector)? X射線的繞射現(xiàn)象和布拉格定律:當X射線被一晶體內(nèi)的規(guī)則環(huán)境散射,散射的光線間即產(chǎn)生干涉(建設(shè)性或破壞性都有),因為散射中心之間的距離與輻射波長長短相近,即為繞射。布拉格定律(Bragg39。如果距離:AP + PC = nλ其中n為整數(shù),則散射的輻射會在OCD同相,晶體看起來像是反射X射線。?X射線繞射分析:將物質(zhì)研磨成細粉,測定此細粉的X射線繞射情形,鑑定物質(zhì)結(jié)晶型態(tài)的簡便方法,稱為粉末繞射。由光譜上之各繞射角,就可以根據(jù)Bragg diffr
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