巖石礦物樣品成分分析法-閱讀頁
2025-07-10 02:33本頁面
【正文】 action law，算出結晶中所有組面的垂直距離。若樣品是很多種結晶性物質的混合物，各成分的繞射光譜均可觀察的到。因此，X射線粉末繞射光譜也可以作各結晶成分的定量分析；不過精確度不高。(2) 定性鑑定結晶化合物 （因為每種物質的X射線繞射線都很特別，如果一未知樣品的繞射線與已知標樣相符，就可認定它們化學成分上相同）。這種方式產生的X射線是為螢光。注意在使用X射線螢光儀時，必須慎選所用的X光管。因為激發(fā)螢光的原X射線，自X光管發(fā)射照射樣品時，必有部分會被反射經(jīng)分光晶體而被偵檢到若樣品中有靶極元素，其發(fā)射的螢光就與原發(fā)的X射線相同，就不能分析。 質 譜 分 析 法 將樣品中的化合物離子化，變成快速移動的離子（常帶正電），然後根據(jù)其質量電荷比（質荷比）解析得到一質譜。所以，質譜提供的資料可以用在解析化學結構上。2). 樣品的分子被一電子流所游離；撞擊後會產生正離子與負離子，前者占多數(shù)，且分析時是用正粒子。平行的正離子束通過狹縫B進入分離區(qū)域。5). 通過出口狹縫的離子落在收集電極上，所得到的離子電流放大後，用記錄器記錄下來。相對的金屬棒一對接到直流電的正極，另一對接到負極；另外還加了一電壓在這兩對電極棒上。只有某種質荷比的粒子才能通過而不會與金屬棒相
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