巖石礦物樣品成分分析法(文件)
【正文】 的磁場(chǎng)作用造成彎曲的路徑，此彎曲路徑的半徑依其速度、質(zhì)量，以及磁場(chǎng)強(qiáng)度而定；所以改變加速電位或磁場(chǎng)強(qiáng)度可以將不同質(zhì)量的粒子集中到出口狹縫。P 原理：1). 樣品揮發(fā)後慢慢滲入游離室，此游離室的壓力保持約在105 torr?？捎迷诙ㄐ耘c定量分析。將樣品放射出來的螢光，利用分光晶體分光後，偵檢各不同波長(zhǎng)的強(qiáng)度，就可以分析樣品中所含的元素種類，也可更進(jìn)一步定出含量。應(yīng)用：(1) 判別結(jié)晶物質(zhì)中原子的間隔與排列，對(duì)金屬、高分子物質(zhì)和其他固體物理性質(zhì)有更清晰的聊解。再者，結(jié)晶上各面原子密度不同，則各面繞射時(shí)的強(qiáng)度也就不同，因此由一粉末繞射光譜中，各光譜線的強(qiáng)弱和位置，就可以鑑定某一結(jié)晶物質(zhì)的存在。又知道AP = PC = d sinθ其中d為結(jié)晶的平面距離，因此可得出光束在θ角的建設(shè)性干涉條件為：nλ= 2d sinθ (Bragg diffraction law)只有在入射角滿足sinθ= nλ/2d時(shí)，X射線像是被晶體反射，其他角度都是破壞性干涉。繞射的條件：(1)原子層之間的間隔必須與輻射的波長(zhǎng)大約相同；(2)散射中心的空間分佈必須有高度規(guī)則性。巖石礦物樣品成分分析法 8 主要元素（major elements）Xray fluorescence spectrometry－X光螢光分析（XRF）8 微量元素（tr
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