【正文】 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 管制上限 管制下限 連續(xù) 5點(diǎn)中有 4點(diǎn) 在 區(qū)域 B或以上 連續(xù) 5點(diǎn)中有 4點(diǎn) 在 區(qū)域 B或以上 連續(xù) 5點(diǎn)中有 4點(diǎn) 在 區(qū)域 B或以上 連續(xù) 3點(diǎn)中有 2點(diǎn)在 區(qū)域 A或以上 看有無(wú)任何點(diǎn)在 A區(qū)之外 ? 規(guī)則 1. 一點(diǎn)落在 A區(qū)之外 (超出管制界限 ) 看有無(wú)接近的兩點(diǎn)在 A區(qū) (含 )之外 ? 規(guī)則 A區(qū) 看有無(wú)接近的四點(diǎn)在 B區(qū) 之外 規(guī)則 B區(qū)或是 B區(qū)之外 看有無(wú)連續(xù) 7點(diǎn)往同一方向走 規(guī)則 看有無(wú)連續(xù) 8點(diǎn)出現(xiàn)在中心線同側(cè) 規(guī)則 World Class Quality Unimicron 27 前次投影片 ▼ 連串測(cè)試 (Run Test)法則 連串測(cè)試係應(yīng)用於 管制圖中心線的 同一側(cè) 。 ▼ 區(qū)間測(cè)試 (Zone Test)法則 區(qū)間法則 (又稱為 Western Electric rules)可適用於管制圖中心線之 兩側(cè) 。 在中心線的 同一側(cè) 。 中有 四點(diǎn) 落在 B區(qū)或是 B區(qū)之外。 2s 2s Mean 3s 3s 1s 1s % % % World Class Quality Unimicron 24 前次投影片 區(qū)間測(cè)試包含： 落在 A區(qū)之外 (超出管制界限 )。 (3).僅有少數(shù)點(diǎn) (約 5%)靠近管制界限 (hugging the Control limits）。 (1).中心線上下的點(diǎn)數(shù)要大約相等 (各佔(zhàn) 40%~60%)。常用之計(jì)數(shù)值管制圖有： 不良率 管制圖 (p Chart) 不良數(shù) 管制圖 (np Chart) 缺點(diǎn)數(shù) 管制圖 (c Chart) 單位缺點(diǎn)數(shù) 管制圖 (u Chart) World Class Quality Unimicron 22 前次投影片 XR 圖 管制圖的選定 計(jì)量值 (Variable data) 資料性質(zhì) 計(jì)數(shù)值 (Attribute data) 中心線 n大小 樣本數(shù)目 n大小 不良 /缺點(diǎn) n固定 ? n固定 ? 不良率 (%) 缺點(diǎn)數(shù) c 圖 p 圖 u 圖 np 圖 XRm 圖 ~ XR 圖 __ XS 圖 n=1 n≧ 2 n≦10 n10 __ X ~ X 固定 不固定 固定 不固定 XS 圖 p 圖 u 圖 World Class Quality Unimicron 23 前次投影片 ▼ 基本原則 正常管制圖上的點(diǎn)，必須符合 : (1)隨機(jī)分散 （ random fluctuation）與 (2)常態(tài)分佈 (normal distribution) 的原則 ，所以至少要滿足下面幾點(diǎn)要求： ● 管制圖之研判與分析 但是下列法則若有一成立，則判斷 製程失控 : 一點(diǎn) 落在 管制界線外 。 常用之計(jì)量值管制圖有： ● 管制圖之種類 平均值與全距之管制圖 (XR Chart) (註 : 唸成 XbarR) 平均值與標(biāo)準(zhǔn)差之管制圖 (XS Chart) (註 : 唸成 XbarS) ~ 中位值與全距之管制圖 (XR Chart) (註 : 唸成 XcurlR) 個(gè)別值與移動(dòng)全距管制圖 (XRm Chart) 依據(jù)收集數(shù)據(jù)的型態(tài)分： 1)計(jì)量值管制圖 1)計(jì)量值管制圖 ,2)計(jì)數(shù)值管制圖 World Class Quality Unimicron 21 前次投影片 ※ 注意 : 計(jì)數(shù)值 管制圖皆祇有 一個(gè)圖 ， 而 計(jì)量值 管制圖則有 兩個(gè)圖 。管制圖同時(shí)可展示 時(shí)間順序 的資料。 因此，管制圖可將「 設(shè)計(jì) 」、「 製造 」、「 檢驗(yàn) 」等三階段之工作連成一體，為工廠中在生產(chǎn)工作方面最有效之工具 。 。管制圖可用來(lái)判斷品質(zhì)變異之顯著性，以測(cè)知製程是否在正常狀態(tài)。典型之管制圖包含一 中心線 (Center Line, CL)，用以代表製程處?kù)督y(tǒng)計(jì)管制內(nèi)時(shí)品質(zhì)特性之平均值。 如發(fā)現(xiàn)有 超出管制界限外之點(diǎn) 或是 出現(xiàn)特殊圖樣 (異?，F(xiàn)象 )時(shí) ， 應(yīng)立即由 人員 、 機(jī)械設(shè)備 、 材料 、 方法 (4M)或環(huán)境 (1E)等方向進(jìn)行層別以追查原因 ， 進(jìn)而改善製程 。 World Class Quality Unimicron 15 前次投影片 隨機(jī)原因 非隨機(jī)原因 World Class Quality Unimicron 16 前次投影片 第一單元 總結(jié) A3:非隨機(jī)原因或特殊原因 . ? A1:利用抽樣所得之樣本資料 (樣本統(tǒng)計(jì)量 ) 來(lái)監(jiān)視製程之狀態(tài) . (SPC)? A2:第一次就做對(duì) (Do it right the first time). ? World Class Quality Unimicron 17 前次投影片 ● 管制圖簡(jiǎn)介 1924年 休哈特 ()提出了 管制圖 (Control Chart)的概念與方法 。統(tǒng)計(jì)製程管制的一些手法如：品管七大手法、管制圖等，將可有助於迅速的偵測(cè)出製程發(fā)生變異及找出變異之原因。這些變異稱為 可歸屬原因 (assignable cause)或 非隨機(jī)原因 或 特殊原因 (special cause)，製程若在 可歸屬變異 下操作則稱其為 製程失控 (out of control)。 統(tǒng)計(jì)製程管制之主要目的，在 儘快偵測(cè)出 可歸屬原因 之發(fā)生或 製程之異常跳動(dòng) ，以便在製造出更多不合格品之前，就能發(fā)現(xiàn)製程之變異並進(jìn)行改善工作 。這些變異是由一些小量不可控制原因累積而成， 例如：同種原料內(nèi)的變化、機(jī)器的振動(dòng)所引起的變化等 ，當(dāng)這些變異之量極小時(shí)，製程仍可被接受。而製程管制即是品管的一種技巧， 凡與製程有關(guān)之人員均需具備製程管制的相關(guān)知識(shí)或技巧 ，盡到自己的品質(zhì)責(zé)任。 ) ? 最常用的離中趨勢(shì)指標(biāo)： 全距 、 變異數(shù) 及