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spc統(tǒng)計制程管制培訓(xùn)講義(1)-文庫吧資料

2025-02-24 14:36本頁面
  

【正文】 提供相應(yīng)的資源 管理者支持 ◆ 定義過程 根據(jù)加工過程和上下使用者之間的關(guān)系,分析每個階段的影響因素。 54 SPC統(tǒng)計制程管制 六、計數(shù)型數(shù)據(jù)管制圖 u圖 /單位不良 (缺陷 )數(shù)管制圖 ◆ 采用時機(jī): u圖用來測量具有不同的樣本(受檢材料的量不同)的子組內(nèi)每檢驗單 位產(chǎn)品之內(nèi)的不合格數(shù)量(可以用 不良率 表示)。 各階段子組的樣本容量相同。 (初始研究時 , 這些被認(rèn)為是試驗控制限 。3 P (1– P )/n = P 177。 B、 分別找出樣本容量超出該范圍的所有子組和沒有超出該范圍的子組。 方法如下 : A、 確定可能超出其平均值 177。 4計算管制界限: 計算過程不良率 (P bar): P bar=( n1p1+n2p2+…+nkpk ) / (n1+n2+…+nk) 49 SPC統(tǒng)計制程管制 六、計數(shù)型數(shù)據(jù)管制圖 P圖 /不良率管制圖 2 計算控制上、下限 (P bar): nPPPLCLnPPPUC LPP)1(3)1(3??????注: 1從上述公式看出 , 凡是各組容量不一樣 , 控制限隨之變化 。 分組頻率:根據(jù)實(shí)際情況,兼容量大和信息反饋快的要求。 范圍 范圍 目標(biāo)值線 預(yù)測 預(yù)測 目標(biāo)值線 時間 時間 40 SPC統(tǒng)計制程管制 三、持續(xù)改進(jìn)及 SPC概述 局部措施和對系統(tǒng)采取措施 ◆ 局部措施 通常用來消除變差的特殊原因通常由與過程直接相 關(guān)的人員實(shí)施通??杉m正大約 15%的過程問題 ◆ 對系統(tǒng)采取措施 通常用來消除變差的普通原因幾乎總是要求管理措 施,以便糾正大約可糾正 85%的過程問題 41 SPC統(tǒng)計制程管制 三、持續(xù)改進(jìn)及 SPC概述 過程控制及過程能力 1 ◆ 過程控制 范圍 不受控 (存在特殊原因 ) 受控 (消除了特殊原因 ) 時間 42 SPC統(tǒng)計制程管制 三、持續(xù)改進(jìn)及 SPC概述 過程控制及過程能力 2 ◆ 過程能力 范圍 受控但沒有能力符合規(guī)范 (普通原因造成的變差太大 ) 受控且有能力符合規(guī)范 (普通原因造成的變差已減少) 時間 規(guī)范下限 規(guī)范上限 43 SPC統(tǒng)計制程管制 三、持續(xù)改進(jìn)及 SPC概述 過程改進(jìn)循環(huán) ◆ 分析過程 本過程該做什么? 會出現(xiàn)什么錯誤? 本過程正在做什么? 達(dá)到統(tǒng)計控制狀態(tài)? 確定能力 P A C D C A D C A D P P ◆ 維護(hù)過程 監(jiān)視過程性能 查找過程變差的特殊原因并采取措施 ◆ 改進(jìn)過程 改進(jìn)過程從而更好地理解普通原因變差 減少普通原因變差 44 SPC統(tǒng)計制程管制 三、持續(xù)改進(jìn)及 SPC概述 控制圖 1 控制上限 中心線 控制下限 ◆ 收集 收集數(shù)據(jù)并畫在圖上 ◆ 控制 根據(jù)過程數(shù)據(jù)計算實(shí)驗控制限識別變差的特殊原因并采取措施 ◆ 分析及改進(jìn) 確定普通原因變差的大小并采取減小它的措施 重復(fù)這三個階段從而不斷改進(jìn)過程 45 SPC統(tǒng)計制程管制 三、持續(xù)改進(jìn)及 SPC概述 控制圖 2 ◆ 控制圖的益處: ● 供正在進(jìn)行過程控制的操作者使用 ● 有助于過程在質(zhì)量上和成本上能持續(xù)地,可預(yù)測地保持下去 ● 使過程達(dá)到: ─ 更高的質(zhì)量 ─ 更低的單件成本 ─ 更高的有效能力 ● 為討論過程的性能提供共同的語言 ● 區(qū)分變差的特殊原因和普通原因,作為采取局部措施或?qū)ο到y(tǒng)采取措施的指南 46 SPC統(tǒng)計制程管制 四、管制圖的種類 計量型數(shù)據(jù) XR 均值和極差圖 計數(shù)型數(shù)據(jù) P chart 不良率管制圖 Xδ均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖 nP chart 不良數(shù)管制圖 X med R 中位值極差圖 C chart 缺點(diǎn)數(shù)管制圖 XMR 單值移動極差圖 U chart 單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖 47 SPC統(tǒng)計制程管制 五、管制圖的選擇方法 確定要制定控制圖的特性 是計量型數(shù)據(jù)嗎? 關(guān)心的是不合格品率? 關(guān)心的是不合格數(shù)嗎? 樣本容量是否恒定? 使用 np或 p圖 使用 p圖 樣本容量是否 桓 定? 使用 c或 u圖 性質(zhì)上是否是均勻或不能按子組取樣 — 例如:化學(xué)槽液、批量油漆等? 子組均值是否能很方便地計算? 使用中 位數(shù)圖 使用單值圖XMR 是 使用 u圖 否 是 是 是 是 是 是 否 否 否 否 否 子組容量是否大于或等于 9? 是否能方便地計算每個子組的 S值? 使用 X— R圖 使用 X— R圖 使用 X— s圖 是 是 是 否 否 48 SPC統(tǒng)計制程管制 六、計數(shù)型數(shù)據(jù)管制圖 P圖 /不良率管制圖 1 ◆ P圖是用來測量在一批檢驗項目中不合格品(缺陷)項目的百分?jǐn)?shù)。只用特殊原因被查出且采取 措 施 ,否則它們將繼續(xù)不可預(yù)測的影響過程的輸出 39 SPC統(tǒng)計制程管制 三、持續(xù)改進(jìn)及 SPC概述 變差的普通原因和特殊原因 2 ◆ 如果僅存在變差的 普通原因,隨著時間 的推移,過程的輸出 形成一個穩(wěn)定的分布 并可預(yù)測。只有過程變差的普通原因存在且不改變時,過程的輸出才可以預(yù)測。 P p k= 規(guī)格上限 X bar 3σp X bar規(guī)格下限 3σp 或 (取其 較 小值 ) 37 SPC統(tǒng)計制程管制 三、持續(xù)改進(jìn)及 SPC概述 制程控制系統(tǒng) ◆ 有反饋的過程控制系統(tǒng)模型 識別不斷變化的需求量和期望 顧客 統(tǒng)計方法 我們工作的方式 /資源的融合 產(chǎn)品或服務(wù) 輸入 過程的呼聲 輸出 過程 /系統(tǒng) 人 設(shè)備 材料 方法 環(huán)境 38 SPC統(tǒng)計制程管制 三、持續(xù)改進(jìn)及 SPC概述 變差的普通原因和特殊原因 1 ◆ 普通原因:是指過程在受控的狀態(tài)下,出現(xiàn)的具有穩(wěn)定的且可重復(fù)的分布過程的變差的原因。 以上僅是些基本原則,在一般應(yīng)用上 Cp如果不良時,其對策方法是以 制造單位為主,技術(shù)單位為副,品管單位為輔 。 C級:檢討規(guī)格及作業(yè)標(biāo)準(zhǔn),可能本制程不能勝任如此精密的工作。 ◆ 制程精密度 /潛力 Cp (Process Potential) Cp= USLLSL 6σa (雙邊規(guī) 格 ) C p u= USLμ 3σa (單邊規(guī) 格上限 ) C p l= μLSL 3σa (單邊規(guī)格 下限 ) 或 等級 Cp 值 A B C D ≦ Cp ≦ Cp < ≦ Cp < Cp < 32 SPC統(tǒng)計制程管制 二、基本的統(tǒng)計概念 主要的統(tǒng)計參數(shù) 9 ◆ 制程精確度 /潛力 — Cp的等級解說 Cp等級處置原則: A級:制程甚穩(wěn)定,可以將規(guī)格公差縮小或勝任更精密的工作。 以上僅是些基本原則,在一般應(yīng)用上 Ca如果不良時,其對策方法是以 制造單位為主,技術(shù)單位為副,品管單位為輔 。 C級:作業(yè)員可能看錯規(guī)格沒按操作標(biāo)準(zhǔn)作業(yè)或檢討規(guī)格及作業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。 全距 (R) 一 組數(shù)值 中最大值 與 最小值之差 : R=MaxMin 26 SPC統(tǒng)計制程管制 二、基本的統(tǒng)計概念 主要的統(tǒng)計參數(shù) 3 平方和 (S) 各 數(shù) 值 與 平均值之差之平方 總 和 : S=Σ (XX)2 變異數(shù) [V(X)] 平方和除以 數(shù)據(jù)個數(shù): V(X)= S/n= Σ(XX)2 /n 標(biāo)準(zhǔn)差 (σ ) 變異數(shù) 之 開 方 : σ =√ V= √ S/n = √ Σ (XX)2 /n 27 SPC統(tǒng)計制程管制 二、基本的統(tǒng)計概念 主要的統(tǒng)計參數(shù) 4 ◆ 標(biāo)準(zhǔn)差的計算 規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)差 — σ s 讀 做 Sigma Spec σs3σ= USL– LSL 6 σs6σ= USL– LSL 12 28 SPC統(tǒng)計制程管制 二、基本的統(tǒng)計概念 主要的統(tǒng)計參數(shù) 5 ◆ 標(biāo)準(zhǔn)差的計算 樣本標(biāo)準(zhǔn) 差 — σ p 讀 做 Sigma Pattern σp= √Σ(XiXbar)2 n1 n i1 ◆ 標(biāo)準(zhǔn)差的計算 制程標(biāo)準(zhǔn) 差 — σ a 讀 做 Sigma Actual σ a = R d2 29 SPC統(tǒng)計制程管制 二、基本的統(tǒng)計概念 主要的統(tǒng)計參數(shù) 6 ◆ 制程準(zhǔn)確度 — Ca Capacity of Accuracy Ca = L1 /L2 L1 = X
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