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六西格瑪測(cè)度品質(zhì)培訓(xùn)教材(參考版)

2025-03-12 02:35本頁(yè)面
  

【正文】 ? 利用 Minitab的計(jì)算: 實(shí)習(xí) Proprietary to Samsung Electronics Company Six Sigma 測(cè)度 26 Rev. 謝謝觀看 /歡迎下載 BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH 。 5 ) 95 . 0 )( 90 . 0 )( 90 . 0 )( 95 . 0 )( 99 . 0 ( = 作業(yè)的標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)率 937375 . 0 = ? 計(jì)算 ? 利用 Minitab的計(jì)算 : 實(shí)習(xí) Proprietary to Samsung Electronics Company Six Sigma 測(cè)度 25 Rev. ? 例 3 有一個(gè)給顧客提供信用情報(bào)的公司,顧客要求事項(xiàng)分為 情報(bào)內(nèi)容、迅速性、正確性、最新性、接觸容易性, 對(duì)這些調(diào)查重要度和顧客滿足度結(jié)果如下。 計(jì)算在這工程的缺陷相關(guān)的 ?水準(zhǔn)。 從表中找出對(duì)應(yīng)每百萬(wàn)個(gè)良品數(shù) = (數(shù)率 ) 1,000,000 Minitab求。 ? DATA是不良率時(shí) 以不良率可以計(jì)算出 PPM. PPM = (不良率 ) 1,000,000 從表中找出與 PPM值一樣的對(duì)應(yīng) DPMO的 Minitab求。 ? Process dynamics LSL USL 起點(diǎn) 1 起點(diǎn) 2 起點(diǎn) 3 起點(diǎn) 4 Process 固有能力 長(zhǎng)期 Process 能力 目標(biāo)值 Proprietary to Samsung Electronics Company Six Sigma 測(cè)度 20 Rev. ? ? 水準(zhǔn)和 DPMO ? 考慮 Process現(xiàn)實(shí)變化,計(jì)算對(duì)應(yīng) ?水準(zhǔn)的缺陷率或不良率時(shí), Process平均離規(guī)格中心標(biāo)準(zhǔn)偏差的 。 6? 規(guī)格界限 3? 水準(zhǔn)的 穩(wěn)定工程 6? 水準(zhǔn)的 穩(wěn)定工程 Proprietary to Samsung Electronics Company Six Sigma 測(cè)度 19 Rev. ? 由于作業(yè)者倒班、原材料 LOT變化、設(shè)備的保 養(yǎng)、模具交換等現(xiàn)實(shí)性的變化要素而規(guī)格中心和Process平均常時(shí)間維持一致狀態(tài)是很難。 m 1? 3? 平均 規(guī)格界限 ? 測(cè)定 Process可以生產(chǎn)多少均一品質(zhì)制品能力的測(cè)度。 收入檢查 100%數(shù)率 SMD檢查 %數(shù)率 PBA檢查 %數(shù)率 ICT %數(shù)率 RTY = = = % Y % 7 . 96 967 . 0 874 . 0 RTY 4 1 4 Nor = = = = ? Yield (數(shù)率 ) Yield Proprietary to Samsung Electronics Company Six Sigma 測(cè)度 16 Rev. 例 1) 現(xiàn)場(chǎng)某一位機(jī)士對(duì)特定類型 Defect觀察結(jié)果 346個(gè)生產(chǎn)單位中發(fā)現(xiàn) 1個(gè)。 i dpu e X P = = = ] 0 [ ? 按以上的結(jié)果,可以確認(rèn)下面的等式。 Yield Proprietary to Samsung Electronics Company Six Sigma 測(cè)度 13 Rev. ? RTY計(jì)算 ? 已知的 DATA是缺陷 DATA時(shí) 是意味著泊松分布中 P[X = 0] (沒有一個(gè)缺陷的概率 ). e DPU ? 已知的 DATA是不良率或數(shù)率 DATA時(shí) DP Ue
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