【正文】 ? 連續(xù)的 17點(diǎn)中至少有 14點(diǎn)出現(xiàn)在一側(cè)時(shí) 。3σ % % 117 % % % μ +1σ +2σ +3σ 1σ 2σ 3σ 正態(tài)分布概率 118 控制圖的觀察分析 ? 從概率的計(jì)算中 , 得出結(jié)論 : ? 點(diǎn)出在中心線一側(cè)的概率 A1=1/2 ? 點(diǎn)連續(xù)出現(xiàn)在中心線一側(cè)的概率 A1=(1/2)7 = 1/128 (%)即在 128次中才發(fā)生一次 , 如果是在穩(wěn)定生產(chǎn)中處于控制狀態(tài)下 , 這種可能性是極小的 . 因此 , 可以認(rèn)為這時(shí)生產(chǎn)狀態(tài)出現(xiàn)異常 . ? 偏離 : 較多的點(diǎn)間斷地出現(xiàn)在中心線的一側(cè)時(shí)偏離 . 如有以下情況則可判斷為異常狀態(tài) . ? 連續(xù)的 11點(diǎn)中至少有 10點(diǎn)出現(xiàn)在一側(cè)時(shí) 。2σ % % μ177。1σ % % μ177。kσ 在內(nèi)的概率 在外的概率 μ177。從來就不適合將幾個(gè)過程的能力或性能的結(jié)果組合或平均成一個(gè)指數(shù)。 Sp 66 ??115 建議使用的過程測(cè)量 ? 注意： 過程測(cè)量的目標(biāo)應(yīng)是使“過程的聲音”滿足“顧客的聲音”。通常，這個(gè)差距的大小表示特殊原因?qū)^程的影響程度。這種分析的例子包括控制圖、過程分布圖及損失函數(shù)圖。如較低的 Cp,Cpk可能顯示出子組內(nèi)的變差有問題，而較低的 Pp,Ppk可能顯示出總變差有問題。 強(qiáng)烈推薦用相同數(shù)據(jù)集，計(jì)算四個(gè)指數(shù)（ Cp,Cpk,Pp,Ppk）。性能指數(shù) Ppk表示過程性能是否實(shí)際上滿足了用戶的需求。 ? Cpk還可以用來確定一個(gè)過程是否有能力滿足顧客的需要。但這個(gè)數(shù)值與 Ppk沒有處在雙邊公差情況下的那種相同的關(guān)系。它把過程性能與由公差表示的最大可允許的變差進(jìn)行比較。等于 CPU或 CPL。單邊公差， Cpk可以小于、等于或大于 Cp。 110 可預(yù)測(cè)過程的過程測(cè)量 —— 單邊公差 ? Cpk 這是能力指數(shù)。該指數(shù)對(duì)于單邊公差沒有意義。 雙邊公差， SXUSLXUSLPPUp 33????? SLSLXLSLXPPLP 33?????108 可預(yù)測(cè)過程的過程測(cè)量 —— 雙邊公差 109 可預(yù)測(cè)過程的過程測(cè)量 —— 單邊公差 ? Cp是能力指數(shù)。反映了過程是否能夠很好地滿足變化要求 .不受過程位置影響 . SLSLUSLLSLUSLPpp 33?????107 可預(yù)測(cè)過程的過程測(cè)量 —— 雙邊公差 ? Ppk 性能指數(shù)。它考慮了過程的位置和能力。 ? Cp是不受過程位置的影響，這個(gè)指數(shù)只針對(duì)雙邊公差而計(jì)算的。它把過程能力與由公差表示的最大可允許的變差進(jìn)行比較。當(dāng)兩者的 6 間存在較大差別時(shí)表示有特殊原因存在。 ? 過程性能 過程總變差的 6σ范圍，式中 通常用樣本的標(biāo)準(zhǔn)差 S來估計(jì)。 可由樣本的標(biāo)準(zhǔn)差 S來估計(jì)。 102 過程術(shù)語的定義 ? 總過程變差 ( total process variation) 由子組內(nèi)變差和子組之間的變差共同造成的變差。 若過程受控，可由 /d2或 /c2來估計(jì)。 96 定義不受控信號(hào) ? 特殊原因識(shí)別準(zhǔn)則 97 各類控制圖計(jì)算公式 見 SPC第二版資料 98 第三章 認(rèn)識(shí)計(jì)量型數(shù)據(jù)的過程能力和過程特性 99 過程術(shù)語的定義 ? 變差 (variation) 過程的單個(gè)輸出之間所不可避免的差異。則需調(diào)查： 控制限或描點(diǎn)已計(jì)算錯(cuò)誤或描錯(cuò)。 過程或取樣方法出現(xiàn)分層：每個(gè)子組系統(tǒng)地包含了來自不同過程均值的兩個(gè)或多個(gè)過程的測(cè)量值（如，零件來自幾個(gè)型芯軸，抽樣時(shí)，每個(gè)型芯軸抽取一件）。 UCL CL LCL 94 定義不受控信號(hào) ? 如果明顯大于 2/3的點(diǎn)落于中間 1/3的區(qū)域。 92 定義不受控信號(hào) ? 與過程均值相關(guān)的鏈通常表明： 過程的均值已變化 ——并可能仍然在變化。 測(cè)量系統(tǒng)的變化（如新的檢驗(yàn)員或量具） ? 在極差均值下方的鏈或下降的鏈，表明： 輸出值的分布寬度減小，這通常是一種好的狀況，應(yīng)研究推廣應(yīng)用和過程改進(jìn)。 90 定義不受控信號(hào) ? 控制限內(nèi)的趨勢(shì)或模式 鏈 ——下列情況表明過程變化或趨勢(shì)已經(jīng)發(fā)生： 連續(xù) 7點(diǎn)位于平均值的一側(cè)。 ? 分布的寬度已經(jīng)較小 ? 測(cè)量系統(tǒng)已經(jīng)發(fā)生變化 ? 極差及均值 ? 極差受控，均值受控時(shí)，均值的變差與系統(tǒng)的普通原因引起大變差有關(guān)。 ? 測(cè)量系統(tǒng)已經(jīng)發(fā)生變化（如不同的測(cè)量者或量具） ? 測(cè)量系統(tǒng)缺乏適當(dāng)?shù)姆直媛省? ? 明顯非隨機(jī)模式 87 定義不受控信號(hào) ? 點(diǎn)超出控制限舉例 UCL CL LCL 異常 異常 88 定義不受控信號(hào) ? 點(diǎn)超出控制限表明 ? 控制限發(fā)生計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)錯(cuò)誤。 一個(gè)點(diǎn)超出任一控制限通常是過程在那一點(diǎn)或作為一種趨勢(shì)的一部分已發(fā)生變化。如上。 84 控制圖制作步驟 ——統(tǒng)計(jì)受控的解釋 ? 分析極差圖上的點(diǎn) ? 識(shí)別并標(biāo)識(shí)特殊原因（極差圖） ? 重新計(jì)算控限限（極差圖） ? 識(shí)別和處理特殊原因（均值圖） ? 重新計(jì)算控限限（均值圖） 85 控制圖制作步驟 ? 為持續(xù)控制延長控制限 子組樣本容量發(fā)生變化，將對(duì)用于極差圖和均值圖的預(yù)期的極差的均值和控制限產(chǎn)生影響。 ? 首先分析變差的控制統(tǒng)計(jì)量。 ? 分析控制圖的目的在于識(shí)別過程變差或過程均值沒有處于恒定的水平的證據(jù) ——即其中之一或兩者均不統(tǒng)計(jì)受控 ——進(jìn)而采取措施。 82 控制圖制作步驟 ——建立控制限 確定控制圖的中心線和控制限 為有助于對(duì)所描點(diǎn)的控制統(tǒng)計(jì)量進(jìn)行圖形 分析，可以在圖上畫線以西安市估計(jì)的位 置（中心線）和控制統(tǒng)計(jì)量的控制限。實(shí)時(shí)消除特殊原因。 統(tǒng)計(jì)過程控制研究中分兩個(gè)階段： ，以期讓過程穩(wěn)定。 81 控制圖制作步驟 ——建立控制限 控制圖技術(shù)基礎(chǔ) 如果過程是穩(wěn)定的（只存在普通原因的變差），則對(duì)于任何子組樣本，本計(jì)算的統(tǒng)計(jì)控制量落在控制限內(nèi)的概率很高。由于它們是由不同的零件計(jì)算出來的，故這兩個(gè)均值不一定是相同的，但由于隨機(jī)性，也會(huì)對(duì)它們被期望的差別有一個(gè)限值。他們定義了一個(gè)只存在變差的普通原因時(shí)，控制統(tǒng)計(jì)量能夠隨機(jī)落入的一個(gè)數(shù)值范圍。 數(shù)據(jù)一旦收集后就應(yīng)該進(jìn)行評(píng)估以識(shí)別出潛在的問題。如均值、中位數(shù)、極差、標(biāo)準(zhǔn)差等。 79 控制圖制作步驟 記錄每一個(gè)單值并每一個(gè)子組的編號(hào)。應(yīng)該保持刻度足夠?qū)挘源_保包含控制統(tǒng)計(jì)量的所有變差。 77 控制圖制作步驟 控制圖包括如下幾部分： ? 包括過程和抽樣方法描述的表頭信息 ? 記錄 /顯示所收集數(shù)據(jù)的實(shí)際值的部分 ? 用于中間的數(shù)據(jù)計(jì)算的部分 ? 對(duì)用于分析的每一個(gè)控制統(tǒng)計(jì)量描點(diǎn)的部分 ? 將觀察記錄日志的部分 78 控制圖制作步驟 ? 對(duì)用于分析的每一個(gè)控制統(tǒng)計(jì)量描點(diǎn)的部分 通?？v坐標(biāo)表示控制統(tǒng)計(jì)量的值，橫坐標(biāo)表示時(shí)間的順序。即總體中的每一個(gè)樣本點(diǎn)（合理子組）都有相同的機(jī)會(huì)（概率）被選到。 通常， 25或更多個(gè)子組內(nèi)包含 100或更多的單值讀數(shù)可以很好地用來檢驗(yàn)穩(wěn)定性。 應(yīng)該在適當(dāng)?shù)臅r(shí)間足夠頻繁地收集子組， 才能反映潛在的變化。 子組容量改變，控制限也應(yīng)發(fā)生改變。 75 控制圖制作步驟 過程變化相對(duì)小，子組容量相對(duì)較大。 子組內(nèi)變差代表很短時(shí)間內(nèi)零件間的變差，