【正文】 能夠被分析是否有能力滿足顧客的要求。一個有用的指導(dǎo)是：最初所建立的刻度范圍應(yīng)該至少設(shè)置成最大值與最小值之差的兩倍。 連續(xù)取樣形成的子組，過程變化最小，子組內(nèi)的變差也最小。 E、不受控的點(diǎn)的識別 不受控的點(diǎn)應(yīng)該在控制圖上被識別出來。 34 控制圖 ——過程控制和改進(jìn)的工具 正態(tài)分布由過程位置 (均值 )和過程寬度 (極差或標(biāo)準(zhǔn)差 )描述 ,則過程的改變就轉(zhuǎn)化為過程位置和過程寬度的改變 . 35 控制圖 ——過程控制和改進(jìn)的工具 過程位置改變的表征 — 樣本的均值 注意 :樣本的均值不一定等于分布的均值 . 樣本的均值只是過程均值的估計。 3類，需要識別變差的特殊原因，并消除。 普通原因產(chǎn)生的是一個處于偶然原因下的穩(wěn)定狀態(tài)。 措施： 改變操作 培訓(xùn)操作人員、變換輸入材料 改變過程本身更基本的要素 設(shè)備、人員溝通方式和聯(lián)系方式，相互關(guān)系 10 過程控制系統(tǒng)的四個要素 作用：挑選，糾正，返工不合格品。 22 過程控制和過程能力 ? 若過程統(tǒng)計受控 ,則其分布便可預(yù)測 ,從分布中可估計出符合規(guī)范產(chǎn)品的比例 .只要過程保持統(tǒng)計受控 ,并其分布位置 ,寬度 ,形狀不變化 ,就可以繼續(xù)生產(chǎn)相同分布的符合規(guī)范的產(chǎn)品 . ? 一旦過程處于統(tǒng)計受控 ,則第一個措施就是將過程位置定在其目標(biāo)值上 .如分布寬度不可接受 ,通常要求對系統(tǒng)采取措施從而減少普通原因引起的變差來改進(jìn)過程的能力 ,從而符合規(guī)范。 31 控制圖 ——過程控制和改進(jìn)的工具 控制圖的使用原由 ，控制圖能有效地引起人們的注意 才能較少的普通原因的變差的程度 所以控制圖被長期運(yùn)行，以便將兩類錯誤的損失最小化。 規(guī)格限不應(yīng)該被用來代替控制限。 較大的子組更易發(fā)現(xiàn)微小的過程變化。 77 控制圖制作步驟 控制圖包括如下幾部分： ? 包括過程和抽樣方法描述的表頭信息 ? 記錄 /顯示所收集數(shù)據(jù)的實(shí)際值的部分 ? 用于中間的數(shù)據(jù)計算的部分 ? 對用于分析的每一個控制統(tǒng)計量描點(diǎn)的部分 ? 將觀察記錄日志的部分 78 控制圖制作步驟 ? 對用于分析的每一個控制統(tǒng)計量描點(diǎn)的部分 通?？v坐標(biāo)表示控制統(tǒng)計量的值，橫坐標(biāo)表示時間的順序。 統(tǒng)計過程控制研究中分兩個階段： ，以期讓過程穩(wěn)定。 ? 明顯非隨機(jī)模式 87 定義不受控信號 ? 點(diǎn)超出控制限舉例 UCL CL LCL 異常 異常 88 定義不受控信號 ? 點(diǎn)超出控制限表明 ? 控制限發(fā)生計算錯誤或描點(diǎn)錯誤。則需調(diào)查： 控制限或描點(diǎn)已計算錯誤或描錯。 ? Cp是不受過程位置的影響，這個指數(shù)只針對雙邊公差而計算的。它把過程性能與由公差表示的最大可允許的變差進(jìn)行比較。 Sp 66 ??115 建議使用的過程測量 ? 注意： 過程測量的目標(biāo)應(yīng)是使“過程的聲音”滿足“顧客的聲音”。3σ % % 117 % % % μ +1σ +2σ +3σ 1σ 2σ 3σ 正態(tài)分布概率 118 控制圖的觀察分析 ? 從概率的計算中 , 得出結(jié)論 : ? 點(diǎn)出在中心線一側(cè)的概率 A1=1/2 ? 點(diǎn)連續(xù)出現(xiàn)在中心線一側(cè)的概率 A1=(1/2)7 = 1/128 (%)即在 128次中才發(fā)生一次 , 如果是在穩(wěn)定生產(chǎn)中處于控制狀態(tài)下 , 這種可能性是極小的 . 因此 , 可以認(rèn)為這時生產(chǎn)狀態(tài)出現(xiàn)異常 . ? 偏離 : 較多的點(diǎn)間斷地出現(xiàn)在中心線的一側(cè)時偏離 . 如有以下情況則可判斷為異常狀態(tài) . ? 連續(xù)的 11點(diǎn)中至少有 10點(diǎn)出現(xiàn)在一側(cè)時 。如較低的 Cp,Cpk可能顯示出子組內(nèi)的變差有問題，而較低的 Pp,Ppk可能顯示出總變差有問題。 110 可預(yù)測過程的過程測量 —— 單邊公差 ? Cpk 這是能力指數(shù)。 ? 過程性能 過程總變差的 6σ范圍，式中 通常用樣本的標(biāo)準(zhǔn)差 S來估計。 92 定義不受控信號 ? 與過程均值相關(guān)的鏈通常表明： 過程的均值已變化 ——并可能仍然在變化。 84 控制圖制作步驟 ——統(tǒng)計受控的解釋 ? 分析極差圖上的點(diǎn) ? 識別并標(biāo)識特殊原因（極差圖） ? 重新計算控限限（極差圖） ? 識別和處理特殊原因（均值圖） ? 重新計算控限限（均值圖） 85 控制圖制作步驟 ? 為持續(xù)控制延長控制限 子組樣本容量發(fā)生變化，將對用于極差圖和均值圖的預(yù)期的極差的均值和控制限產(chǎn)生影響。他們定義了一個只存在變差的普通原因時，控制統(tǒng)計量能夠隨機(jī)落入的一個數(shù)值范圍。 應(yīng)該在適當(dāng)?shù)臅r間足夠頻繁地收集子組， 才能反映潛在的變化。 ? 先期的信息收集盡可能完善。 X55 準(zhǔn)確度與精密度 Cp(Capability of precision):精密度指標(biāo)（望大） 代表標(biāo)準(zhǔn)差（ σ）與規(guī)格范圍之對應(yīng)程度。 。 對于一些成熟的過程，顧客將在“過程的控制計劃能夠確保符合顧客的要求，并保證過程不受別的特殊原因的影響”的條件下允許一個穩(wěn)定發(fā)生特殊原因的過程進(jìn)行下去。統(tǒng)計過程控制 (SPC) S(Statistical):統(tǒng)計 應(yīng)用諸如控制圖等統(tǒng)計數(shù)據(jù)來分析 P(Process):過程 某一過程或其輸出，以便 C(Cotrol ):控制 采取適當(dāng)?shù)拇胧﹣磉_(dá)到并保持一種統(tǒng) 計受控的狀態(tài)，從而提高過程能力。 有害消除，有利識別出來，固定為過程的一部分。 。 Ca越大，則 偏離管制中心越遠(yuǎn)； Ca不好多為管理問題造成。 ? 最初的信息收集包括那些被證明并不是特殊原因的事件，這樣的事件不需要在后來的收集活動被識別。 通常按時間順序來取子組以探測過程隨時 間發(fā)生的變化。 80 控制圖制作步驟 ——建立控制限 控制圖技術(shù)基礎(chǔ) 控制限由控制統(tǒng)計量的變差決定。變差和位置的統(tǒng)計量會單獨(dú)分析，但兩者比較，更可給出影響過程的特殊原因的額外信息。 測量系統(tǒng)改變，這樣可能遮掩過程真實(shí)性能的變化。 σ p ? ????niP S1nXXi2?103 過程術(shù)語的定義 ??????? 過程能力 僅使用于統(tǒng)計穩(wěn)定的過程，是過程固有變差的 6 范圍，式中 通常用 /d2或 /c2 來估計。 ? 如果產(chǎn)品具有物理極限 ,則 Cp就可以用物理極限作為下限的代替值來計算 .但這個數(shù)值與 Cpk沒有處在雙邊公差情況下的那種相同的關(guān)系。通過這些指數(shù)之間的比較能夠深入認(rèn)識過程潛在的問題，有助于隨時測量改進(jìn)和確定改進(jìn)的有限次序。 % % μ177。 所有能力和性能的評價都應(yīng)該局限于單個過程的特性。若產(chǎn)品具有物理極限， Pp就可以用物理極限作為下限的替代值來計算。 ??????????266 dRLSLUSLLSLUSLCcP ?105 可預(yù)測過程的過程測量 —— 雙邊公差 ? Cpk 這是能力指數(shù)。 過程或取樣方法導(dǎo)致連續(xù)的子組中包含來自變差顯著不同的兩個基本點(diǎn)或多個過程流的測量值（如，輸入材料批次混淆） ? 如果有幾個過程流存在，應(yīng)對它們進(jìn)行識別并分別跟蹤。 ? 在那一點(diǎn)發(fā)生時或作為一種趨勢的一部分，零件間的差異或者分布的寬度已增加，這中增加可以發(fā)生在一個時間