元器件鑒定檢驗(yàn)工作程序與常用可靠性試驗(yàn)(參考版)
2025-01-21 04:02本頁面
【正文】 演講完畢，謝謝觀看！ 。是破壞性的抽樣檢驗(yàn)。粘附不良（有空洞等）會(huì)導(dǎo)致散熱不良、導(dǎo)通電阻 超標(biāo)、電特性退化，甚至芯片脫落引起器件開路。對(duì)直接連金屬化層從芯片上脫落的失效則需從金屬化鍍膜工藝去分析失效原因。 失效分析： 我所主要產(chǎn)品的本試驗(yàn)失效的器件多為金絲頸縮點(diǎn)、引線損傷導(dǎo)致的不達(dá)標(biāo)或通電熔斷，可采取引線斷面顯微鏡觀察確定是機(jī)械損傷（斷面凸凹不平）或電燒熔（斷面為球面）來進(jìn)行失效分析。） 鍵合強(qiáng)度試驗(yàn)： 目的： 檢查器件內(nèi)引線的鍵合是否達(dá)到規(guī)定的要求。） 掃頻振動(dòng)試驗(yàn)： 尋找被考核器件的各階固有頻率（也是共振頻率）及在這個(gè)頻率段的 耐振能力。（試樣在隨機(jī)激勵(lì)下產(chǎn) 生隨機(jī)振動(dòng)，由試驗(yàn)設(shè)備顯示出試樣的響應(yīng)功率譜密度。在篩選檢測(cè)中，不合格必須剔除。長(zhǎng)期振動(dòng)會(huì)使器件產(chǎn)生疲勞 失效、引線斷裂和結(jié)構(gòu)損傷等。 ? 所需設(shè)備： 沖擊振動(dòng)臺(tái)（提供 500g－ 30000g的沖擊脈沖） ? 合格判據(jù)： 外殼，引線的損壞，標(biāo)記的模糊或者其他附加的參數(shù)測(cè)試 機(jī)械振 動(dòng)試驗(yàn) 振動(dòng)疲勞試驗(yàn)： 檢查器件管殼、引線焊接、管芯鍵合、襯底等是否符合規(guī)定要求。在篩選檢測(cè)中，不合格必須剔除。 ? 所需設(shè)備： 離心機(jī) ? 合格判據(jù)： 器件無損壞，標(biāo)識(shí)清楚，其他參數(shù)測(cè)試 機(jī)械沖擊： ? 目的： 檢查在規(guī)定的沖擊條件下受到機(jī)械沖擊時(shí)的適應(yīng)性或評(píng)定其結(jié)構(gòu)的牢靠性。為非破壞性檢測(cè)，篩選時(shí)為 100％檢驗(yàn)，質(zhì)量一致性檢測(cè)時(shí)也可抽樣檢測(cè)。 ? ⑤比對(duì)試驗(yàn)前后器件的相關(guān)電性能參數(shù)值，若值差超過允值為失效。 ? ③進(jìn)行輻照試驗(yàn)。 輻照試驗(yàn)： 試驗(yàn)程序和方法： ? ①按規(guī)范要求，選定輻照類型、劑量或劑量率及輻照時(shí)間。為破壞性試驗(yàn)。試驗(yàn)方案要依據(jù)不同的產(chǎn)品和不同的試驗(yàn)?zāi)康?，選擇輻照的總劑量或劑量率及輻照時(shí)間，否則由于輻照過低或過量而得不到尋求的閾值或損壞樣品。 輻照試驗(yàn)： 目的： 試驗(yàn)時(shí)，高能粒子進(jìn)入器件，使其微觀結(jié)構(gòu)變化，產(chǎn)生附加電荷或電流甚至缺陷，導(dǎo)致器件參數(shù)退化、鎖定、翻轉(zhuǎn)或產(chǎn)生浪涌電流燒壞失效。 ? 所需設(shè)備： 溫濕箱 ? 試驗(yàn)程序 ? 干燥－升溫－保持－降溫－升溫－保持－降溫 循環(huán) 10次 低溫子循環(huán) (至少 5次） 耐 濕 ? 濕度控制： 80％－ 100％ ? 試驗(yàn)時(shí)間： 10天左右 ? 失效判據(jù)： 標(biāo)志脫落、褪色、模糊 鍍層腐蝕或封裝零件腐蝕透 引線脫落，折斷或局部分離 因腐蝕導(dǎo)致的引線之間或引線與外殼搭接
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