元器件鑒定檢驗(yàn)工作程序與常用可靠性試驗(yàn)(存儲版)
【正文】 低溫子循環(huán) (至少 5次） 耐 濕 ? 濕度控制： 80％－ 100％ ? 試驗(yàn)時間： 10天左右 ? 失效判據(jù)： 標(biāo)志脫落、褪色、模糊 鍍層腐蝕或封裝零件腐蝕透 引線脫落，折斷或局部分離 因腐蝕導(dǎo)致的引線之間或引線與外殼搭接 輻照試驗(yàn)： 射線對物質(zhì)的最基本作用是電離作用，電離作用與物質(zhì)從射線吸收的能量有關(guān)對于定量的射線，物質(zhì)質(zhì)量越小，吸收越密集，影響越大。 溫 度 試驗(yàn) 目的： 測定器件承受極端高溫和極端低溫的能力，以及極端高低溫變化對器件的影響 所需設(shè)備： 高低溫實(shí)驗(yàn)箱 實(shí)驗(yàn)方法： 兩箱法 單箱法 溫度循環(huán) 溫 度 試驗(yàn) 計(jì)時： 轉(zhuǎn)換時間 （ ≤ 1min) 樣品從一個極端溫度轉(zhuǎn)移到另一個極端溫度所經(jīng)歷的時間 保持時間 （ ≥ 10min) 樣品到達(dá)極端溫度（ ＜ 15min)后 停留的時間 循環(huán)次數(shù)： 大于 10次 中斷處理： 由于電源或設(shè)備故障，允許中斷試驗(yàn)，但是如果中斷次數(shù) 超過規(guī)定的循環(huán)總次數(shù)的 10％時，必須重新開始。 檢驗(yàn)流程卡 檢測設(shè)備計(jì)量證書 鑒定檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)和檢驗(yàn)實(shí)施單位應(yīng)保證檢驗(yàn)所需的儀器設(shè)備齊全，功能及精度滿足標(biāo)準(zhǔn)要求并計(jì)量鑒定合格，檢驗(yàn)在有效期內(nèi)； 監(jiān) 督 檢驗(yàn) 重點(diǎn)要素 檢驗(yàn)原始記錄一般包括測試原始記錄及試驗(yàn)原始記錄，采用統(tǒng)一規(guī)范的格式具體要求如下： a)檢驗(yàn)原始記錄要求信息齊全、正確，至少應(yīng)包含：檢驗(yàn)樣品信息、環(huán)境條件、所用儀器設(shè)備、檢驗(yàn)項(xiàng)目、詳細(xì)具體的試驗(yàn)測試）方法和條件、技術(shù)要求、檢驗(yàn)結(jié)果等。鑒定檢驗(yàn)必須嚴(yán)格按照檢驗(yàn)綱要和流程卡的要求進(jìn) 行。（高溫工作測試在工作溫度上限溫度做試驗(yàn)，高溫貯存在貯存溫度上限做試驗(yàn)）。為破壞性試驗(yàn)。主要用來判定低劑量率電離輻射對器件的作用。在篩選檢測中，不合格必須剔除。篩選時為 100％檢驗(yàn)，質(zhì)量一致性檢 測時也可抽樣檢測。避免由于鍵合虛接（零克點(diǎn)）和鍵合強(qiáng)度低于規(guī)定要求而導(dǎo)致的失效。對本試驗(yàn)失效的器件可用顯微鏡或掃描電鏡對剪切解剖面進(jìn)行形貌觀察和失效分析。 芯片剪切強(qiáng)度試驗(yàn)： 目的： 檢查芯片粘附在熱沉或管座上所使用材料和工藝的完整 性。如果試樣的 響應(yīng)功率譜密度大于規(guī)定的極限值，則試樣不合格。有時規(guī)定要求在沖擊中測試，也可按規(guī)定試驗(yàn)后進(jìn)行外觀觀察和電測試后決定是否合格。 ? ④測試輻照試驗(yàn)后器件的相關(guān)電性能參數(shù)。通過各種輻照效應(yīng)試驗(yàn)，可確定器件的致命損傷劑量、失效規(guī)律及失效機(jī)理，從而在材料、結(jié)構(gòu)、工藝和線路上進(jìn)行抗輻射的設(shè)計(jì)改進(jìn)。轉(zhuǎn)換時間小
黨政相關(guān)相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號-1