元器件鑒定檢驗工作程序與常用可靠性試驗(更新版)
【正文】 不同的產(chǎn)品和不同的試驗?zāi)康?，選擇輻照的總劑量或劑量率及輻照時間，否則由于輻照過低或過量而得不到尋求的閾值或損壞樣品。 ? ⑤比對試驗前后器件的相關(guān)電性能參數(shù)值，若值差超過允值為失效。 ? 所需設(shè)備： 沖擊振動臺（提供 500g－ 30000g的沖擊脈沖） ? 合格判據(jù)： 外殼，引線的損壞，標記的模糊或者其他附加的參數(shù)測試 機械振 動試驗 振動疲勞試驗： 檢查器件管殼、引線焊接、管芯鍵合、襯底等是否符合規(guī)定要求。） 掃頻振動試驗： 尋找被考核器件的各階固有頻率（也是共振頻率）及在這個頻率段的 耐振能力。粘附不良（有空洞等）會導(dǎo)致散熱不良、導(dǎo)通電阻 超標、電特性退化，甚至芯片脫落引起器件開路。是破壞性的抽樣檢驗。） 鍵合強度試驗： 目的： 檢查器件內(nèi)引線的鍵合是否達到規(guī)定的要求。長期振動會使器件產(chǎn)生疲勞 失效、引線斷裂和結(jié)構(gòu)損傷等。為非破壞性檢測，篩選時為 100％檢驗，質(zhì)量一致性檢測時也可抽樣檢測。為破壞性試驗。 熱沖擊試驗： 密封 目的： 確定具有空腔的電子器件封裝的氣密性，密封不良會導(dǎo)致環(huán)境氛侵入器件內(nèi)部引起電性能不穩(wěn)定或腐蝕開路 所需設(shè)備： 氦質(zhì)譜細檢漏（用于檢查 — 104 漏率） 氟油或乙二醇粗檢漏（用于檢查大于 ） 失效判據(jù)： 細檢： 測定漏率 粗檢： 從同一位置出來的一連串氣泡或兩個以上大氣泡 試驗順序： 先細檢 后粗檢 試驗過程需加壓 耐 濕 ? 目的： 用加速的方式評估元器件及所用材料在炎熱高濕（典型熱帶環(huán)境）下抗退化效應(yīng)的能力，本實驗可以可靠的指出哪些元器件不可以在熱帶條件下使用。 ? 高溫試驗： 檢驗在規(guī)定的高溫條件下，器件滿足工作或儲存要求的適應(yīng)能力。 抽樣 監(jiān) 督 檢驗 重點要素 鑒定檢驗實施單位根據(jù)確認的檢驗綱要編制 檢驗流程卡的內(nèi)容應(yīng)完整，流程清晰正確，具有可操作 性。 檢驗原始記錄一律用黑色墨水書寫，數(shù)據(jù)清晰， 計算正確并符合修約要求，數(shù)據(jù)及記錄更改符合規(guī)定并蓋章。 失效判據(jù)： 外殼、引線、或封口有無缺陷或損壞，標志是否清晰，以 及其他規(guī)定的參數(shù)是否合格。 其關(guān)系式如下： 射線劑量＝物質(zhì)吸收能量 /物質(zhì)的質(zhì)量。 ? ②記錄試驗前器件相關(guān)電性能參數(shù)。為非破壞性檢測，篩選時為 100％檢驗，質(zhì)量一致性檢測時也可抽樣檢測。 隨機振動試驗： 考核器件在隨機激勵下抵抗隨機振動的能力。對引線從芯片金屬化層（鋁）壓焊點脫落的失效需進行電子探針 X射線能譜色散分析來確定金鋁固相反應(yīng)形成的中間化合物成份和
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