摘要：在掃描電子顯微鏡分析中,對同一陶瓷樣品如果采用不同的制(參考版)
2025-07-02 01:19本頁面
【正文】 各項(xiàng)技術(shù)本身在石油工程中的應(yīng)用還有秀大的潛力尚待開發(fā)，同時工程實(shí)踐中也不斷提高許多新問題，需要創(chuàng)造性地應(yīng)用先進(jìn)技術(shù)來解決。 綜上所述，巖心分析技術(shù)在認(rèn)識油氣層特征、研究油氣層損害機(jī)理及保護(hù)油氣層工程設(shè)計(jì)中具有廣泛的應(yīng)用。因此，環(huán)境掃描電鏡是損害機(jī)理研究和工作液評價的有力手段。 一般掃描電鏡要求在真空條件下進(jìn)行實(shí)驗(yàn)，而環(huán)境掃描電鏡則可以在氣體、液體介質(zhì)環(huán)境下分析樣品。研究方法主要有化學(xué)分析、電子探針、原子力顯微鏡等。 油氣層中非晶態(tài)礦物有蛋白石、水鋁英石、伊毛縞石、硅鐵石等，還有比粘土礦物微粒更小的納米級礦物。掃描電鏡與圖象分析儀使用，研究粘土礦物微結(jié)構(gòu)并預(yù)測微結(jié)構(gòu)的穩(wěn)定性，是油井完井技術(shù)中心近年來將土壤科學(xué)和工程地質(zhì)理論引入到石油工程中的最新進(jìn)展。背散射儀的應(yīng)用免除鍍膜對粘土形貌的改變，更宜于試驗(yàn)前后的樣品觀察。NMRI測井技術(shù)發(fā)展很快，主要用于剩余油的分布探測，已成為提高采收率的重要評價技術(shù)。目前這項(xiàng)技術(shù)主要用于高滲透疏松砂巖和裂縫性儲層的損害研究中，如出砂機(jī)理、稠油蚯蚓孔道的形成、侵入裂縫的固相分布、巖心內(nèi)泥餅的分布形態(tài)等。 將醫(yī)學(xué)上應(yīng)用的CT掃描技術(shù)引人到巖心分析中，主要原理是用X射線照射巖心，得到巖心斷面上巖石顆粒密度的信息，經(jīng)計(jì)算機(jī)處理轉(zhuǎn)換成巖心剖面圖，它可以在不改變巖石形態(tài)及內(nèi)部結(jié)構(gòu)的條件下觀察巖石的裂縫和孔隙分布。，分析快速； ； 、粘土礦物的成分、結(jié)構(gòu)反映靈敏； ，可獲得內(nèi)部構(gòu)造中吸附成分，交換性離子、自由水分子和配伍水分子以及氧化硅表面的相互作用方面的信息； 、半定量分析 局 限 性 ，全巖分析時應(yīng)加注意； ，不能給出產(chǎn)狀； 、部分類型同象替代的反映不靈敏 ； ； 、間層作用不易識別； ； ； 、間層分析幾乎無作用 ，分析精度低； ，限制了進(jìn)行大量樣品分析，一般僅用于關(guān)鍵，疑人礦物的鑒定、分析 ； ，很少的成巖作用信息 、晶出順序 ，不用分離和提純； ，靈敏度高，以氧化物形式給出定位礦物的化學(xué)成分； ，與電鏡聯(lián)合可以給出不同產(chǎn)狀、形態(tài)礦物的化學(xué)成分 項(xiàng)目 內(nèi)容 X射線衍射 掃描電鏡 鑄體薄片 電子探針 壓汞毛管壓力曲線測定 紅外光譜 主 要 用 途 及 特 點(diǎn) 、簡便； ； 、間層作用、多型、結(jié)晶度； 表25 1．傅里葉變換紅外光譜分析 采用傅里葉變換紅外光譜儀，測定礦物的基團(tuán)、官能礦物的基團(tuán)、官能團(tuán)來識別和量化常見礦物，分析迅速，精度與XRD相似，能定量分析的礦物有石英、斜長石、鉀長石、方解石、白云石、菱鐵礦、黃鐵礦、硬石膏、重晶石、綠泥石、高嶺石、伊利石和蒙皂石總和，以及粘土總量，對非晶質(zhì)物、間層粘土礦物的構(gòu)造特性分析有獨(dú)到之處，國外已將其用于井場巖石礦物剖面分析圖的快速建立，國內(nèi)亦逐漸成為分析敏感性礦物，尤其是油氣層粘土礦物的有力手段，但由于其對鑒定間層粘土礦物的局限性，要完全代替XRD是不可能的。 新技術(shù)的應(yīng)用主要表現(xiàn)在以下幾個方面。同時，一些新技術(shù)正在不斷涌現(xiàn)，及時地引入到石油工程領(lǐng)域，解決工程問題已成為地質(zhì)家及石油工程師的共同使用。XRD技術(shù)對粘土礦物的研究與認(rèn)識起到了巨大的推動作用，1985年以前，國內(nèi)尚無大家接受的粘土礦物含量計(jì)算公式，今天從粘土分離提取、數(shù)據(jù)處理，乃至間層比的計(jì)算都已形成石油行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，可以說近十幾年發(fā)生了質(zhì)的飛躍。一些傳統(tǒng)技術(shù)因使用目的轉(zhuǎn)變，而被賦與新的含義。應(yīng)用高速離心機(jī)法可以快速測定毛管壓力曲線，了解工作液作用前后儲集巖孔喉分布參數(shù)和潤濕性變化。研究表明，當(dāng)顆粒直徑大于平均孔喉直徑的1/3時，形成外泥餅，1/3~1/10時會侵入孔喉形成內(nèi)泥餅，小于1/
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