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正文內(nèi)容

現(xiàn)代分析測試技術(shù)課程教學(xué)大綱(參考版)

2025-06-03 00:04本頁面
  

【正文】 教學(xué)中鼓勵(lì)教師采用多媒體課件與板書相結(jié)合授課,注意結(jié)合教學(xué)內(nèi)容安排習(xí)題,要求學(xué)生及時(shí)、獨(dú)立完成,以達(dá)到鞏固所學(xué)內(nèi)容之目的。五、考核要求、方式與成績評定考核要求:考試內(nèi)容為教材中重要的基本原理和基本方法 考核形式:考試成績評定: 按照考試模式改革實(shí)施方案評定成績,其中:卷面成績比例 70% ,平時(shí)成績比例 30 %(其中作業(yè)20%,出勤10%)。注重應(yīng)用啟發(fā)式教學(xué)、開展課堂討論等教學(xué)方法,引導(dǎo)學(xué)生積極思考問題、分析問題,拓展學(xué)生的思維。第 十四 單元 熱分析技術(shù)[知 識 點(diǎn)] 熱重法(TG):熱重法的基本原理及設(shè)備,熱重曲線,熱重儀,熱重測量時(shí)應(yīng)注意的要點(diǎn)及其影響因素;差熱分析法(DTA):差熱分析的基本原理及設(shè)備,差熱分析曲線,差熱分析儀,差熱分析測量時(shí)應(yīng)注意的要點(diǎn)及其影響因素;差示掃描量熱法(DSC):差示掃描量熱法的基本原理及設(shè)備,差示掃描量熱曲線,差示掃描量熱儀,差示掃描量熱分析在使用中應(yīng)注意的要點(diǎn)及其影響因素; TG、DTA 和DSC 在高聚物研究中的應(yīng)用[重 點(diǎn)] 熱重法、差熱分析法、差示掃描量熱法的基本概念及測試原理[難 點(diǎn)] 熱重法、差熱分析法、差示掃描量熱法的應(yīng)用[基本要求]識 記:熱重法、差熱分析法、差示掃描量熱法領(lǐng) 會(huì):熱重法、差熱分析法、差示掃描量熱法的分析測試原理簡單應(yīng)用:金屬的熔點(diǎn)測定綜合應(yīng)用:熱重法、差熱分析法和差示掃描量熱法在高聚物研究中的應(yīng)用[學(xué)時(shí)分配] 知識單元理論學(xué)時(shí)第1單元 緒論第2單元 X射線衍射分析4第3單元 掃描電子顯微分析6第4單元 透射電子顯微分析8第5單元 掃描探針顯微分析4第6單元 氣相色譜分析4第7單元 高效液相色譜分析2第8單元 原子吸收光譜分析2第9單元 原子發(fā)射光譜分析2第10單元 紫外光譜分析2第11單元 紅外光譜分析4第12單元 核磁共振波譜分析4第13單元 質(zhì)譜分析4第14單元 熱分析2合計(jì)48四、教學(xué)方法與手段堅(jiān)持理論聯(lián)系實(shí)際的教學(xué)方法,將生產(chǎn)中遇到的具體問題引入到課堂中,不斷提高學(xué)生發(fā)現(xiàn)、分析和解決問題的能力。簡單應(yīng)用:質(zhì)譜解析的程序及有機(jī)化合物的結(jié)構(gòu)解析,會(huì)解析簡單化合物的質(zhì)譜。[基本要求]識 記:離子類型和離子峰;分子離子峰的識別;質(zhì)譜產(chǎn)生的原理,常用的幾種離子源和質(zhì)量分析器;影響離子豐度的因素。[重 點(diǎn)]離子類型和離子峰;分子離子峰的識別;分子式的測定;影響離子豐度的因素;質(zhì)譜中離子類型及裂解一般規(guī)律;烷烴、烯烴、芳烴、醇、酚、醛、酮、羧酸等化合物等的質(zhì)譜;質(zhì)譜圖解析及應(yīng)用。綜合應(yīng)用:應(yīng)用1H NMR、13C NMR 圖譜作化合物結(jié)構(gòu)解析。領(lǐng) 會(huì):各類質(zhì)子和碳的化學(xué)位移范圍。[難 點(diǎn)]自旋偶合及自旋裂分;1H NMR譜;13C NMR譜。第 十二 單元 核磁共振波譜分析[知 識 點(diǎn)]核磁共振基本原理;化學(xué)位移;自旋偶合及自旋裂分;自旋體系及核磁共振譜圖分類;偶合常數(shù)及與分子結(jié)構(gòu)關(guān)系;1H NMR譜;13C NMR譜;1H NMR和13C NMR的綜合解析。簡單應(yīng)用:要求學(xué)生學(xué)習(xí)后能掌握化學(xué)鍵的振動(dòng)形
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