spc統(tǒng)計手法ppt課件(參考版)
2025-05-04 23:51本頁面
【正文】 等級 CPK 預測不良 發(fā)生率 建議處理 方式 A ≤Cpk 0 PPM 制程能力足夠 B ≤Cpk＜ 0~32 PPM 制程能力尚可， 應再努力 C ≤Cpk＜ 32~1350 PPM 制程能力不足， 應加以改善 D ≤Cpk＜ 1350~22750 PPM 制程能力不足， 難易接受 E Cpk＜ 22750 PPM 制程嚴重不足， 不可接受 ★： CPK等級判斷、處置建議 ▲ PPM： Parts Per Million（ 百萬分之幾） * 反映了多組條件的 AVE ， A M X ， M IN 實力狀況 .34567條件1 條件2 條件3 條件4JIT值 AVE MAX MIN條件 2G ood上限下限▲ 柱狀分布圖▲ 柱狀推移圖▲ 折線圖▲餅狀圖廣義 SPC X 經(jīng)時變化0初期 1 天后 3 天后 1 周后 DateX posi%%1/7 1/8 1/9 1/10 Date不良率XYRFJit▲ 條件分析圖▲ 變量圖1011 0 1214710光學基礎電氣知識機械知識設計語言▲ 層別柱狀圖▲雷達圖辛苦了，請你欣賞！ 。 B ≤ │ Cp│ ≤ 有發(fā)生不良品之危險，必須加以注意，并設法維持不要使其變壞及迅速追查原因 C ≤ │ Cp│ 檢討規(guī)格及作業(yè)標準，可能本制程不能勝任如此精密之工作。 D 50%∠ │ Ca│ 應采取緊急措施，全面檢討所有可能影響之因素 ,必要時停止生產(chǎn)。 B %∠ │ Ca│ ≤25%(1 ／≤4) 有必要盡可能將其改進為 A級。 5σ 233 177。 3σ 66807 177。 1σ 691462 177。73% σ 2σ 3σ 規(guī)格寬度 正態(tài)分布 ★ 正態(tài)分布下 ,平均值與不良率的關系 : 177。27% 95。 Cp 當特性值的總體平均值等于公差中心時 ,稱工序無偏 ,此時工序能力指數(shù) 用 CP表示 CP= TuTL (樣本數(shù) n≥30） 6δ ( Tu—— 規(guī)格上限 TL—— 規(guī)格下限 δ —— 標準偏差 ) Ca 衡量特性值的總體分布與公差中心不重合發(fā)生偏差量度的指數(shù)： Ca= 2*(Xu) USLLSL U:規(guī)格中心值 =(USLLSL)/2 CPK另則計算方法： Cp（ u） = 3δ TuX Cp（ 1） = 3δ XTL CPK=Min {Cp(u), Cp(l)} Cpk 當特性值的總體分布中心與公差中心不重合時 ,即工序有偏，此時工序 能力指數(shù)用 CPK表示。 LCL) (XR管制圖 ): ? 不合格品率 (不良率 )控制 圖 ? 分析或控制制程不合格品率 (不良率 ) ? 樣 本大小 n可以不同 Pchart不良管制 圖 簡稱 P圖 P 圖 n)P(1P3PL C L pn
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