電學(xué)半導(dǎo)體測(cè)試技術(shù)實(shí)踐(參考版)
2025-03-29 02:55本頁(yè)面
【正文】 。 2．在專業(yè)比較對(duì)口的實(shí)習(xí)崗位上，努力將所學(xué)的理論知識(shí)與實(shí)際工作密切結(jié)合，并能靈活應(yīng)用，使自己的專業(yè)知識(shí)、專業(yè)技能及工程實(shí)踐能力均得到一次全面的提升。為以后真正走向社會(huì)，走向工作崗位提供寶貴的經(jīng)驗(yàn)，通過(guò)這次頂崗實(shí)習(xí)，對(duì)我們鞏固和加深所學(xué)理論知識(shí)，培養(yǎng)我們的獨(dú)立工作能力和加強(qiáng)勞動(dòng)觀點(diǎn)起了重要作用。在實(shí)習(xí)單位，我們必須向師父，工人師傅，還有各位上司努力學(xué)習(xí)，努力提高自己的各方面素質(zhì)。f) 指示試驗(yàn)溫度、壓力和時(shí)間是否符合規(guī)定的已校準(zhǔn)過(guò)的合適儀器g) 使器件浸入指示液中的合適夾具密封性檢測(cè)完后，允許不合格率＜10%，此批次為01 常溫終測(cè)1 外觀復(fù)查，此批產(chǎn)品全部合格。光源不需要校準(zhǔn)。d) 表1所列的檢測(cè)用1型液體和指示用2型液體。c) ~30倍的放大鏡。1 粗檢漏， 條件C該條件為碳氟化合物粗檢漏，所需設(shè)備為：a) 真空/壓力室，用于抽真空及隨后加壓，能使器件收到516KPa的壓力作用達(dá)10h。用于測(cè)量漏率的工作室體積應(yīng)根據(jù)實(shí)際情況保持盡量小，因?yàn)樵擉w積過(guò)大對(duì)靈敏度極限值會(huì)產(chǎn)生不利的影響。該質(zhì)譜檢漏儀應(yīng)經(jīng)過(guò)適當(dāng)?shù)念A(yù)制和校準(zhǔn)，時(shí)期靈敏度達(dá)到足以讀出小于或等于104（Pa 恒定加速度，Y1方向 PIND， 常溫中測(cè)1，按照器件相應(yīng)規(guī)范 高溫動(dòng)態(tài)老煉在溫度T=125℃下動(dòng)態(tài)老煉48h，所加電壓電流不大于額定工作值，該步允許不合格率＜5%，此批次無(wú)不合格產(chǎn)品。 常溫初測(cè)按照器件相應(yīng)規(guī)范，測(cè)試它的電參數(shù)。測(cè)試過(guò)程如下： 外觀檢查，該標(biāo)準(zhǔn)為外部目檢，使用放大鏡對(duì)其進(jìn)行觀察，失效判據(jù)分為7點(diǎn)。選擇都要考慮其科學(xué)性，既不損害芯片又能測(cè)試其可靠性。每個(gè)部門的人各司其職，互相配合，就好像一個(gè)個(gè)齒輪互相契合共同促使機(jī)器的正常運(yùn)轉(zhuǎn)。 四、實(shí)踐體會(huì)與心得通過(guò)這次實(shí)踐，首先我了解到作為一個(gè)公司運(yùn)作首先是制度化，模塊化。在測(cè)試程序開發(fā)項(xiàng)目啟動(dòng)之前，測(cè)試工程師必須全面地上面提到的每一個(gè)環(huán)節(jié)以決定最佳的解決方案。 b 測(cè)試開發(fā)的理念。每種應(yīng)用有其獨(dú)特的技術(shù)規(guī)范，要求兩種不同標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試程序。a 測(cè)試環(huán)節(jié)的成本 決定什么需要被測(cè)試以及以何種方式的因素之一，測(cè)試成本在器件總的制造成本中占了很大的比重，因此許多與測(cè)試有關(guān)的決定也許僅僅取決于器件的售價(jià)與測(cè)試成本。 經(jīng)常有人問(wèn)道：“怎樣正確地創(chuàng)建測(cè)試程序？”這個(gè)問(wèn)題不好回答，因?yàn)閷?duì)于什么是正確的或者說(shuō)最好的測(cè)試方式，一直沒(méi)有一個(gè)單一明了的界定，某種情形下正確的方式對(duì)另一種情況來(lái)說(shuō)不見得最好。測(cè)試程序還會(huì)將器件按照它們?cè)跍y(cè)試中表現(xiàn)出的性能進(jìn)行相應(yīng)的分類，這個(gè)過(guò)程叫做“Binning”，也稱為“分Bin”. 舉個(gè)例子，一個(gè)微處理器，如果可以在150MHz下正確執(zhí)行指令，會(huì)被歸為最好的一類，稱之為“Bin 1”；而它的某個(gè)兄弟，只能在100MHz下做同樣的事情，性能比不上它，但是也不是一無(wú)是處應(yīng)該扔掉，還有可以應(yīng)用的領(lǐng)域，則也許會(huì)被歸為“Bin 2”，賣給只要求100MHz的客戶。程序控制測(cè)試系統(tǒng)的硬件進(jìn)行測(cè)試，對(duì)每個(gè)測(cè)試項(xiàng)給出pass或fail的結(jié)果。測(cè)試程序通常分為幾個(gè)部分，如DC測(cè)試、功能測(cè)試、AC測(cè)試等。 測(cè)試高速或者大功率的器件需要定制的Loadboard，為保證信號(hào)完整性，這種高性能的定制電路板必須完成阻抗匹配——這對(duì)于布局、布線及線長(zhǎng)、線寬等都有特殊要求，因此通常需要數(shù)月的時(shí)間設(shè)計(jì)制作，并且價(jià)格非常昂貴。 測(cè)試負(fù)載板是一種連接測(cè)試設(shè)備的
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