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納米醫(yī)藥第3章-納米粒子的檢測(cè)與表征(參考版)

2025-01-11 10:48本頁面
  

【正文】 粘度低則液體在流動(dòng)時(shí)克服的阻力小,粒子分散性好;粘度高則粒子由于橋聯(lián)形成微弱的網(wǎng)狀結(jié)合,液體的流動(dòng)在質(zhì)點(diǎn)附近受到干擾,這。直接檢測(cè)粒徑隨時(shí)間的變化規(guī)律,如果粒徑隨時(shí)間變化越小,則分散穩(wěn)定性越好。 ξ 電位法:分散體系中 ξ 電位的絕對(duì)值越大,則體系分散性越好,體系越穩(wěn)定。 86 納米粒子的分散性和分散穩(wěn)定性檢測(cè)技術(shù) 納米粒子的分散性指納米粒子在干態(tài)或濕態(tài)下相互間分隔、均勻散開的性能;分散穩(wěn)定性指分散體系的性質(zhì)(分散相濃度、顆粒大小、粘度、密度)在一定程度的不變性,評(píng)判方法如下。 Fowkes 應(yīng)用表面能色散力分量概念對(duì)固體表面能作了進(jìn)一步測(cè)算 [40],忽略固氣界面上的吸附作用,則:LGdLGdSG????2/1)(21c os ??? ,上標(biāo) d 表示 London 力所產(chǎn)生的分子間相互作用。 將 GoodGirifalco 理論關(guān)系 [38]應(yīng)用于固液界面可以得到: 2/1)(2 LGSGLGSGSL ????? ???? ,式中Φ —— 來自分子大小和分子間相互作用的校正系數(shù),可由兩相的偶極矩、極化率、電離勢(shì)計(jì)算出來 [39]。如果用透過高度法得到粒子的等效毛細(xì)半徑 r,又知道液 體的表面張力和粘度,則可從斜率 s 算出接觸角 )2(cos 1r s??? ?? ?。當(dāng)固體粒子柱的等效半徑 r 很小,透過高度也很小時(shí),等號(hào)右邊第一項(xiàng)可以忽略不計(jì),上式變?yōu)椋? ?? 2cos2 rdtdh ??,積分得: ? ?? 2cos2 rth ??,此式叫做 Washburn 方程。將此關(guān)系應(yīng)用于液體在粒子柱中上升的速度問題則得:hrgrdtdh ? ???? 8 c os282 ??? ??蓾櫇穹垠w的液體在粉體柱中上升可看作液體在毛細(xì)管中的流動(dòng)。即用一已知表面張力( 0? )、密度( 0? )和對(duì)所研究粉體粒子接觸角為 0 的液體,測(cè)定其透過 高度 h0,算出粉體粒子柱的等效半徑 r,然后再用同樣的粉體粒子柱測(cè)定其它液體的透過高度,以所得到的等效毛細(xì)半徑值來計(jì)算各液體對(duì)該固體粒子的接觸角,公式為:000cos hh????? ? 。式中 ? —— 液體的密度; g—— 重力加速度; r—— 粉體粒子柱的等效毛細(xì)管半徑。 ( 1)透過高度法測(cè)接觸角 [36] 將固體粒子以固定操作方法裝填在具有孔性管底的樣品玻管中,此管的底部可防止 粒子漏失,但允許液體自由通過。由于毛細(xì)作用取決于液體的表面張力和對(duì)固體的接觸角,故測(cè)定已知表面張力液體在粉體柱中的透過性可以得到該液體對(duì)粒子的接觸角。 測(cè)定液體對(duì)固體粒子的接觸角時(shí)常使用透過法。平衡接觸角與三個(gè)界面自由能之間有如下關(guān)系:????? c o sLGeSLSG ??? ,式中 SG? —— 固體的表面能; SL? —— 固液界面能; e? —— 固體表面吸附層的表面壓(液體膜壓),對(duì)于低能固體表面 0?e? ; LG? —— 液體的表面張力(表面能)。所形成液滴的形狀可用接觸角來描述。從原理上看,這是目前適用于納米粒子表面自由能檢測(cè)的最簡(jiǎn)便方法。這種方法實(shí)際上假設(shè)固態(tài)和液態(tài)的表面性質(zhì)相近,顯然不夠合理;②溶解熱法: 固體粒子溶解時(shí)表面消失,表面能以熱量形式釋出,測(cè)定同一物質(zhì)不同比表面時(shí)的溶解熱,由其差值可估算表面能。 粒子表面自由能檢測(cè)技術(shù) 粒子細(xì)化后表面積增加,其表面自由能(簡(jiǎn)稱自由能)也會(huì)大大增加。當(dāng)分子吸收一定能量的電磁輻射,就由較低能級(jí)躍遷到較高能級(jí),其能級(jí)差就是所吸收的輻射能量。 當(dāng)納米粒子表面成分中含有機(jī)化合物時(shí),其成分鑒別常用紅外光譜、紫外光譜、質(zhì)譜等波譜分析方法。能夠改換激發(fā)源的原因是:用 X 射線激發(fā)原子,內(nèi)層電子激發(fā)出光電子后,外層電子向內(nèi)層躍遷釋放能量,使核外另一電子激發(fā)成自由電子,這就是俄歇電子。kE 可用 ESCA 測(cè)出,且各種原子、分子的軌道電子結(jié)合能是一定的,所以可從上式計(jì)算的 Eb 值來鑒別各種原子或分子,包括表面成分的元素組成、含量、價(jià)態(tài),結(jié)合深度刻蝕技術(shù),可研究納米粒子表面層的組成、價(jià)態(tài)、厚度等。? (≈ 4eV)。kE —— 光電子能量; 39。39。 X 射線光電子能譜( Xray Power Spectroscopy, XPS)又稱為電子能譜化學(xué)分析( Electron Spectroscopy for Chemical Analysis, ESCA),其檢測(cè)原理是: X 射線作用于樣品表面而激發(fā)出光電子(根據(jù)能量不同,各軌道的電子都有可能激發(fā)成光電子),將被激發(fā)出的光電子按其能量(結(jié)合能或動(dòng)能)進(jìn)行全掃描,就得到 X 射線光電子能譜。這些出射粒子攜帶著有關(guān)表面信息離開表面而被相應(yīng)探測(cè)器所接收,因此得到各種相應(yīng)的圖譜。究其原因,是由于粒子表面組分或結(jié)構(gòu)發(fā)生了變化,有可能某種成份會(huì)在表面富集起來,或晶 83 體中原子的周期性排列在表面突然中斷,于是在表面 出現(xiàn)了所謂重構(gòu)和弛豫現(xiàn)象,或表面原子的電子結(jié)構(gòu)不同于體內(nèi)原子的電子結(jié)構(gòu)。 另外,通過 ξ 電位檢測(cè),還可通過粒子的移動(dòng)方向與電場(chǎng)的方向來判斷粒子所帶電荷的電性,這一點(diǎn)對(duì)研究納米粒子的分散性很重要。 Smoluchowski 近似:????v, 100?ka 。ckel 近似:???32?v, 1?ka 。 特別地,當(dāng) 1?ka 時(shí), 1)( ?kaf ; 100?ka 時(shí), 23)( ?kaf 。ckel 參數(shù),其倒數(shù)κ 1 為雙電層厚度;式中 F—— 法拉第常數(shù), 96485C; R—— 氣體常數(shù); T—— 絕對(duì)溫度 ( K) ; I—— 離子強(qiáng)度( M); i c —— i 離子濃度;iZ —— i 離子價(jià)數(shù)。 ξ 電位的檢測(cè)實(shí)際上就是先測(cè)出粒子在外加電場(chǎng)中的平均遷移率 sV ,由此計(jì)算出電泳率 v( EVs? ),再根據(jù)公式 ?? 221iiZcI,RTIF?? 2022?, ),(32 ???? kafv ?,算出 ξ 電位值。如果施加一定電 82 場(chǎng)力,可使帶電粒子向極性相反的電極遷移,稱為電泳。顆粒帶著其固定層運(yùn)動(dòng),故它運(yùn)動(dòng)時(shí)所表現(xiàn)的是ξ電位,各顆粒都帶同號(hào)的動(dòng)電位。顆粒表面所吸附的水分子膜 與緊密層離子的水化分子又構(gòu)成了固定層,固定層以外的范圍稱為可動(dòng)層,固定層與可動(dòng)層的界面稱為切動(dòng)面。在緊密層以外的范圍內(nèi),溶液中的正負(fù)離子由于其與顆粒間的靜電斥力和熱運(yùn)動(dòng)這兩種相反作用抗衡的結(jié)果,呈現(xiàn)出一定的位置分布,這個(gè)范圍稱作擴(kuò)散層。 因粒子表面帶電,所以通過靜電庫侖力和其它引力將一些反號(hào)的離子緊密吸附,構(gòu)成緊密層。 納米粒子表面電性能( ξ 電位)檢測(cè)技術(shù) [33, 34] 所有納米粒子在液體介質(zhì)中都是帶有電荷的。雖然由計(jì)算僅得到試樣的粒度值(平均粒徑)而不知其粒度分布,但由于 BET 法的高解析度,該值定量精確、重復(fù)性好、可靠性高,所以目前是定量表征納米粒徑的權(quán)威方法。 通過比表面積儀測(cè)得納米粒子的比表面積后,即可求得其比表面積球當(dāng)量徑wBET Sd ????1000( nm)。標(biāo)準(zhǔn)的(也是應(yīng)用性最廣、最精確的)測(cè)定方法是氣體的低溫吸附法,即將已知分子尺寸的低溫氣體凝結(jié)(吸附)在試樣顆粒表面,測(cè)量氣體吸附量來計(jì)算粒子的比表面積??梢妰烧叩臋z測(cè)原理是不相同的,所檢測(cè)的數(shù)據(jù)其內(nèi)涵也就不同,請(qǐng)讀者注意不要混淆。 X 射線廣角衍射寬化法是一種檢測(cè)晶粒度與晶格畸變的方法,其原理是: 如果試樣晶粒小于 μ m 或存在晶格畸變,則會(huì)引起 X 射線衍射峰寬化。 ( 4)標(biāo)準(zhǔn)樣品 這類樣品應(yīng)當(dāng)形狀規(guī)則、性能穩(wěn)定,如二氧化硅溶膠、聚苯乙烯球、蒸發(fā)冷凝法制取的鎳粉等。膠體濃度要與密集度的要求一致,必要時(shí)可加入表面活性劑或用超聲波振蕩使膠粒均勻分散。廣角衍射所采用的粉末制樣方法,一般不適用于小角散射。 ( 1)粉末樣品 根據(jù) P 值和 t’的要求,將一定量粉末分散于一定濃度的火棉膠丙酮溶液中,經(jīng)攪拌和超聲波振蕩成均勻懸濁液,置烘箱內(nèi)干燥成片狀,也可將粉末分散于石臘中。=1/e 為樣品的最佳厚度,它可以通過計(jì)算求得,亦可以將樣品置于接受狹縫前,當(dāng)入射光束衰減至原來的 1/e 時(shí),就可確定為最佳厚度。通常,如果樣品沿厚度方向均勻,散射強(qiáng)度與 tte?? 成正比, e 為樣品的線吸收系數(shù),t 為其厚度。 只有粒度小于 100nm 的粒子用此法檢測(cè)才有意義,如果儀器條件好(功率大于 10kW),上限可至 150nm。檢測(cè)時(shí),如果顆粒分散好、且粒 子具有相同形狀、大?。ǚ駝t下列公式需修正),則 222334ln ??? RaI ?? 為一直線,式中 I—— 衍射強(qiáng)度, a——常數(shù), R—— 顆粒的重心轉(zhuǎn)動(dòng)慣量的回轉(zhuǎn)半徑,λ —— 波長,ε —— 衍射角( rad),由此可得: 80 ??? ,式中? —— 2ln ??I 直線的斜率。因此,這類體系的合成散射,一般呈從中心向外迅速衰減的連續(xù)花樣,僅在某種特定條件下才給出衍射環(huán)或取向花樣,但這些環(huán)是不能夠用布喇格公式來詮釋的。超細(xì)顆粒系所涉及的范圍更廣,如有機(jī)大分子溶液、各種溶膠、超細(xì)和納米粉末以及各種材料和制品中形成的超微空穴、位錯(cuò)、析出相等,它們同周圍介質(zhì)的電子密度都會(huì)在不同程度上存在著差異,和前一類散射基元不同, 它們?cè)诳臻g的分布處于隨機(jī)狀態(tài),且同一體系中散射體的尺寸、形狀不同,因此它們的散射既不同于晶體和無定形體,也不同于液體和氣體。 圖 39 納米粒子的掃描電鏡像( ) X 射線小角散射 [2830] 1.原理 X 射線小角散射是發(fā)生在原光束附近從零到幾度范圍內(nèi)的相干散射現(xiàn)象。可看到,納米粒子大小均勻、呈松散粘結(jié),團(tuán)聚成直徑約 13μ m 左右的多孔球體。 因此,將掃描電鏡( SEM)用于納米醫(yī)藥領(lǐng)域不存在困難。如果將樣品室移至高激發(fā)物鏡內(nèi),即成 InIens 型 FEG SEM,它因大舉縮短工作距離,并將二次電子以外的干擾幾乎全部去除,所以能大幅提高分辨率,在 30kV 下可達(dá) ,在 1kV 下亦可達(dá)到 ,這已快接近 TEM 的圖像分辨率了。 掃描電鏡 [26, 27] 掃描電鏡( SEM)是材料顯微形貌觀察方面最主要、使用最廣泛的分析儀器,它具有視野寬、景深長、儀器操作方便、試樣制備簡(jiǎn)單的特點(diǎn)。 值得一提的是,場(chǎng)發(fā)射顯微鏡( FEM)、場(chǎng)離子顯微鏡( FIM)、原子探針 場(chǎng)離子顯微鏡( APFIM)的探測(cè)原理同掃描探針顯微技術(shù)( SPM) 相似,都運(yùn)用了電子隧道效應(yīng),但本質(zhì)上仍有所不同。 樣品的濃度不能太大,過大會(huì)形成較厚的堆積層 ; 為使樣品能在基底表面呈均一分散狀態(tài),可在溶液中加入少量能減少表面張力的溶劑 。 目前 , 對(duì)于 STM 圖像的解釋尚沒有完整的理論 。 一般 生物 樣品不是剛性結(jié)構(gòu) , 具有不同程度的柔軟性 。 高定向石墨( HOPG)是 STM 在研究生物分子時(shí)常用的基底 , 在新剝離的 HOPG 表面存在某些類似于 DNA 和其它生物體 系的特性 , 因此 ,能否盡快找到合適的基底材料 , 或建立一種行之有效的、能區(qū)分生物分子與基底特征的實(shí)驗(yàn)方法 , 是影響 STM 在生物 醫(yī)藥 領(lǐng)域 中應(yīng)用的關(guān)鍵 ;② 樣品的導(dǎo)電性 。 2. STM 在 生物醫(yī)藥領(lǐng)域 中 的 應(yīng)用 [1625] STM 可改變觀測(cè)范圍 , 為研究各種不同層次的 生 物樣品 結(jié)構(gòu)提供了可能 , 目前 STM 的掃描范圍可從數(shù)納米到 100μm, 對(duì)應(yīng)于 原子、分子、超分子、亞細(xì)胞乃至細(xì)胞水平的不同層次 ,已在 生命科學(xué)領(lǐng)域獲得了廣泛應(yīng)用,已經(jīng)拍攝并解析了 核酸 、 蛋白質(zhì) (包括 氨基酸 和 多肽 、 膠原蛋白、細(xì)胞骨架蛋白、 HPI 蛋白 、 蛋白聚集體 、 分散蛋白質(zhì) 等)、生物膜( 二磷脂酰膽堿 DMPC 膜 、 卵磷脂雙層膜 、TE671 細(xì)胞膜 )的 STM 圖像。而 利用 其它 衍射手段都不 能 對(duì)樣品實(shí)空間直接觀察 , 而是從得到的間接信息中反推樣品結(jié)構(gòu) 。 在 STM 出現(xiàn)以前 , 沒有一種顯微技術(shù)在橫向 和 縱向都能達(dá)到原子級(jí)分辨率 。通過記錄掃描過程中針尖位移的變化(恒電流工作模式)或隧道電流的變化(恒高度工作模式),即可得到樣品表面三維顯微形貌圖。根據(jù)量子力學(xué)理論,由于金屬中的自由電子具有波動(dòng)性,電子波向表面?zhèn)鞑?,在遇到邊界時(shí),一部分被反射,另一部分則可透過過界,從而形成金屬表面上的電子云。 1986 年 STM 的發(fā)明者 獲得了 諾貝爾物理學(xué)獎(jiǎng) 。 1982 年 , Bining 和 Rohrer 等發(fā)明了 掃描隧道顯微鏡 ( Scanning Tunneling Microscope, STM)。它們所具有的共同特點(diǎn)是均有一個(gè)很細(xì)的針尖,在工作狀態(tài)下,針尖與樣品之間產(chǎn)生高度局域化的場(chǎng),如電場(chǎng)、磁場(chǎng)、力場(chǎng)等,該局 域場(chǎng)可以用作探針以觀察原子和分子,獲取樣品表面納米尺度的形貌和電學(xué)信息。薄膜在電鏡觀察時(shí)不應(yīng)顯示自身結(jié)構(gòu),應(yīng)當(dāng)堅(jiān)固、耐高溫、能經(jīng)得住電子的轟擊,還必須盡可能的薄,使得電子透過時(shí)不被明顯的吸收,不降低其空間分辨率,其厚度通常為 15nm~20nm。 樣品載網(wǎng)可以用銅、鈦、鎳、鉬、鋁、鉑、金或尼龍制成。 ( 3)樣品的支持物 無論是哪 種方法制備的樣品,在對(duì)其分析的時(shí)候,都必須放在某種支持物上,才能放入電鏡中進(jìn)行分析。 冰凍含水樣品由于水分保持在樣品內(nèi),能盡可能好地保持其原始狀態(tài)。 超薄切片的圖像分辨率較好,所得的圖象反差大,定量分析也較容易,但其中的水分較厚樣品中難以很好地保持。樣品切片后,要用特制的工具將其轉(zhuǎn)移到裝有冷凍操作臺(tái)的電鏡中進(jìn)行分析。冰凍方法、樣品塊和刀的溫度、切割速度、刀的角度和鋒利程度、冰凍干燥的效率等都會(huì)影響切片的質(zhì)量。 冰凍超薄切片技術(shù):是將樣品
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