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spc統(tǒng)計(jì)過程控制的應(yīng)用課程-資料下載頁

2025-02-20 14:58本頁面
  

【正文】 選擇 子 組 的容量、 頻 率及 數(shù) 量 ? 因控制限是基于近似的正態(tài)分布,故使用的樣本容量應(yīng)該使 np≥5 。 ? 子 組 容量 : ? 用 于計(jì)數(shù) 型 數(shù)據(jù) 的控制 圖 一般要求 較 大的子 組 容量 (例如 50~ 200)以便 檢驗(yàn) 出性能的 變 化,一般希望每 組內(nèi) 能包括 幾個(gè) 不合格品 ; ? 分 組頻 率 : ? 應(yīng) 根 據(jù)產(chǎn) 品的 周 期 確 定分 組 的 頻 率以便 幫 助分析和 糾 正 發(fā)現(xiàn) 的 問題 。 時(shí)間隔 短 則 反 饋 快,但 與大 的子組 容量的要求矛盾 ; ? 子 組數(shù) 量 : ? 要大 于 等 于 25組 以上,才能判定其 穩(wěn)定 性。 使用不合格品率 控制 圖( p圖) 的 步驟 129 A 計(jì) 算每 個(gè) 子 組內(nèi) 的不合格品率 ? 記錄 每 個(gè)樣本組 的下列值 : ? 樣本數(shù) 量 — n ? 發(fā)現(xiàn) 的不合格 品的數(shù) 量 ─ d(np) ? 通 過上述數(shù)據(jù)計(jì) 算 每個(gè)子組的 不合格品率 : iiinnpndp ??使用不合格品率 控制 圖( p圖) 的 步驟 i為子組數(shù) 130 A 選擇 控 制圖的 坐 標(biāo) 刻度 ? 描 繪數(shù)據(jù)點(diǎn) 用的 圖應(yīng)將 不合格品率作 為縱坐標(biāo) , 識別的 子 組 作 為橫 坐 標(biāo) 。 縱 坐 標(biāo) 刻度 應(yīng)從 0到初步研究數(shù)據(jù)讀數(shù) 中最大的不合格 品 率值的 2倍。 劃圖區(qū)域 使用不合格品率 控制 圖( p圖) 的 步驟 131 A 將 不合格品率描 繪 在控制 圖 上 ? 將每個(gè)子組組的不合格品率 p描繪在 控 制圖上; ? 依次用直線連接,將這 些 點(diǎn)連 成 線 通常有助 于發(fā)現(xiàn)異 常 圖 形和 趨勢; ? 當(dāng)點(diǎn) 描完 后 ,粗 覽 一遍看看它 們 是否合理,如果任意一 點(diǎn) 比別的高出或低出 許多 , 檢 查 計(jì) 算是否正 確; ? 記錄過 程的 變 化或者可能影 響過 程的 異 常 狀 況, 當(dāng)這 些情 況 被 發(fā)現(xiàn)時(shí) , 將 它 們記錄 在控制 圖 的“ 備注 ”欄位 。 使用不合格品率 控制 圖( p圖) 的 步驟 132 B步驟 建立控制限 B 計(jì)算過 程平均不合格品率 ; B 計(jì) 算上、下控制限 ; B 畫線并標(biāo)注。 使用不合格品率 控制 圖( p圖) 的 步驟 133 ni p p p LCL ni p p p UCL p CL n n n d d d n n n p n p n p n p p p p k k k k k ) 1 ( 3 ) 1 ( 3 .... ...... .... .... 2 1 2 1 2 1 2 2 1 1 ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? 中心線和控制限: 計(jì) 算 過程 平均不合格 品 率 和 控制限 : 使用不合格品率 控制 圖( p圖) 的 步驟 134 使用不合格品率 控制 圖( p圖) 的 步驟 如果樣本容量( n )恒定,控制限為: n p p p LCL n p p p UCL p p ) 1 ( 3 ) 1 ( 3 ? ? ? ? ? ? 135 使用不合格品率 控制 圖( p圖) 的 步驟 當(dāng)樣本容量變化時(shí),如果 nmin/nmax≥ 則控制限不變: n為子組樣本容量的均值 n p p p LCL n p p p UCL p p ) 1 ( 3 ) 1 ( 3 ? ? ? ? ? ? 136 任何處理可變控制限的程序都會變得麻煩,并且可能使解釋控制圖的人員造成混淆。 如果可能的話,最好是調(diào)整數(shù)據(jù)收集計(jì)劃,從而使用固定的樣本容量。 也可以進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)變換,形成固定控制限的通用控制圖。 使用不合格品率 控制 圖( p圖) 的 步驟 137 C步驟 過程是否受控的制釋 C 分析 數(shù)據(jù)點(diǎn) ,找出不 穩(wěn) 定 證據(jù); C 尋 找 并糾 正 特殊 原因 ; C 重新 計(jì) 算控制限 。 使用不合格品率 控制 圖( p圖) 的 步驟 138 C 尋 找 并糾 正 特殊 原因 ? 當(dāng)從數(shù)據(jù) 中已 發(fā)現(xiàn) 了失控的情況 時(shí) , 則 必 須 研究操作 過 程以便確定 其原因。然 后糾 正 該 原因 并盡 可能防止其再 發(fā) 生。由 于 特殊原因是通 過 控制 圖發(fā)現(xiàn) 的,希望操作者或 現(xiàn)場檢驗(yàn)員 有能力找出特殊 原因 并糾 正。 C 重新 計(jì) 算控制界限 ? 當(dāng)進(jìn) 行初始 過 程研究或 對過 程能力重新 評價(jià)時(shí) , 應(yīng)計(jì) 算 試驗(yàn) 控制限 ; ? 一旦 控制圖穩(wěn)定和受控并且過程能力可接受 , 則 可 將 控制限延伸到 將來 的 時(shí) 期。它 們 便 變 成了操作控制限, 控制圖則成為控制用控制圖。 使用不合格品率 控制 圖( p圖) 的 步驟 139 D步驟 過程能力解釋 D 計(jì) 算 和 評價(jià) 過程 能力 ; D2、改進(jìn)過 程能力 ; D3、繪 制 并 分析修改 后 的控制 圖。 使用不合格品率 控制 圖( p圖) 的 步驟 140 計(jì) 算 和評價(jià)過程 能力 對于 p圖 , 過 程能 力 是通 過 平均不 合格品 率 p來 表 示 , 當(dāng)所有 點(diǎn) 都受控 后 才 計(jì) 算 該 值。如需要, 還 可以用符合 規(guī)范 的比例 (1p)來 表示。 對于過 程能力的初步估 計(jì) 值, 應(yīng) 使用 歷史數(shù)據(jù) ,但應(yīng)剔除與 特殊原因有 關(guān) 的 數(shù)據(jù)點(diǎn) 。 當(dāng) 正式研究 過 程能力 時(shí) , 應(yīng) 使用新的 數(shù)據(jù) ,最好是25個(gè) 或更多 時(shí) 期子 組 ,且所有的 點(diǎn) 都受 統(tǒng)計(jì) 控制。 這 些連續(xù) 的受控的 時(shí) 期 樣本組 的 p值是 該過 程 當(dāng) 前能 力 的更好的估 計(jì) 值。 使用不合格品率 控制 圖( p圖) 的 步驟 141 改進(jìn)過 程能力 過 程一旦表 現(xiàn) 出 處于統(tǒng)計(jì) 控制 狀態(tài) , 該過 程所保持的不合格平均水平即反 應(yīng) 了 該 系 統(tǒng) 的 變 差原因 —— 過 程能力。 可以使用 諸 如排列 圖 分析法及因果分析 圖 等 解決問題技術(shù) 。但是如果 僅 使用 計(jì)數(shù) 型 數(shù)據(jù)將 很 難 理解 問題 所在,通常 盡 可能地追溯 變 差的可疑原因, 并 借助 計(jì) 量型 數(shù)據(jù)進(jìn) 行 分析將 有利 于問題 的解決。 使用不合格品率 控制 圖( p圖) 的 步驟 142 某公司的最終功能試驗(yàn)是每天抽取 500臺產(chǎn)品,自 5月 6日至 6月 10共有 25組數(shù)據(jù)如下,請計(jì) 算出 p控制 圖 的控制限? 畫出控制圖后 判定 過 程是否 穩(wěn) 定?如果不 穩(wěn) 定 該 如何 處 理? 案例練習(xí) 18 17 12 13 8 d 500 500 500 500 500 n 25 24 23 22 21 子組 15 20 17 16 10 16 31 11 24 16 d 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 n 20 19 18 17 16 15 14 13 12 11 子組 18 17 14 18 26 9 13 19 15 12 d 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 n 10 9 8 7 6 5 4 3 2 1 子組 143 2 52 01 51 0500 . 0 70 . 0 60 . 0 50 . 0 40 . 0 30 . 0 20 . 0 10 . 0 0S a m p l e N u m b e rProportionP C h a r t f o r p1P = 0 . 0 3 2 4 03 . 0 S L = 0 . 0 5 6 1 6 3 . 0 S L = 0 . 0 0 8 6 4 5144 21 15 13 17 10 d 1187 1352 1255 1433 392 n 25 24 23 22 21 子組 19 15 5 13 9 14 9 19 17 16 d 1244 1058 973 1365 2306 1190 1305 1721 1066 1325 n 20 19 18 17 16 15 14 13 12 11 子組 18 24 10 13 15 14 16 13 13 8 d 542 1184 1028 1202 995 1376 1401 804 1216 968 n 10 9 8 7 6 5 4 3 2 1 子組 某公司一道工序的自 1月 20日至 2月 23日每天的加工樣本和檢驗(yàn)報(bào)廢數(shù)據(jù)如下,請計(jì) 算出 p控制 圖 的控制限? 畫出控制圖后 判定 過 程是否 穩(wěn) 定?如果是不 穩(wěn) 定 該 如何 處 理? 案例練習(xí) 145 2 52 01 51 0500 . 0 30 . 0 20 . 0 10 . 0 0S a m p l e N u m b e rProportionP C h a r t f o r dP = 0 . 0 1 1 9 23 . 0 S L = 0 . 0 2 1 3 7 3 . 0 S L = 0 . 0 0 2 4 7 2146 np圖 是 用來 度量一 個(gè)樣本組 中的不合格品的 數(shù) 量, 與 p圖 不同, np圖 表示不合格品 的實(shí)際數(shù) 量而不是 不合格率。 p圖 和 np圖適 用的基本 情況 相同, 當(dāng)滿 足下列 情況可 選 用 np圖: ? 不合格品的 實(shí)際數(shù) 量比不合格品率更有意 義 或更容易 報(bào) 告。 ? 子 組 的 樣 本容量相同。 np圖 的 詳細(xì)說 明 與 p圖 很相似,不同之 處 如下 : 使用不合格品數(shù) 控制 圖( np圖) 的 步驟 147 A、 收集 數(shù)據(jù) ? 樣 本 子組 的容量必 須 相等。 ? 樣 本容量 應(yīng) 足 夠 大使每 個(gè)樣本 子 組內(nèi) 都出 現(xiàn)幾個(gè) 不合格品,在 數(shù)據(jù) 表上 記錄樣 本的容量 。 ? 分 組 的周期 應(yīng) 按照生 產(chǎn)間隔 和反 饋 系 統(tǒng) 而定。 ? 記錄并 描 繪 每 個(gè) 子 組內(nèi) 的不合格品 數(shù) d(np)。 使用不合格品數(shù) 控制 圖( np圖) 的 步驟 148 B、 計(jì) 算控制限 使用不合格品數(shù) 控制 圖( np圖) 的 步驟 ) 1 ( 3 ) 1 ( 3 ..... 2 1 p p n p n LCL p p n p n UCL d p n CL k np np np np np np k ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? np 149 過 程 是否受控的 解 釋和過程能力的計(jì)算 : ? 特殊原因識別準(zhǔn)則與 p圖相同; ? np圖過 程能力 為 : :chart np of capability the 使用不合格品數(shù) 控制 圖( np圖) 的 步驟 150 某公司的最終功能試驗(yàn)是每天抽取 500臺產(chǎn)品,自 5月 6日至 6月 10共有 25組數(shù)據(jù)如下,請計(jì) 算出 np控制 圖 的控制限?畫出控制圖后 判定 過 程是否 穩(wěn) 定?如果不 穩(wěn) 定 該 如何 處 理? 案例練習(xí) 18 17 12 13 8 d 500 500 500 500 500 n 25 24 23 22 21 子組 15 20 17 16 10 16 31 11 24 16 d 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 n 20 19 18 17 16 15 14 13 12 11 子組 18 17 14 18 26 9 13 19 15 12 d 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 n 10 9 8 7 6 5 4 3 2 1 子組 151 2 52 01 51 0503 02 01 00S a m p l e N u m b e rSample CountN P C h a r t f o r p1N P = 1 6 . 2 03 . 0 S L = 2 8 . 0 8 3 . 0 S L = 4 . 3 2 2152 c圖用來測 量一 個(gè)檢驗(yàn) 批 內(nèi)不合格(或稱為“缺陷”)的 數(shù) 量, c圖 要求 樣 本容量 恒 定或受 檢材 料的 數(shù) 量 恒 定,它主要 應(yīng)用于 以下 兩類檢驗(yàn) : ? 不合格分布 在 連續(xù) 的 產(chǎn) 品流上 (例如每匹 維 尼 龍 上的瑕疪,玻璃上的 氣 泡或 電線 上 絕緣層 薄的 點(diǎn) ),以及可以用 缺陷 的平均比率表示的地方 (如每 100平方米維 尼 龍 上暇疵 ); ? 在 單個(gè) 的 產(chǎn) 品 檢驗(yàn) 中可能 發(fā)現(xiàn)許 多不同 潛
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