【正文】 ? 樣 本容量 應(yīng) 足 夠 大使每 個(gè)樣本 子 組內(nèi) 都出 現(xiàn)幾個(gè) 不合格品，在 數(shù)據(jù) 表上 記錄樣 本的容量 。 這 些連續(xù) 的受控的 時(shí) 期 樣本組 的 p值是 該過 程 當(dāng) 前能 力 的更好的估 計(jì) 值。由 于 特殊原因是通 過 控制 圖發(fā)現(xiàn) 的，希望操作者或 現(xiàn)場(chǎng)檢驗(yàn)員 有能力找出特殊 原因 并糾 正。 劃圖區(qū)域 使用不合格品率 控制 圖（ p圖） 的 步驟 131 A 將 不合格品率描 繪 在控制 圖 上 ? 將每個(gè)子組組的不合格品率 p描繪在 控 制圖上； ? 依次用直線連接，將這 些 點(diǎn)連 成 線 通常有助 于發(fā)現(xiàn)異 常 圖 形和 趨勢(shì)； ? 當(dāng)點(diǎn) 描完 后 ，粗 覽 一遍看看它 們 是否合理，如果任意一 點(diǎn) 比別的高出或低出 許多 ， 檢 查 計(jì) 算是否正 確； ? 記錄過 程的 變 化或者可能影 響過 程的 異 常 狀 況， 當(dāng)這 些情 況 被 發(fā)現(xiàn)時(shí) ， 將 它 們記錄 在控制 圖 的“ 備注 ”欄位 。 預(yù)控制圖的缺點(diǎn)： ? 既不能估計(jì)也不能監(jiān)控過程的穩(wěn)定性。然后把兩個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)中的每一個(gè)描在控制圖上并且對(duì)照一組規(guī)則進(jìn)行評(píng)審。 紅綠燈信號(hào)控制圖 119 否 執(zhí)行反應(yīng)計(jì)劃 是 否 另外選 3個(gè)樣本 否 是 全部在 綠色區(qū)？ 有落在紅色區(qū) ? 設(shè)置過程 正常生產(chǎn) 選 2個(gè)零件 是 有落在紅色區(qū) ? 35個(gè)落在 黃色區(qū) ? 是 紅綠燈信號(hào)控制圖 120 預(yù)控制圖 預(yù)控制圖的目的是對(duì)不合格的控制而不是過程控制，它的控制是基于公差而不是過程變差。 ? 如果一個(gè)或兩個(gè)都在紅色區(qū)域，停止過程，通知指定人員采取糾正措施和材料挑選。 113 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 1 50 47 46 50 46 50 47 48 50 49 2 50 53 45 48 48 49 49 50 50 51 3 49 53 49 49 50 52 50 46 49 51 4 52 45 48 49 54 51 48 49 51 46 5 51 50 49 52 50 54 52 51 53 48 課堂練習(xí) 假設(shè) 其 規(guī)格為 50177。它同時(shí)考慮了過程的位置和性能。 如果產(chǎn)品的特性具有物理極限（例如：平面度不可能小于 0）， Cp就可以用物理極限（ 0）作為下限的替代值來計(jì)算。 100 請(qǐng) 依 照 上 個(gè)課堂練習(xí) 的 數(shù)據(jù) ， 計(jì) 算下列 指數(shù)： ? Pp、 Ppk。計(jì)算公式如下： 6S LSL USL ? ? 2? dR??及組間變差都考慮進(jìn)去內(nèi)變差製程績(jī)效所表達(dá)的是組1)(??3?3),min(12??????????nxxSxPxSPPPPniilplupuplpupk???96 USL USL LSL LSL 雙邊公差的過程測(cè)量指數(shù) 6sigma 6sigma X X M 97 雙邊公差的過程測(cè)量指數(shù) Ｐ pk： 性能 指數(shù)。 Cpk是 CPU或者 CPL的最小值，公式如下： 2 3 3 d R LSL x CPL x USL CPU ? ? ? ? ? Cp和 Cpk 僅僅當(dāng)過程處于 穩(wěn)定狀態(tài)時(shí) 才有效。過程能力與由公差表示的最大可允許的變差進(jìn)行比較。 ? 使用單 值 圖 分析超出控制限的 點(diǎn)、 在控制限內(nèi) 的模式或趨勢(shì) 。 ~ R D LCL R D UCL R CL R A X LCL R A X UCL X CL R R R X X X 3 4 2 2 ~ ~ ~ ? ? ? ? ? ? ? ? 極差控制圖： 中位數(shù)控制圖： ~ ~ ~ ~ ~ 使用中位數(shù)和極差 控制 圖 的步 驟 78 在下列情況下，有必要使用單值而不是子組進(jìn)行過程控制（在這樣的情況下，子組內(nèi)的變差為 0）： — 在測(cè)量費(fèi)用很大時(shí)（例如破壞性試驗(yàn)），或 — 當(dāng)在任何時(shí)刻點(diǎn)的輸出性質(zhì)比較一致時(shí)（如：化學(xué)溶液的 PH值）。 如果此過程中心線偏離目標(biāo)值，可能需要針對(duì)目標(biāo) 值調(diào)整此過程。修訂后的 R、Ｘ用于重新計(jì)算控制限。 ? 如果顯著多余 2/3以上的描點(diǎn)落在離中心線很近之處（對(duì)于 25子組，如果超過 90%的點(diǎn)落在控制限內(nèi)中間的 1/3區(qū)域），則應(yīng)調(diào)查是否存在下列一種或兩種情況： ? 控制限或描點(diǎn)計(jì)算錯(cuò)誤或描錯(cuò)； ? 過程或取樣方法被分層，每個(gè)子組系統(tǒng)化包含了從兩個(gè)或多個(gè)具有完全不同的過程均值的過程流的測(cè)量值（如：從幾組軸中，每組抽一根來測(cè)取數(shù)據(jù)）。 在控制 圖 上 畫 出 中心線 和控制限 50 C 統(tǒng)計(jì)上是否受控的解釋 使用 XbarR控制 圖 的步 驟 C C 分析 極 差 圖 上的 數(shù)據(jù)點(diǎn) C 識(shí)別并標(biāo) 注特殊原因 (極 差 圖 ) C 重新 計(jì) 算控制界限 C 分析均值 圖 上的 數(shù)據(jù)點(diǎn) C 識(shí)別并處理 特殊原因 (均值 圖 ) C 重新 計(jì) 算控制界限 51 使用 XbarR控制 圖 的步 驟 C 過程控制的分析： 分 析控制圖的目的在于識(shí)別過程變化或過程均值不恒定的證據(jù)。 使用 XbarR控制 圖 的步 驟 A 39 抽樣頻率參考表 每小時(shí)產(chǎn)量 抽樣間隔 不穩(wěn)定 穩(wěn)定 10以下 8小時(shí) 8小時(shí) 1019 4小時(shí) 8小時(shí) 2049 2小時(shí) 8小時(shí) 5099 1小時(shí) 4小時(shí) 100以上 1小時(shí) 2小時(shí) 40 設(shè)置控制圖 包括過程和抽樣方法描述的表頭信息； 記錄 /顯示所收集數(shù)據(jù)的實(shí)際值的部分（日期 /時(shí)間 / 子組編號(hào)）； 對(duì)用于分析的每一個(gè)控制統(tǒng)計(jì)量描點(diǎn)的部分； 使用 XbarR控制 圖 的步 驟 A 將觀察記入日志的部分。 2σ % % μ 177。 圖內(nèi)有三條線： — 中心線 (CL)； — 上控制界限 (UCL)； — 下控制界限 (LCL) 。 這必須包括統(tǒng)計(jì)技術(shù)在內(nèi)的適用方法和應(yīng)用程度的確定。 波動(dòng)（變差）的概念 16 不精密 精密 準(zhǔn)確 不準(zhǔn)確 ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? 波動(dòng)如何表達(dá)？ 17 波 動(dòng) 原因 人員 機(jī)器 材料 測(cè)量 環(huán)境 方法 ? 正常波動(dòng) ：是由 普通 原因 造成的。 SPC常用術(shù)語(yǔ)解釋 10 名稱 解 釋 普通原因 （ Common Cause） 造成變差的一個(gè)原因，它影響被研究過程輸出的所有單值；在控制圖分析中，它表現(xiàn)為隨機(jī)過程變差的一部分。 單值（ Individual） 一個(gè)單個(gè)的單位產(chǎn)品或一個(gè)特性的 一次測(cè)量 ，通常用符號(hào) X 表示。 應(yīng)用統(tǒng)計(jì)過程控制的方法實(shí)現(xiàn)預(yù)防不合格的原則。 1924年，美國(guó)的 休哈特博士 提出將 3Sigma原理運(yùn)用于生產(chǎn)過程當(dāng)中，并發(fā)表了著名的“控制圖法”，對(duì)過程變量進(jìn)行控制，為統(tǒng)計(jì)質(zhì)量管理奠定了理論和方法基礎(chǔ)。 SPC的作用 8 名稱 解 釋 平均值（ Xbar） 一組測(cè)量值的 均值 極 差 （ Range） 一個(gè)子組、樣本或總體中 最大與最小值之差 σ（ Sigma） 用于代表標(biāo)準(zhǔn)差的希臘字母 標(biāo)準(zhǔn)差 (Standard Deviation) 過程輸出的 分布寬度 或從過程中統(tǒng)計(jì)抽樣值（例如：子組均值）的分布寬度的 量度 ，用希臘字母 σ或字母 s（用于樣本標(biāo)準(zhǔn)差）表示。 變差（ Variation） 過程的單個(gè)輸出之間 不可避免的差別 ；變差的原因可分為兩類：普通原因和特殊原因。 時(shí)間 范圍 13 過程控制 受控 （消除了特殊原因） 時(shí)間 范圍 不受控 （存在特殊原因） 14 過程能力 受控且有能力符合規(guī)范 （普通原因造成的變差已減少） 規(guī)范下限 規(guī)范上限 時(shí)間 范圍 受控但沒有能力符合規(guī)范 （普通原因造成的變差太大） 15 波動(dòng)的概念是指在現(xiàn)實(shí)生活中沒有兩件東西是完全一樣的。如原材料不合格、設(shè)備出現(xiàn)故障、工夾具不良、操作者不熟練等。 22 統(tǒng)計(jì)過程控制(SPC) 二、控制圖基礎(chǔ) 控制圖定義 控制圖的設(shè)計(jì) 控制圖的分類 控制圖 的選用程序 23 控制圖是用于分析和控制過程質(zhì)量的一種方法。 控制 圖 的 設(shè)計(jì) 26 % % % μ +1σ +2σ +3σ 1σ 2σ 3σ 控制 圖 的 設(shè)計(jì) 27 總體 平均值 =μ 標(biāo)準(zhǔn) 差 =σ μ μ+k σ μ k σ 抽樣 21 222)(????????eexkk?????? ??控制 圖 的 設(shè)計(jì) 28 % % μ 177。 控制 圖 的 設(shè)計(jì) 中心線ＣＬ＝分析的統(tǒng)計(jì)量的均值 上控制限ＵＣＬ＝ＣＬ＋３＊均值的標(biāo)準(zhǔn)差 下控制限ＬＣＬ＝ＣＬ－３＊均值的標(biāo)準(zhǔn)差 中心線 下控制限線 上控制限線 31 計(jì)量型數(shù)據(jù) XR 均值和極差圖 計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù) p chart 不合格品率控制圖 XS均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖 np chart不合格品數(shù)控制圖 XR 中位值極差圖 c chart 不合格數(shù)控制圖 XMR單值移動(dòng)極差圖 u chart單位產(chǎn)品不合格數(shù)控制圖 ~ 控制 圖 的 類型 32 確定要使用控制圖的特性 否 否 是 是 使用 np或 p圖 否 使用 p圖 否 使用 u圖 是 是 使用 c或 u圖 是 是 使用單值圖 XMR 是計(jì)量型 數(shù)據(jù)嗎？ 關(guān)心的是 不合格產(chǎn)品的 百分比嗎？ 關(guān)心的是 不合格數(shù)嗎？ 樣本容量 是否恒定？ 樣本容量 是否恒定？ 性質(zhì)上是否均勻 或不能按子組取樣 —例如：化學(xué)槽液、 批量油漆等？ 接下頁(yè) 控制 圖 的 選用程序 33 是 否 使用 X—R圖 是 否 使用 X—R圖