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正文內(nèi)容

spc統(tǒng)計(jì)過程控制的應(yīng)用課程(編輯修改稿)

2025-03-10 14:58 本頁面
 

【文章內(nèi)容簡介】 程是否存在特殊原因,如存在排除已知特殊 原因影響的子組后,重新計(jì)算新的控制限并畫出新的 控制圖,再次判定過程是否受控? 64 典型特殊原因識(shí)別準(zhǔn)則 典型特殊原因識(shí)別準(zhǔn)則的匯總 1 一個(gè)點(diǎn)遠(yuǎn)離中心線超過 3個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差 2 連續(xù) 7點(diǎn)位于中心線一側(cè) 3 連續(xù) 6點(diǎn)上升或下降 4 連續(xù) 14點(diǎn)交替上下變化 5 2/3的點(diǎn)距中心線的距離超過 2個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差(同一側(cè)) 6 4/5的點(diǎn)距中心線的距離超過 1個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差(同一側(cè)) 7 連續(xù) 15個(gè)點(diǎn)排列在中心線 1個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差范圍內(nèi)(任一側(cè)) 8 連續(xù) 8個(gè)點(diǎn)距中心線的距離大于 1個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差(任一側(cè)) 65 典型特殊原因識(shí)別準(zhǔn)則 典型特殊原因識(shí)別準(zhǔn)則應(yīng)用注意事項(xiàng): 1 除了第一條準(zhǔn)則,其他與準(zhǔn)則相聯(lián)系的數(shù)字不并不代表使用的順序和優(yōu)先級(jí),確定使用哪一條附加的準(zhǔn)則取決于特定的過程特性,和在過程內(nèi)起顯著作用的特殊原因。 2 小心不要應(yīng)用多重準(zhǔn)則,除非在那些有意義的事情上。每個(gè)附加準(zhǔn)則的應(yīng)用增加了發(fā)現(xiàn)特殊原因的靈敏度,但也增加了犯第 1類錯(cuò)誤的機(jī)會(huì)。 66 A B C C B A UCL LCL A B C C B A UCL LCL 特殊原因識(shí)別準(zhǔn)則 :2/3A 連續(xù) 3點(diǎn) 中有 2點(diǎn) 在 A區(qū) 或 A區(qū)以外 特殊原因識(shí)別準(zhǔn)則 2: 4/5B 連續(xù) 5點(diǎn) 中有 4點(diǎn) 在 B區(qū) 或 B區(qū) 以外 XX典型特殊原因識(shí)別準(zhǔn)則 67 A B C C B A UCL LCL A B C C B A UCL LCL 特殊原因識(shí)別準(zhǔn)則 :6連 串 連續(xù) 6點(diǎn)持續(xù) 地上升或下降 特殊原因識(shí)別準(zhǔn)則 : 8缺 C 連續(xù) 8點(diǎn) 在中心 線 的 兩側(cè) ,但 C區(qū) 沒有點(diǎn) XX典型特殊原因識(shí)別準(zhǔn)則 68 A B C C B A UCL LCL A B C C B A UCL LCL 特殊原因識(shí)別準(zhǔn)則 : 7單側(cè) 連續(xù) 7點(diǎn)位于中心線一側(cè) 特殊原因識(shí)別準(zhǔn)則 : 14升降 連續(xù) 14點(diǎn)交替上下變化 XX典型特殊原因識(shí)別準(zhǔn)則 69 A B C C B A UCL LCL A B C C B A UCL LCL 特殊原因識(shí)別準(zhǔn)則: 15C 連續(xù) 15點(diǎn) 在中心 線 上下 兩側(cè) 的C區(qū) 特殊原因識(shí)別準(zhǔn)則 : 1界外 有 1點(diǎn) 在 A區(qū) 以外 XX典型特殊原因識(shí)別準(zhǔn)則 70 使用 XbarR控制 圖 的步 驟 C 案例練習(xí): 請(qǐng)應(yīng)用典型特殊原因識(shí)別準(zhǔn)則判定過程是否存在 特殊原因? 71 D 為持續(xù)控制延長控制限 使用 XbarR控制 圖 的步 驟 D 當(dāng)初始的(或歷史的)數(shù)據(jù)都一致地落在試用的 控制限內(nèi),就可以延長控制限以適用未來的控制 需要。 如果此過程中心線偏離目標(biāo)值,可能需要針對(duì)目標(biāo) 值調(diào)整此過程。 這些控制限將用于過程的持續(xù)監(jiān)控,操作者和所屬 的管理者根據(jù)在 X或 R圖上所出現(xiàn)的關(guān)于位置和變差 不受控的信號(hào)而采取迅速的措施。 72 “ 三立即 ”原則: 操作者或現(xiàn)場管理者根據(jù)規(guī)定的取樣頻率和樣本容量抽取樣本組、 立即 計(jì)算 Xbar和 R并將其畫在控制圖中并與前點(diǎn)用短直線連接; 立即 應(yīng)用特殊原因識(shí)別準(zhǔn)則判定制造過程是否存在特殊原因; 如制造過程存在特殊的原因,操作著或現(xiàn)場管理者應(yīng) 立即 分析不受控特殊原因并采取措施確保制造過程恢復(fù)到受控狀態(tài)。 使用 XbarR控制 圖 的步 驟 D 73 UCL X LCL UCL R LCL 子組編號(hào) 日期 時(shí)間 x1 x2 X3 X4 X5 均值 Xbar 極差 R 按照延長的控制限描新的點(diǎn)。 74 使用均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖( X, S)的步驟與 XR圖相似,不同之處如下: A、 收集 數(shù)據(jù) : 計(jì) 算 每個(gè)子組 的平均 值 和 標(biāo)準(zhǔn) 差公式如下: 使用均值和標(biāo)準(zhǔn)差 控制 圖 的步 驟 n n 3 2 1 x … x x x x ? ? ? ? ? 1)( 2??? ?nxxs in=子組中樣本的容量 75 S B LCL S B UCL S CL S A X LCL S A X UCL X CL S S S X X X 3 4 3 3 ? ? ? ? ? ? ? ? 標(biāo)準(zhǔn)差控制圖: 均值控制圖: B、 建立 控制限 : 注: A3 、 B B3為常數(shù),隨每個(gè)子組內(nèi)樣本容量 n的不同而不同,查SPC手冊(cè)中附錄E:《控制圖的常數(shù)和公式表》 。 使用均值和標(biāo)準(zhǔn)差 控制 圖 的步 驟 76 使用中位數(shù)和極差圖( X, R)的步驟與 XR圖類似,不同之處如下 : A、 收集 數(shù)據(jù) ? 一般 情況 下,中位 數(shù)圖 用在 樣 本容量小 于或等于 10的 情況 , 子組樣本 容量 最好為 奇 數(shù) 。如果子 組樣 本容量 為 偶 數(shù) ,中位 數(shù) 是中 間兩個(gè)數(shù) 的均值 ; ? 畫中位數(shù)圖時(shí),將每個(gè)樣本組的單值描在圖中一條垂直線上,圈出每個(gè)樣本組的中位數(shù),將各樣本組的中位數(shù)用直線依次連接起來; ? 將每個(gè)樣本組的中位數(shù)( X) 和極差( R) 填入數(shù)據(jù)表; ? 同時(shí)畫出極差圖。 ~ ~ 使用中位數(shù)和極差 控制 圖 的步 驟 77 B、 建立 控制限 注: D D A2為常數(shù), 隨每個(gè)子組內(nèi)樣本容量 n的不同而不同,查SPC手冊(cè)中附錄E:《控制圖的常數(shù)和公式表》。 ~ R D LCL R D UCL R CL R A X LCL R A X UCL X CL R R R X X X 3 4 2 2 ~ ~ ~ ? ? ? ? ? ? ? ? 極差控制圖: 中位數(shù)控制圖: ~ ~ ~ ~ ~ 使用中位數(shù)和極差 控制 圖 的步 驟 78 在下列情況下,有必要使用單值而不是子組進(jìn)行過程控制(在這樣的情況下,子組內(nèi)的變差為 0): — 在測量費(fèi)用很大時(shí)(例如破壞性試驗(yàn)),或 — 當(dāng)在任何時(shí)刻點(diǎn)的輸出性質(zhì)比較一致時(shí)(如:化學(xué)溶液的 PH值)。 由 于 每一 子組僅 有一 個(gè)單 值, 可能過較長時(shí)間子組數(shù)才能達(dá) 到 100個(gè) 。 建立 XMR圖的步驟與 XbarR圖的不同之處如下 : 使用單值和移動(dòng)極差( X, MR)圖 的步 驟 79 A、 收集 數(shù)據(jù) ? 收集各 組數(shù)據(jù),計(jì) 算 單 值 間 的移 動(dòng)極 差 MR。 通常最好是 記錄 每 對(duì)連續(xù)讀數(shù)間 的差值 (例如第二和第一 個(gè)讀數(shù)點(diǎn) 的差,第三和第二 讀數(shù)點(diǎn) 的差等 )。移 動(dòng)極 差的 個(gè)數(shù)會(huì) 比 單 值 讀數(shù) 少一 個(gè) (100個(gè)讀數(shù) 可得 到 99個(gè) 移動(dòng)極 差 ),在很少的情況下,可在 較 大的移 動(dòng)組 (例如3或 4個(gè) )或固定的子 組 (例如所有的 讀數(shù) 均在一 個(gè) 班上讀取 )的 基礎(chǔ) 上 計(jì)算移動(dòng)極 差 ; ? 注意,盡管測量是單獨(dú)抽樣的,但是形成移動(dòng)極 差的讀數(shù)個(gè)數(shù)(例如 3或 4)決定了名義子組容量 n,查系數(shù)表時(shí)必須考慮該值。 使用單值和移動(dòng)極差( X, MR)圖 的步 驟 80 MR MR MR X X x R D LCL R D UCL R CL R E X LCL R E X UCL X CL 3 4 2 2 ? ? ? ? ? ? ? ? 移動(dòng)極差控制圖: 單值控制圖: B、 建立 控制限 注: D D E2為常數(shù), 隨每個(gè)子組內(nèi)樣本容量 n的不同而不同,查SPC手冊(cè)中附錄E:《控制圖的常數(shù)和公式表》。 使用單值和移動(dòng)極差( X, MR)圖 的步 驟 81 C、 統(tǒng)計(jì)上是否受控的解釋 ? XMR控制圖的特殊原因識(shí)別準(zhǔn)則與 XbarR圖一致,不同之處如下: ? 移 動(dòng)極 差 圖 中超出控制限的 點(diǎn) ,是存在 特殊 原因的 信號(hào) 。 但連續(xù) 的移 動(dòng)極 差 間是 有 聯(lián) 系的,因 為 它們 至少有一 點(diǎn) 是共同的 , 所以用于評(píng)估數(shù)據(jù)的非隨機(jī)模式的其他準(zhǔn)則是不可靠的過程失控指示 。 ? 使用單 值 圖 分析超出控制限的 點(diǎn)、 在控制限內(nèi) 的模式或趨勢 。 使用單值和移動(dòng)極差( X, MR)圖 的步 驟 82 88 84 90 98 94 酸度 % 25 24 23 22 21 組 97 97 94 92 99 94 89 88 90 92 酸度 % 20 19 18 17 16 15 14 13 12 11 組 90 96 96 97 95 94 92 98 98 96 酸度 % 10 9 8 7 6 5 4 3 2 1 組 ?請(qǐng)計(jì) 算出上表的 XMR控制 圖 的控制限? 請(qǐng) 判定 過 程是否 受控 ?如果是不 受控該 如何 處 理? 課堂練習(xí) 83 2 52 01 51 0501 050O b s e r v a t i o n N u m b e rMoving RangeM o v i n g R a n g e C h a r t f o r 酸 度R = 3 . 0 8 33 . 0 S L = 1 0 . 0 7 3 . 0 S L = 0 . 0 0 084 有關(guān)“控制”的最終概念 在生產(chǎn)過程中,控制的完美狀態(tài)是從來達(dá)不到的,過程 控制的目標(biāo)不是完美狀態(tài),而是使控制達(dá)到合理和經(jīng)濟(jì)的 狀態(tài),因此為了使用的目的,受控的過程并不是在圖上 永遠(yuǎn)不失控。 如果一個(gè)控制圖從來沒有顯示失控,那么我們應(yīng)該認(rèn)真 的思考一下這個(gè)過程是否應(yīng)該使用控制圖。 在車間里,一個(gè)受控的過程應(yīng)該是只有小比例的點(diǎn)失控, 并針對(duì)失控的點(diǎn)采取適當(dāng)?shù)拇胧? 本章的小結(jié) 85 統(tǒng)計(jì)過程控制(SPC) 四、過程能力和性能 雙邊公差的指數(shù)( Cp和 Cpk、 Pp和 Ppk、 CR和 PR) 單邊公差的指數(shù) ( Cpk、 Ppk) 過程能力和過程性能概念 86 過程能力和過程性能的概念 過程能力: 僅適用于統(tǒng)計(jì)穩(wěn)定的過程,是過程固有變差的 6 范圍。 過程性能: 過程總變差的 6 范圍。 2? dR??2? dR??如果過程處于統(tǒng)計(jì)受控狀態(tài),過程能力將非常接近過程性能,當(dāng)過程的能力和性能 6 之間存在較大差別時(shí)表示有特殊原因存在。 2? dR??87 過程能力和過程性能的概念 過程能力的計(jì)算: 過程性能的計(jì)算: 2? dR??及組間變差都考慮進(jìn)去內(nèi)變差製程績效所表達(dá)的是組1)(??3?3),min(12??????????nxxSxPxSPPPPniilplupuplpupk???4? cS?或 88 2 6 d R LSL USL C p ? ? ? 雙邊公差的過程測量指數(shù) Cp:能力指數(shù)。過程能力與由公差表示的最大可允許的變差進(jìn)行比較。該指數(shù)反映了過程是否能夠很好地滿足變化要求。計(jì)算公式如下: Cp不受過程位置的影響,這個(gè)指數(shù)只是針對(duì)雙邊公差而計(jì)算的。 2? dR??2???89 USL USL LSL LSL 雙邊公差的過程測量指數(shù) 6sigma 6sigma X X M 90 雙邊公差的過程測量指數(shù) Cpk:能力指數(shù)。它考慮了過程的位置和能力。對(duì)于雙邊公差, Cpk 將總是小于或者等于 Cp。 Cpk 和 Cp應(yīng)該總是一起進(jìn)行評(píng)價(jià)和分析。 如果 Cp 值遠(yuǎn)大于對(duì)應(yīng)的 Cpk 值,表明有機(jī)會(huì)改進(jìn)。 Cpk是 CPU或者 CPL的最小值,公式如下: 2 3 3 d R LSL x CPL x USL CPU ? ? ? ? ? Cp和 Cpk 僅僅當(dāng)過程處于 穩(wěn)定狀態(tài)時(shí) 才有效。 2? dR??2? dR??2? dR??91 X為過程平均值; M為公差中心值; K= x M ( USLLSL) / 2
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