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spc統(tǒng)計過程控制的應(yīng)用課程(專業(yè)版)

2025-03-20 14:58上一頁面

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【正文】 使用不合格品率 控制 圖( p圖) 的 步驟 142 某公司的最終功能試驗是每天抽取 500臺產(chǎn)品,自 5月 6日至 6月 10共有 25組數(shù)據(jù)如下,請計 算出 p控制 圖 的控制限? 畫出控制圖后 判定 過 程是否 穩(wěn) 定?如果不 穩(wěn) 定 該 如何 處 理? 案例練習(xí) 18 17 12 13 8 d 500 500 500 500 500 n 25 24 23 22 21 子組 15 20 17 16 10 16 31 11 24 16 d 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 n 20 19 18 17 16 15 14 13 12 11 子組 18 17 14 18 26 9 13 19 15 12 d 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 n 10 9 8 7 6 5 4 3 2 1 子組 143 2 52 01 51 0500 . 0 70 . 0 60 . 0 50 . 0 40 . 0 30 . 0 20 . 0 10 . 0 0S a m p l e N u m b e rProportionP C h a r t f o r p1P = 0 . 0 3 2 4 03 . 0 S L = 0 . 0 5 6 1 6 3 . 0 S L = 0 . 0 0 8 6 4 5144 21 15 13 17 10 d 1187 1352 1255 1433 392 n 25 24 23 22 21 子組 19 15 5 13 9 14 9 19 17 16 d 1244 1058 973 1365 2306 1190 1305 1721 1066 1325 n 20 19 18 17 16 15 14 13 12 11 子組 18 24 10 13 15 14 16 13 13 8 d 542 1184 1028 1202 995 1376 1401 804 1216 968 n 10 9 8 7 6 5 4 3 2 1 子組 某公司一道工序的自 1月 20日至 2月 23日每天的加工樣本和檢驗報廢數(shù)據(jù)如下,請計 算出 p控制 圖 的控制限? 畫出控制圖后 判定 過 程是否 穩(wěn) 定?如果是不 穩(wěn) 定 該 如何 處 理? 案例練習(xí) 145 2 52 01 51 0500 . 0 30 . 0 20 . 0 10 . 0 0S a m p l e N u m b e rProportionP C h a r t f o r dP = 0 . 0 1 1 9 23 . 0 S L = 0 . 0 2 1 3 7 3 . 0 S L = 0 . 0 0 2 4 7 2146 np圖 是 用來 度量一 個樣本組 中的不合格品的 數(shù) 量, 與 p圖 不同, np圖 表示不合格品 的實際數(shù) 量而不是 不合格率。 也可以進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)變換,形成固定控制限的通用控制圖。 ? 兩個點落在黃色區(qū)域(相反區(qū)) —— 停止過程并調(diào)查。在調(diào)整或其它改正完成時,重復(fù)步驟 1。 設(shè)備能力指數(shù)C mk 設(shè)備普通原因 人員 設(shè)備 材料 測量 環(huán)境 方法 109 設(shè)備能力研究:連續(xù) 50件產(chǎn)品,排除 3M1E,將設(shè)備 /模具 /檢具 /調(diào)整裝置視為一個整體; 過程能力研究:至少 25個子組,每個子組內(nèi) 46件產(chǎn)品,盡量包括 4M1E。 3σ =177。 3σ =177。 本章的小結(jié) 85 統(tǒng)計過程控制(SPC) 四、過程能力和性能 雙邊公差的指數(shù)( Cp和 Cpk、 Pp和 Ppk、 CR和 PR) 單邊公差的指數(shù) ( Cpk、 Ppk) 過程能力和過程性能概念 86 過程能力和過程性能的概念 過程能力: 僅適用于統(tǒng)計穩(wěn)定的過程,是過程固有變差的 6 范圍。 74 使用均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖( X, S)的步驟與 XR圖相似,不同之處如下: A、 收集 數(shù)據(jù) : 計 算 每個子組 的平均 值 和 標(biāo)準(zhǔn) 差公式如下: 使用均值和標(biāo)準(zhǔn)差 控制 圖 的步 驟 n n 3 2 1 x … x x x x ? ? ? ? ? 1)( 2??? ?nxxs in=子組中樣本的容量 75 S B LCL S B UCL S CL S A X LCL S A X UCL X CL S S S X X X 3 4 3 3 ? ? ? ? ? ? ? ? 標(biāo)準(zhǔn)差控制圖: 均值控制圖: B、 建立 控制限 : 注: A3 、 B B3為常數(shù),隨每個子組內(nèi)樣本容量 n的不同而不同,查SPC手冊中附錄E:《控制圖的常數(shù)和公式表》 。如果不是,則重復(fù) 識別特殊原因 /糾正 /重新計算 的過程。 43 均值的 計 算: 極 差的 計 算: 如何計 算 X bar-R控制圖每 個 子 組 的 控制統(tǒng)計量 ? n n 2 1 x … x x X ? ? ? ? min max x x R ? ? 44 將控制統(tǒng)計量畫到控制圖上 將 控制統(tǒng)計量 畫在圖上,確保所描的控制統(tǒng)計量的點 是一一對應(yīng)的; 將相鄰點用直線連接從而顯示模式和趨勢; 使用 XbarR控制 圖 的步 驟 A 進(jìn)行評估以識別出潛在的問題; 如果有的點比別的點高很多或低很多,需要確認(rèn)計算及 描圖是否正確并查詢?nèi)魏蜗嚓P(guān)的觀察記錄。 根據(jù)這一原理,將控制限的寬度設(shè)定為 ?3?。 ? 異常波動 :是由 特殊原因 造成的。它是分析是否存在造成變差的特殊原因的依據(jù)。于是,英、美等國開始著手研究用統(tǒng)計方法代替事后檢驗的質(zhì)量控制方法。 SPC常用術(shù)語解釋 ~ 9 名稱 解 釋 中心線 ( Central Line) 控制圖上的一條線,代表所給 數(shù)據(jù)平均值 。如操作方法的微小變動、機(jī)床的微小振動、刀具的正常磨損、夾具的微小松動、材質(zhì)上的微量差異等。 控制 圖 的 定義 24 上 控 制限 (UCL) 中心 線 (CL) 下控制限 (LCL) 控制 圖 的 定義 收集 收集數(shù)據(jù)并描點在圖上 控制 從過程數(shù)據(jù)計算試運行控制限 識別變差的特殊原因并采取措施 分析及改進(jìn) 量化普通原因變差,采取措施將它減小 重復(fù)這三個階段從而持續(xù)地改進(jìn)過程 25 工序處于穩(wěn)定狀態(tài)下,其分布通常符合正態(tài)分布。 控制圖格式見 SPC 手冊 5152頁。 ? 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯 (極差和均值相差太遠(yuǎn)的幾個子組更改或刪除) 如何定義“不受控”信號 59 ? 控制限內(nèi)的模式或趨勢 ——明 顯 的非 隨機(jī)模式 : ? 如果顯著少余 2/3以上的描點落在離中心線很近之處(對于 25子組,如果 40%或更少的點落在控制限中間的 1/3區(qū)域),則應(yīng)調(diào)查是否存在下列一種或兩種情況: ? 控制限或描點計算錯誤或描錯 。 這些控制限將用于過程的持續(xù)監(jiān)控,操作者和所屬 的管理者根據(jù)在 X或 R圖上所出現(xiàn)的關(guān)于位置和變差 不受控的信號而采取迅速的措施。 使用單值和移動極差( X, MR)圖 的步 驟 82 88 84 90 98 94 酸度 % 25 24 23 22 21 組 97 97 94 92 99 94 89 88 90 92 酸度 % 20 19 18 17 16 15 14 13 12 11 組 90 96 96 97 95 94 92 98 98 96 酸度 % 10 9 8 7 6 5 4 3 2 1 組 ?請計 算出上表的 XMR控制 圖 的控制限? 請 判定 過 程是否 受控 ?如果是不 受控該 如何 處 理? 課堂練習(xí) 83 2 52 01 51 0501 050O b s e r v a t i o n N u m b e rMoving RangeM o v i n g R a n g e C h a r t f o r 酸 度R = 3 . 0 8 33 . 0 S L = 1 0 . 0 7 3 . 0 S L = 0 . 0 0 084 有關(guān)“控制”的最終概念 在生產(chǎn)過程中,控制的完美狀態(tài)是從來達(dá)不到的,過程 控制的目標(biāo)不是完美狀態(tài),而是使控制達(dá)到合理和經(jīng)濟(jì)的 狀態(tài),因此為了使用的目的,受控的過程并不是在圖上 永遠(yuǎn)不失控。 2? dR??2? dR??2? dR??91 X為過程平均值; M為公差中心值; K= x M ( USLLSL) / 2 過程偏移系數(shù)K 92 10 14 18 12 16 2 13 CPK CPU CPL Cp μ 10 14 18 12 16 10 14 18 12 16 2 14 CPK CPU CPL Cp μ 2 15 CPK CPU CPL Cp μ 指 數(shù) 差 異說明 93 請 依 照 上 個課堂練習(xí) 的 數(shù)據(jù) , 計 算下列 指數(shù): ? Cp 、 Cpk、 K。 ? CR、 PR。 對于單邊公差, Ppk 等于 PPU或者 PPL,公式如下: 3 3 LSL x PPL x USL PPU ? ? ? ? 2? dR??2? dR??Ppk= Ppk= ( 只有公差上限 ) ( 只有公差下限 ) 及組間變差都考慮進(jìn)去內(nèi)變差製程績效所表達(dá)的是組1)(??3?3),min(12??????????nxxSxPxSPPPPniilplupuplpupk???106 單邊公差的過程測量指數(shù) CR:能力比值,是 Cp的倒數(shù): CR=1/Cp PR:性能比值,是 Pp的倒數(shù): PR=1/Pp 上述兩個指數(shù)對于單邊公差沒有意義。在調(diào)整或其它改正完成時,重復(fù)步驟 1。 122 預(yù)控制圖 名義值 —1/2公差 名義值 LSL USL 名義值 —1/4公差 名義值 —1/2公差 名義值 —1/4公差 名義值 —1/2公差 名義值 LSL USL 名義值 —1/4公差 名義值 —1/2公差 名義值 —1/4公差 123 預(yù)控制圖 使用預(yù)控制圖時,應(yīng)使用下列規(guī)則: ? 兩個數(shù)據(jù)點都落在綠色區(qū)域 —— 繼續(xù)運行過程。 使用不合格品率 控制 圖( p圖) 的 步驟 132 B步驟 建立控制限 B 計算過 程平均不合格品率 ; B 計 算上、下控制限 ; B 畫線并標(biāo)注。 使用不合格品率 控制 圖( p圖) 的 步驟 141 改進(jìn)過 程能力 過 程一旦表 現(xiàn) 出 處于統(tǒng)計 控制 狀態(tài) , 該過 程所保持的不合格平均水平即反 應(yīng) 了 該 系 統(tǒng) 的 變 差原因 —— 過 程能力。 np圖 的 詳細(xì)說 明 與 p圖 很相似,不同之 處 如下 : 使用不合格品數(shù) 控制 圖( np圖) 的 步驟 147 A、 收集 數(shù)據(jù) ? 樣 本 子組 的容量必 須 相等。然 后糾 正 該 原因 并盡 可能防止其再 發(fā) 生。 124 預(yù)控制圖 預(yù)控制圖的好處: ? 簡單。 ? 如果三個或更多個零件落在綠色區(qū)域并且其它的在黃色區(qū)域,繼續(xù)運行。 設(shè)備能力研究 112 C mk計算公式: mniiinxxsssnxx?1)(12????????中較小值和 CML CMU ?3? ?3???????CMKLSLCMLUSLCMUmmm??? ??中較小值和 Cml Cmu ?3??3??6?6????????CmkLSLCmlUSLCmuLSLUSLTCmmmmm??????或用連續(xù) 50件的數(shù)據(jù)任意分組后的 Rbar/d2估計的 sigma來計算。 該指數(shù)對于單邊公差沒有意義。該指數(shù)反映了過程是否能夠很好地滿足變化要求。 2? dR??87 過程能力和過程性能的概念 過程能力的計算: 過程性能的計算: 2? dR??及組間變差都考慮進(jìn)去內(nèi)變差製程績效所表達(dá)的是組1)(??3?3),min(12
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