【正文】
b 不良數(shù)控制圖( Pn Chart,又稱 np chart或 d chart) c 缺點(diǎn)數(shù)控制圖( C Chart) d 單位缺點(diǎn)數(shù)控制圖( U Chart) ( 2)依控制圖之用途分類: 1)解析用控制圖:此種控制圖先有數(shù)據(jù),后有控制界限。( μ與 δ 未知之群體) 2)控制用控制圖:先有控制界限,后有數(shù)據(jù)( U和已知之群體)其主要用途為控制制程之品質(zhì),如有點(diǎn)子超出控制界限時(shí),即立即采取措施。 a平均數(shù)與極差控制圖 ( Chart) b平均數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)差控制圖 ( Chart) c中位數(shù)與極差控制圖 ( Chart) ??X R~ RmSL控制圖之種類 ( 1)依數(shù)據(jù)性質(zhì)分類: 1)計(jì)量值控制圖:系指控制圖之?dāng)?shù)據(jù)屬于由量具實(shí)際量測而得;如長度、重量、濃度等特性均為連續(xù)性者。常用的有: 批號(hào) 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 合計(jì) 平均樣本 100 100 100 100 100 100 100 100 100 100 1000 100不良品數(shù) 2 3 1 6 1 3 3 2 0 7 32不良率 0 ?P控制圖制作 : ( 1) 收集數(shù)據(jù) , 至少 20 組以上 。( 2) 計(jì)算每組之不良率P 。( 3) 計(jì)算平均不良率P = 總不良個(gè)數(shù) / 總檢查數(shù) 。( 4) 計(jì)算管制界限( 5) 繪管制界限,并并將點(diǎn)點(diǎn)入圖中 。( 6) 記入數(shù)據(jù)履歷及特殊原因,以備查考、分析、判斷 。Sept 2023 IBM BCS Value Proposition 30 QC七大手法 —控制圖( 2) A B C C B A UC L X L C L A B C C B A UC L X L C L A B C C B A UC L X L C L A B C C B A UC L X L C L A B C C B A UC L X L C L A B C C B A UC L X L C L A B C C B A UC L X L C L A B C C B A UC L X L C L 檢定規(guī)劃 1 : ( 2 /3 A) 3 點(diǎn)中有 2 點(diǎn)在 A 區(qū)或 A 區(qū)以外 檢定規(guī)劃 2 : ( 4 /5 B ) 5 點(diǎn)中有 4 點(diǎn)在 B 區(qū)或 B 區(qū)以外 檢定規(guī)劃 3 : ( 6 連串 ) 連續(xù) 6 點(diǎn)持續(xù)地上升或下降 檢定規(guī)劃 4 : ( 8 缺 C) 有 8 點(diǎn)在中心線的兩側(cè) , 但 C 區(qū)并無點(diǎn)子 檢定規(guī)劃 5 : ( 9 單側(cè) ) 連續(xù) 9 點(diǎn)在 C 區(qū)或 C 區(qū)以 外 檢定規(guī)劃 6 : ( 1 4 升降 ) 連續(xù) 14 點(diǎn)交互著一升一降 檢定規(guī)劃 7 : ( 1 5 C) 連續(xù) 15 點(diǎn)在中心線上下兩側(cè)的 C 區(qū) 檢定規(guī)劃 8 : ( 1 界外 ) 有 1 點(diǎn)在 A 區(qū)以外 χ χ χ χ χ χ χ χ χ χ 3 ) 異常的一般檢定原則 : A B C C B A UC L X L C L A B C C B A UC L X L C L A B C C B A UC L X L C L A B C C B A UC L X L C L 檢定規(guī)劃 1 : ( 2 /3 A) 3 點(diǎn)中有 2 點(diǎn)在 A 區(qū)或 A 區(qū)以外 檢定規(guī)劃 2 : ( 4 /5 B ) 5 點(diǎn)中有 4 點(diǎn)在 B 區(qū)或 B 區(qū)以外 檢定規(guī)劃 3 : ( 6 連串 ) 連續(xù) 6 點(diǎn)持續(xù)地上升或下降 檢定規(guī)劃 4 : ( 8 缺 C) 有 8 點(diǎn)在中心線的兩側(cè) , 但 C 區(qū)并無點(diǎn)子 χ χ χ χ χ χ χ A B C C B A UC L X L C L A B C C B A UC L X L C L A B C C B A UC L X L C L A B C C B A UC L X L C L A B C C B A UC L X L C L A B C C B A UC L X L C L A B C C B A UC L X L C L A B C C B A UC L X L C L 檢定規(guī)劃 1 : ( 2 /3 A) 3 點(diǎn)中有 2 點(diǎn)在 A 區(qū)或 A 區(qū)以外 檢定規(guī)劃 2 : ( 4 /5 B ) 5 點(diǎn)中有 4 點(diǎn)在 B 區(qū)或 B 區(qū)以外 檢定規(guī)劃 3 : ( 6 連串 ) 連續(xù) 6 點(diǎn)持續(xù)地上升或下降 檢定規(guī)劃 4 : ( 8 缺 C) 有 8 點(diǎn)在中心線的兩側(cè) , 但 C 區(qū)并無點(diǎn)子 檢定規(guī)劃 5 : ( 9 單側(cè) ) 連續(xù) 9 點(diǎn)在 C 區(qū)或 C 區(qū)以 外 檢定規(guī)劃 6 : ( 1 4 升降 ) 連續(xù) 14 點(diǎn)交互著一升一降 檢定規(guī)劃 7 : ( 1 5 C) 連續(xù) 15 點(diǎn)在中心線上下兩側(cè)的 C 區(qū) 檢定規(guī)劃 8 : ( 1 界外 ) 有 1 點(diǎn)在 A 區(qū)以外 χ χ χ χ χ χ χ χ χ χ 控制圖判穩(wěn)準(zhǔn)則 : 控制圖判異準(zhǔn)則 : 1 )連續(xù) 25 點(diǎn)以上出現(xiàn)在控制界限線內(nèi)時(shí) ( 機(jī)率為 6% ) 。2 )連續(xù) 35 點(diǎn)中 , 出現(xiàn)在控制界限外點(diǎn)子不超出 1 點(diǎn)時(shí)。3 )連續(xù) 100 點(diǎn)中 , 出現(xiàn)在控制界限外點(diǎn)子不超出 2 點(diǎn)時(shí)。?X-R管制圖繪制 (1) 搜集 100個(gè)以上數(shù)據(jù), 把 26個(gè) (一般采 45個(gè) )數(shù)據(jù)分為一組 。 依測定時(shí)間 順序或群體順序排列 。 (2) 把數(shù)據(jù)記入數(shù)據(jù)表 。 (3) 計(jì)算各組平均值 。 (4) 計(jì)算各組的全距R 。 (5)計(jì)算 X總平均 。 (6)計(jì)算全距 R平均 。 (7)計(jì)算管制界限 (見右)。 (8) 繪管制界限,并將點(diǎn)點(diǎn)入圖中 。 (9)記入數(shù)據(jù)履歷及特殊原因,以備查考、分析、判斷 。 X管制圖:中心線CL=X 上限UCL=X+A 2R 下限LCL=X-A 2R R管制圖:中心線CL=R 上限UCL=D 4R 下限LCL=D 3R (A 2 D 4 D 3 可查表) 謝謝觀看 /歡迎下載 BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH