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正文內(nèi)容

放射性同位素產(chǎn)品的研制及質(zhì)量控制-資料下載頁

2025-01-09 16:40本頁面
  

【正文】 者是對成品源的檢驗,檢驗項目可以是全部技術(shù)指標(biāo),但更多 ? 的情況是只檢驗部分重要技術(shù)指標(biāo)。 ? 源的每項質(zhì)量指標(biāo)均有多種檢驗方法,最常用的方法和儀器如下述。所有計 量器具的量值傳遞必須一致準(zhǔn)確,且可溯源到國家基準(zhǔn);詳細(xì)操作方法可參照 GB/T 4075和GB/T 9229?1988《放射性物質(zhì)包裝的內(nèi)容物和輻射的泄漏檢驗》。 ? 活度、等效活度及照射量的測量 ? 源活度的最佳測量方法是量熱計法。量熱計法測定的源可以作為標(biāo)準(zhǔn)源,別 的源的活度可以與之比較得出。照射量的測量方法是,利用照射量計測量標(biāo)準(zhǔn)源 與待測源的照射量率后按比值計算出待測源的活度。條件是核素和測量條件必須 完全相同,源的結(jié)構(gòu)等也要一致。有時源芯大小和源結(jié)構(gòu)略有差異(核素必須一 致),而測量條件相同時,可測得等效活度。照射量率可以用標(biāo)定過的照射量計直 接測出。 ? 表面粒子數(shù)的測定 ? 可用閃爍計數(shù)器、蓋革計數(shù)器或正比計數(shù)器等核儀器,直接測出表面粒子數(shù)。 ? 能譜和核純度的測定 ? 用高純鍺或硅(鋰)探測器可以測出 γ 和 X射線的能譜圖。如果有放射性雜 質(zhì)也可由譜圖上檢測到,并從其譜峰面積估算雜質(zhì)的含量, α 源需要采用金硅面壘 探頭探測。 ? 中子發(fā)射率的測量 ? 中子發(fā)射率可以用錳浴法測定。此法復(fù)雜費時,通常作為標(biāo)準(zhǔn)中子源的測量 方法。一般中子源則在相同測量條件下,用 BF3計數(shù)管與標(biāo)準(zhǔn)中子源比較而得 出。待測源與標(biāo)準(zhǔn)源的放射性核素和靶物應(yīng)當(dāng)相同,至少極其相似,否則會帶來較 大誤差。中子能譜測量較困難,常用的有飛行時間法、反沖質(zhì)子法和 6U玻璃 ? 法等。 ? 安全性能檢驗 ? 密封源的安全性能首先是按照 GB 4075對原型源進行五項檢驗。 ? 不論是原型源還是成品源,最終均以源是否有放射性物質(zhì)泄漏來判定。檢驗 方法大致分為放射性方法和非放射性方法。 ? 放射性方法 ? 當(dāng)源內(nèi)有空隙( cm3)時,利用加熱、外部減壓等方法使源內(nèi)氣體逸出,同 時攜帶出放射性??蓪⒃搭A(yù)先放置于液體 (如閃爍液)中,測量液體活度;如果源內(nèi) 無空隙,則將源放人液體 ? 中,加熱或浸泡規(guī)定時間后,測量液體的放射性。也可長 時間置于大氣下,用擦拭法測量擦拭下的放射性。 ? 各種方法一般均以逸出放射性小于 200 Bq為判定合格的標(biāo)準(zhǔn)。 ? (2)非放射性方法 ? 當(dāng)源內(nèi)空隙大于 cm3時,利用加熱或減壓等方法,然后觀察逸出氣體的數(shù) 量。為了精確定量,可采用充氦法,然后用氦質(zhì)譜檢測儀檢查氦漏率。 ? 氣體泄漏量與放射性核素泄漏量之間的換算很復(fù)雜。國際上以不可浸出的放 射性物質(zhì)泄漏量不超過 1 uPa*ms一 1為合格,對可浸出的則以不超過 uPa*im3s — 1 為合格。 ? 為了簡化操作,有時只觀察源在減壓或增溫后在液體中有無連續(xù)氣泡產(chǎn)生。 此方法往往受觀察條件影響,難以達(dá)到要求的精確度,因此,必須證明在實際使用 條件下能符合要求(例如用氦質(zhì)譜法核對)。 ? 五、放射性標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的質(zhì)量控制 ? 放射性標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)質(zhì)量控制的目的是保證其量值的準(zhǔn)確和統(tǒng)一。為此,必須對 影響放射性標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)質(zhì)量的主要因素實施控制。這里著重敘述常用放射性標(biāo)準(zhǔn)溶 液和固體標(biāo)準(zhǔn)源的質(zhì)量控制。 ? (一 )放射性標(biāo)準(zhǔn)溶液的質(zhì)量控制 ? 影響放射性標(biāo)準(zhǔn)溶液質(zhì)量的主要因素是放射性濃度及其不確定度、核純度、化 學(xué)組成、溶液均勻性和穩(wěn)定性等。應(yīng)當(dāng)嚴(yán)格控制這些因素,使它們引起的不確定度 分量控制在總不確定度要求的范圍內(nèi)。下面介紹應(yīng)控制的主要技術(shù)指標(biāo)及其檢驗 ? 方法。 ? 放射性標(biāo)準(zhǔn)溶液大體分為兩級。一級標(biāo)準(zhǔn)溶液是精確度最高且應(yīng)用最廣的一 種,其放射性濃度不確定度一般 4%。二級標(biāo)準(zhǔn)溶液(如醫(yī)用標(biāo)準(zhǔn)溶液等),其測量 不確定度為 4%? 8%。 ? 放射性濃度 ? 放射性標(biāo)準(zhǔn)溶液必須給出放射性濃度及其不確定度。放射性濃度的測量方法 視核素的不同衰變類型而異(見第十章)。 ? 表 射性濃度值的不確定度。 ? 放射性核純度 ? 在有效使用期內(nèi),放射性核純度應(yīng)滿足放射性濃度量值總不確定度的要求。 對于一級標(biāo)準(zhǔn)溶液,放射性核素雜質(zhì)含量通常應(yīng)小于主放射性核素的 %,二級 ? 標(biāo)準(zhǔn)溶液一般不大于 %。核純度檢驗方法見第十章。 ? ? 化學(xué)組成包括核素的化學(xué)形式、介質(zhì)酸度和載體濃度等。適宜的化學(xué)組成是 保持標(biāo)準(zhǔn)溶液化學(xué)物理性質(zhì)穩(wěn)定的必要條件,能夠使放射性核素處于均勻、無吸附 和穩(wěn)定的真溶液狀態(tài)。溶液的適宜化學(xué)組成見表 10. 2。 ? 均勻性 ? 均勻的放射性核素溶液應(yīng)透明、無沉淀、無膠體、無霉變和無懸浮顆粒。其檢 驗方法包括 :簡單目視;基于丁塔爾效應(yīng)的觀察;微生物培養(yǎng)和對同一放射性溶液 在不 同部位多次 165。行取樣測量。對于均勻性好的放射性核素溶液,其放射性濃度 應(yīng)在測量不確定度范圍內(nèi)保持一致。 ? 吸附損失 ? 放射性核素不應(yīng)吸附在瓶壁或吸附量可以忽略。吸附損失量可以通過文獻(xiàn) [10]中給出的方法進行測定。 ? 穩(wěn)定性 ? 在有效使用期內(nèi),不同時間的放射性濃度(經(jīng)衰變校正后)應(yīng)在不確定度范圍 內(nèi)保持不變。檢驗標(biāo)準(zhǔn)溶液穩(wěn)定性的方法是,定期測量其放射性濃度,并通過測量 值與給定值之間的差異來判斷是否穩(wěn)定。 ? 此外,含有標(biāo)準(zhǔn)溶液的安瓿經(jīng)火焰熔封后,不應(yīng)有任何泄漏。檢驗其是否泄漏 的方法見國家有關(guān)標(biāo)準(zhǔn),也可在常壓條件下將之放置一段時間,如果前后兩次測量 結(jié)果在測量不確定度范圍內(nèi)一致,則認(rèn)為密封良好。 ? 此外,標(biāo)準(zhǔn)溶液容器外表面不應(yīng)有放射性沾污。通常用擦拭法檢驗,放射性應(yīng) 低于 200 Bq。 ? (二 )固體標(biāo)準(zhǔn)源的質(zhì)量控制 ? 一般將固體標(biāo)準(zhǔn)源分為一級和二級。一級標(biāo)準(zhǔn)源必須給出源的放射性活度, 總不確定度為 1 %? 4 % 。 二級標(biāo)準(zhǔn)源一般只給出表面粒子發(fā)射率,僅當(dāng)需要時注 明其放射性活度,總不確定度通常為 4%? 6%。 ? ? 對于一級固體標(biāo)準(zhǔn)源,放射性活度或表面粒子發(fā)射率由國家基準(zhǔn)裝置或經(jīng)國 家標(biāo)準(zhǔn)機構(gòu)認(rèn)可的直接測量裝置進行測量,并按照第十章中的方法給出測量結(jié)果 及其總不確定度。二級標(biāo)準(zhǔn)源則以一級標(biāo)準(zhǔn)源作為標(biāo)準(zhǔn),采用間接方法測量其放 射性活度或表面粒子發(fā)射率??偛淮_定度由一級標(biāo)準(zhǔn)源不確定度與來源于間接測 量不確定度分量合成給出。 ? 源結(jié)構(gòu) ? 一級固體標(biāo)準(zhǔn)源為有機薄膜夾心源,并以適當(dāng)?shù)闹С汁h(huán)固定,支持環(huán)結(jié)構(gòu)和尺 寸應(yīng)符合 DJC規(guī)定要求。放射性物質(zhì)處于支持環(huán)中心,活性區(qū)線性最大直徑為 mm和 8 mm,偏離源幾何中 ? 心點最大線度徑向不大于 2 mm,軸向不大于 。在保證牢固安全的前提下,有機薄膜面密度應(yīng)盡量小,如一級 《 ,卩薄膜 源以鍍金 VYNS薄膜 (VYNS面密度為 10 ,g/cm2,金層面密度為 10? 15啤 /cm2)作 為源托,而 X,)標(biāo)準(zhǔn)源的源托是面密度分別為 2mg/cm2和 14mg/cm2的聚酯膜。 二級標(biāo)準(zhǔn)源一般以金屬基片作為源托,活性區(qū)線性直徑為 8?20 mm,其上覆蓋一 層有機膜作為保護層。 ? 核純度以及放射性物質(zhì)的化學(xué)形式 ? 詳見第十章。應(yīng)當(dāng)指出,對任何固體標(biāo)準(zhǔn)源,放射性物質(zhì)應(yīng)限于活性區(qū)內(nèi),在 保護層或源殼之外不應(yīng)有放射性沾污。 ? (三 )放射性標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)證書 ? 嚴(yán)格說來,對于提供的任何放射性標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì),都必須給出完整的證明文件,即 由放射性標(biāo)準(zhǔn)實驗室簽署的證書,用以說明放射性標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的制備、測量及其特性 等,其具體內(nèi)容如下。 ? 放射性核素 ? 如果存在母子體關(guān)系,要說明主放射性核素是母體還是子體,或母子 165。衡體。 ? 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)描述 ? 液體標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)要給出它的質(zhì)量、化學(xué)組成以及介質(zhì)酸度等。固體放射性標(biāo)準(zhǔn)源則應(yīng)說明其結(jié)構(gòu)、尺寸及放射性物質(zhì)的化學(xué)組成。氣體標(biāo)準(zhǔn)源也要注明它的組 分,并給出一定溫度下的氣體體積和壓力。 ? 放射性核素雜質(zhì) ? 它是放射性標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)在使用過程中準(zhǔn)確度下降的一個重要因素。應(yīng)說明在參考時間內(nèi)各種巳知或懷疑存在的放射性核素雜質(zhì)的含量。 ? 測量方法 ? 包括測量放射性活度和表面粒子發(fā)射率所用的測量方法和技術(shù),并說明是采用直接測量方法還是間接測量方法。 ? 參考時間 ? 按 ISO規(guī)定格式給出測量參考時間和日期。 ? 測量結(jié)果及不確定度 ? 應(yīng)給出放射性活度或表面粒子發(fā)射率及其不確定度等。 ? 核參數(shù) ? 給出與測量結(jié)果密切相關(guān)的核參數(shù),如半衰期、射線種類、能量、發(fā)射強度、內(nèi) 轉(zhuǎn)換系數(shù)和熒光產(chǎn)額等。 ? 有效使用期及安全性檢驗 ? 給出放射性標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的有效使用期限。如果是密封標(biāo)準(zhǔn)源,應(yīng)給出表面沾污 檢驗和泄漏檢驗的方法與結(jié)果。 謝謝觀看 /歡迎下載 BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. 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