掃描電子顯微鏡與電子探針分析資料-資料下載頁
2025-01-02 05:38本頁面
【正文】 顆粒 c)側(cè)面 d)側(cè)面1）凸出的尖棱，小粒子以及比較陡的斜面處 SE產(chǎn)額較多，在熒光屏上這部分的亮度較大。2）平面上的 SE產(chǎn)額較小，亮度較低。3）在深的凹槽底部盡管能產(chǎn)生較多二次電子，使其不易被控制到，因此相應襯度也較暗。 44（ 2）表面形貌襯度像的應用A 斷口分析 材料斷口的微觀形貌往往與其化學成分、顯微組織、制造工藝及服役條件存在密切聯(lián)系，所以斷口形貌的確定對分析斷裂原因常常具有決定性作用。沿晶斷口 韌窩斷口 45解理斷口 復合材料斷口461018號鋼在不同溫度下的斷口形貌47B 三維形貌的觀察和分析 在多相結(jié)構(gòu)材料中，特別是在某些共晶材料和復合材料的顯微組織和分析方面，由于可以借助于掃描電鏡景深大的特點，所以完全可以采用深浸蝕的方法，把基體相溶去一定的深度，使得欲觀察和研究的相顯露出來，這樣就可以在掃描電鏡下觀察到該相的三維立體的形態(tài)，這是光學顯微鏡和透射電鏡無法做到的。48C 斷裂過程的動態(tài)研究 有的型號的掃描電鏡帶有較大拉力的拉伸臺裝置，這就為研究斷裂過程的動態(tài)過程提供了很大的方便。在試樣拉伸的同時既可以直接觀察裂紋的萌生及擴展與材料顯微組織之間的關(guān)系，又可以連續(xù)記錄下來，為科學研究提供最直接的證據(jù)。49雙相鋼 50復合材料 51ZnO納 米 線 的二次 電 子 圖 像 多孔氧化鋁模板制備的金納米線的形貌（ a）低倍像（ b）高倍像納米材料形貌分析52原子序數(shù)襯度及其應用? 原子序數(shù)襯度 是對樣品微區(qū)原子序數(shù)或化學成分變化敏感的物理信號作為調(diào)制信號得到的一種顯示微區(qū)化學成分差別的像襯度。 ? 背散射電子產(chǎn)額隨樣品中元素原子序數(shù)的增大而增加，因而樣品上原子序數(shù)較高的區(qū)域產(chǎn)生較強的信號，在背散射電子像上顯示較高的襯度，這樣就可以根據(jù)背散射電子像亮暗襯度來判斷相應區(qū)域原子序數(shù)的相對高低，對金屬及其合金進行顯微組織分析。 53謝謝觀看 /歡迎下載BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH
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