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正文內(nèi)容

關(guān)于電子探針x射線顯微分析-資料下載頁

2025-01-01 02:34本頁面
  

【正文】 波長(或能量) X射線探測的效率不同。 應(yīng)用n 一種無損的微區(qū)分析,特別是成分及其分布。n 對微區(qū)、微粒、微量的成分分析具有分析元素范圍廣、靈敏度高、可定量等優(yōu)點,在各領(lǐng)域廣泛應(yīng)用。(冶金、材料、生物、醫(yī)學(xué)、考古等)應(yīng)用舉例n 組分不均勻合金試樣的微區(qū)成分分析n 擴散對試樣中成分梯度的測定n 相圖低溫等溫截面的測定n 金屬/半導(dǎo)體界面反應(yīng)產(chǎn)物其它電子顯微鏡掃描隧道顯微鏡 (STM)n 主要用于表面原子成象(導(dǎo)體)n STM的橫向分辨率高達 1197。,縱向分辨率10197。它對原子的檢測深度 1- 2個原子層,對樣品無破壞。n 發(fā)明者 1986年的諾貝爾獎。Atomic Resolution on Si(111)原子力顯微鏡 (AFM)n Dr G. Binning developed AFM in 1986n 可測量表面原子間的力(可測量最小位移102104 197。,最小的力 10141015N)、表面彈性、塑性、硬度、粘著力、摩擦力等性質(zhì)。(可用于非導(dǎo)體)n 橫向分辨率 ,縱向分辨率為 。a. Writing on Ferroelectric Materialsb. Atomic resolution on carbon nanotubesc. Magic domain walls on a BaFe12O19 single crystal 電子顯微鏡分析在材料研究中的應(yīng)用n 形態(tài)分析n 元素的存在狀態(tài)分析n 玻璃的非晶態(tài)結(jié)構(gòu)分析n 材料斷面的研究n 晶界(微觀研究)n 微區(qū)結(jié)構(gòu)分析n 高分子材料的研究謝謝觀看 /歡迎下載BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAIT
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