環(huán)境試驗簡介611-資料下載頁
2024-12-29 09:05本頁面
【正文】 edures Part 2:Tests Low air pressure 淋雨試驗 ? 淋雨試驗：確定樣品外殼的防雨滲透的功能，考察樣品在遭受雨淋時和淋雨后的功能。 ? 積冰 /凍雨試驗：樣品在露天環(huán)境下受到降雨 、 霧 、海浪飛沫或其它原因而引起冰的積聚對其工作性能的影響 。 淋雨試驗標(biāo)準(zhǔn) ? 設(shè)備環(huán)境試驗方法 淋雨試驗 ? 設(shè)備環(huán)境試驗方法 積冰 /凍雨試驗 ? 試驗方法和導(dǎo)則 其它氣候試驗及標(biāo)準(zhǔn) ? ? （電子產(chǎn)品）環(huán)境試驗 人工模擬試驗 —— 生物、化學(xué)環(huán)境試驗 生物、化學(xué)環(huán)境試驗 模擬產(chǎn)品在存儲、運輸和使用中可能遭受的化學(xué)和霉菌環(huán)境。 霉菌試驗 霉菌試驗是考察樣品可能長霉的程度，以及長霉對樣品性能或其它使用的可能影響。 黑霉菌 鏈霉菌 霉菌試驗 霉菌試驗的主要目的： 考察樣品材料是否會長霉，如果長霉，則需要確定長霉的種類； 考察樣品上長霉的速度； 霉菌生長以后是否會對影響樣品的安全使用； 樣品是否能在該環(huán)境下有效存儲； 是否有簡單的恢復(fù)處理方法，如擦掉滋生的霉菌。 霉菌試驗的物理影響 ?可能出現(xiàn)的物理影響： 電氣系統(tǒng)或電子系統(tǒng)： 直接或間接侵蝕均可導(dǎo)致電氣或電子系統(tǒng)的損壞。霉菌生長能越過絕緣材料形成不希望的電氣通路。 光學(xué)系統(tǒng)： 光學(xué)系統(tǒng)的損壞主要是由間接侵蝕引起。長霉能影響光線通過光學(xué)系統(tǒng)的傳輸，阻塞精密活動件，并將不潮濕的表面變?yōu)槌睗癖砻娑鴮?dǎo)致性能下降。 長霉材料物理機械性能的退化 霉菌試驗標(biāo)準(zhǔn) GB 驗 J： 長霉試驗方法。 IEC 68210《 基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗 J： 長霉》 鹽霧試驗 ?鹽霧試驗的主要目的： 評估系統(tǒng)及電子零部件產(chǎn)品的金屬材料、金屬鍍層、烤漆、或涂料的耐鹽霧腐蝕的能力。 試驗儀器： 鹽霧試驗箱 鹽霧試驗 鹽霧試驗種類： ● 中性 鹽霧試驗 (NSS) NaCl 溶液 質(zhì)量百分比濃度 （ 5177。 1）％ PH ～ ， （ 25177。 2） ℃ 下 測量 箱內(nèi)溫度為（ 35 177。 2） ℃ ， 濕度大于 95％ RH 鹽霧沉積量根據(jù)連續(xù)噴霧 8小時的平均值，鹽霧沉積量應(yīng) 為 1～ 2毫升 /80厘米 2 . 小時 鹽霧試驗 鹽霧試驗種類： ● 乙酸鹽霧試驗 (AASS) NaCl 溶液 質(zhì)量百分比濃度 （ 5177。 1）％ PH ～ ， （ 25177。 2） ℃ 下 測量 箱內(nèi)溫度為（ 35177。 2） ℃ ， 濕度大于 95％ RH 鹽霧沉積量根據(jù)連續(xù)噴霧 8小時的平均值，鹽霧沉積量應(yīng) 為 1～ 2毫升 /80厘米 2 . 小時 鹽霧試驗 鹽霧試驗種類： ● 銅加速乙酸鹽霧試驗 (AASS) NaCl 溶液 質(zhì)量百分比濃度 （ 5177。 1）％ PH ～ ， （ 25177。 2） ℃ 下 測量 CuCl2 . 2H2O， 濃度為 (177。 ） g/L 或 CuCl2， 濃度為 (177。 ） g/L 箱內(nèi)溫度為（ 35177。 2） ℃ ， 濕度大于 95％ RH 鹽霧沉積量根據(jù)連續(xù)噴霧 8小時的平均值，鹽霧沉積量應(yīng) 為 1～ 2毫升 /80厘米 2 . 小時 謝 謝！ 謝謝觀看 /歡迎下載 BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH
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