塑封器件失效機(jī)理及其快速評(píng)估技術(shù)研究-資料下載頁(yè)
2025-08-22 16:56本頁(yè)面
【正文】 否通過(guò)高溫潮熱試驗(yàn)的判斷。②溫度沖擊。Hughes公司指出，溫度沖擊和隨機(jī)振動(dòng)是考核元器件非工作狀態(tài)可靠性的最有效的高加速應(yīng)力方法 [5]。統(tǒng)計(jì)分析表明，溫度沖擊能夠暴露元器件2/3的貯存潛在缺陷。而對(duì)于封裝對(duì)芯片存在溫變應(yīng)力敏感以及封裝工藝存在缺陷的塑封器件，可以通過(guò)選擇合適的溫變參數(shù)（參照產(chǎn)品的使用等級(jí)）進(jìn)行評(píng)價(jià)。參考MIL883E以及結(jié)合經(jīng)驗(yàn)參數(shù)，可以采用負(fù)溫30min，正溫30min，大于100個(gè)循環(huán)的試驗(yàn)方案。溫度沖擊試驗(yàn)后，除了進(jìn)行聲學(xué)掃描檢查界面分層情況外，還要進(jìn)行X射線檢查外引腳與芯片鍵合區(qū)的鋁線完整情況；最后要將器件開(kāi)封，觀察芯片表面是否有裂紋、鈍化層表面是否有較多的劃傷，做出此批器件是否通過(guò)溫度沖擊試驗(yàn)的判斷。在做出此批器件是否通過(guò)評(píng)價(jià)試驗(yàn)的判斷時(shí)，若選取已知良好的器件對(duì)比進(jìn)行評(píng)價(jià)，將會(huì)為被評(píng)價(jià)的塑封器件可靠性判斷提供非常有價(jià)值的參考信息。 可用于軍工高可靠用途的篩選美國(guó)航空航天局的Goddard空間飛行中心的報(bào)告指出，篩選能有效避免PEM由于缺陷而引起的早期失效，并給出了評(píng)價(jià)流程及參數(shù)，本文只列出流程圖（圖1）[6]，其余請(qǐng)參照文獻(xiàn)。4 結(jié)語(yǔ)影響塑封器件可靠性的各種失效機(jī)理所對(duì)應(yīng)的失效表征可以采用加速試驗(yàn)，使其在短期內(nèi)的退化等效于長(zhǎng)期累積的結(jié)果。元器件貯存可靠性的篩選和評(píng)價(jià)，要求以最充分暴露和檢測(cè)其各種缺陷和潛在缺陷為目的。高加速應(yīng)力試驗(yàn)正是缺陷評(píng)價(jià)、安全工作裕度評(píng)價(jià)和健壯設(shè)計(jì)評(píng)價(jià)的重要方法 [7]，在參考EIA和MIL標(biāo)準(zhǔn)的基礎(chǔ)上，根據(jù)不同塑封器件的產(chǎn)品手冊(cè)適當(dāng)加速應(yīng)力系數(shù)范圍，采用對(duì)比試驗(yàn)可以很好地對(duì)缺陷品進(jìn)行篩選。塑封器件的可靠性評(píng)價(jià)方法研究是一項(xiàng)長(zhǎng)期的工作，本文所論述的可靠性評(píng)價(jià)方法適用于PEM缺陷的前期篩選，但對(duì)于 PEM的長(zhǎng)期工作狀態(tài)可靠性，要通過(guò)大量的鑒定試驗(yàn)才能做出判斷。
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