塑封器件失效機理及其快速評估技術(shù)研究-資料下載頁
2025-08-22 16:56本頁面
【正文】 否通過高溫潮熱試驗的判斷。②溫度沖擊。Hughes公司指出，溫度沖擊和隨機振動是考核元器件非工作狀態(tài)可靠性的最有效的高加速應(yīng)力方法 [5]。統(tǒng)計分析表明，溫度沖擊能夠暴露元器件2/3的貯存潛在缺陷。而對于封裝對芯片存在溫變應(yīng)力敏感以及封裝工藝存在缺陷的塑封器件，可以通過選擇合適的溫變參數(shù)（參照產(chǎn)品的使用等級）進行評價。參考MIL883E以及結(jié)合經(jīng)驗參數(shù)，可以采用負溫30min，正溫30min，大于100個循環(huán)的試驗方案。溫度沖擊試驗后，除了進行聲學(xué)掃描檢查界面分層情況外，還要進行X射線檢查外引腳與芯片鍵合區(qū)的鋁線完整情況；最后要將器件開封，觀察芯片表面是否有裂紋、鈍化層表面是否有較多的劃傷，做出此批器件是否通過溫度沖擊試驗的判斷。在做出此批器件是否通過評價試驗的判斷時，若選取已知良好的器件對比進行評價，將會為被評價的塑封器件可靠性判斷提供非常有價值的參考信息。 可用于軍工高可靠用途的篩選美國航空航天局的Goddard空間飛行中心的報告指出，篩選能有效避免PEM由于缺陷而引起的早期失效，并給出了評價流程及參數(shù)，本文只列出流程圖（圖1）[6]，其余請參照文獻。4 結(jié)語影響塑封器件可靠性的各種失效機理所對應(yīng)的失效表征可以采用加速試驗，使其在短期內(nèi)的退化等效于長期累積的結(jié)果。元器件貯存可靠性的篩選和評價，要求以最充分暴露和檢測其各種缺陷和潛在缺陷為目的。高加速應(yīng)力試驗正是缺陷評價、安全工作裕度評價和健壯設(shè)計評價的重要方法 [7]，在參考EIA和MIL標(biāo)準(zhǔn)的基礎(chǔ)上，根據(jù)不同塑封器件的產(chǎn)品手冊適當(dāng)加速應(yīng)力系數(shù)范圍，采用對比試驗可以很好地對缺陷品進行篩選。塑封器件的可靠性評價方法研究是一項長期的工作，本文所論述的可靠性評價方法適用于PEM缺陷的前期篩選，但對于 PEM的長期工作狀態(tài)可靠性，要通過大量的鑒定試驗才能做出判斷。
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