【正文】 ，會將整個最高波的波形記錄并顯示在屏幕上。按功能鍵可以在光標與峰波之間切換，當切換到峰波指示最高波后，則自動增降增益功能不再起效。在測試時按增益鍵可以將門內回波自動增減到預設值，配合峰波指示使用較佳。例1：用厚度為100mm的大平底測直探頭零點及聲速，按1輸入“預置工件聲速”為“5900”、按2輸入試塊“一次回波聲程”為“100mm”(或其倍數(shù)，如果所用試塊厚度過小，應考慮用多次波，這里我們輸入100mm)，儀器自動設置“二次回波聲程”為“200mm”，確認后開始測試，儀器在波形區(qū)右上角提示：反射體最高回波在門內，191。確認如右圖511所示，只需在試塊上移動探頭使反射體最高回波出現(xiàn)在進波門內且波幅穩(wěn)定（波高約為80%）時按確認鍵，儀器會自動改變聲程、增益、門位使該次回波的雙倍次波出現(xiàn)在進波門內，在波形區(qū)提示中的聲程值會自動改為200mm，此時應穩(wěn)住探頭，使倍次波穩(wěn)定后按確認鍵,如圖512所示，儀器將會算出零點及聲速，并自動存儲。圖511測試完成界面測試過程中圖512測試直探頭零點聲速例2：用CSKIA試塊測斜探頭零點聲速，輸入“預置工件聲速”為：“3230”，輸入試塊“一次聲程”為50mm，確認后開始測試，儀器在波形區(qū)右上方出現(xiàn)提示（參見例1）；如右圖513，將探頭放在CSKIA試塊并移動，使R50和R100圓弧的兩個圓弧面的最高反射體回波同時出現(xiàn)，且圖513R50的回波處于進波門內時（波高約為80%）用直尺量出探頭至R50圓弧的水平距離并按確認鍵，穩(wěn)住探頭后等R100回波也處于進波門內且穩(wěn)定時按確認鍵，儀器會算出聲速及零點，并自動存儲，在屏幕上顯示出的“探頭至一次反射體水平距離”處輸入先前測量的探頭至R50圓弧的水平距離并確定，按“y”存儲, 測試過程如圖514所示。按191。鍵按191。鍵輸入距離后，按191。鍵測試斜探頭零點聲速圖514測試完成界面完成 如果用IIW試塊（又稱荷蘭試塊，無R50圓?。y斜探頭聲速，則試塊“一次聲程”輸入100mm，其它操作與CSKIA類似。詳細舉例參見71。注：測零點聲速時不可調延時，不可更換通道，也不可嵌套其它測試；確認回波時應注意在屏幕左上角有“測零點聲速”提示時才可按確認鍵；確認進波門內回波時，需波高為80%左右，否則有可能造成測試誤差，當所需回波處于進波門內但波高不是80%時，稍等片刻，儀器會自動調節(jié)增益，使回波高度約為80%；如果回波不在進波門，可移動“A門位”使回波處于進波門內。在示例中所輸入數(shù)值僅為舉例，應根據(jù)使用試塊的實際情況進行輸入。51測折射角度 按調校鍵出現(xiàn)調校菜單后，按2選擇測折射角度，屏幕出現(xiàn)提示“先測零點聲速？y/n”，如測過零點聲速則選擇“n”，此時出現(xiàn)如下對話框：1． 目標反射體直徑： mm 2． 反射體中心深度： mm3． 標稱Ｋ值折射角： / 176。按191。 鍵開始測試 根據(jù)所用探頭和試塊輸入數(shù)據(jù)，儀器自動預置增益、聲程、波門等參量，如果輸入值與實際值誤差較大，將會導致錯誤結果，需重新輸入正確數(shù)據(jù)并測試。開始測試后可參照提示在試塊上移動探頭或調節(jié)參量使反射體最高回波出現(xiàn)在進波門內時按191。鍵確認即可。在測試過程中儀器會自動記錄門內出現(xiàn)的最高波，并且會自動增減增益調整回波高度，使門內最高波在預設值（一般80%）附近。門內出現(xiàn)的最高波的指示方式有兩種，一是十字光標，一種是峰波記憶，按功能鍵可以在光標與峰波之間切換，當切換到峰波指示最高波后，則自動增降增益功能不再起效。在測試時按增益鍵可以將門內回波自動增減到預設值，配合峰波指示使用較佳。 例1：，目標反射體直徑、反射體中心深度和標稱K值折射角三項分別輸入50mm、 ，三項全部正確輸入后按確認鍵開始測試。儀器在波形區(qū)左上角提示： mm反射體最高回波在門內，191。確認將探頭和試塊如右圖521放置，移動探頭使反射體（F50孔）的最高回波出現(xiàn)在進波門內，確認后儀器算出K值和折射角，確認測試值后存儲, 如圖521圖522所示。圖522測試完成界面測試過程中測試斜探頭K值/折射角度例2：用CSKIIIA試塊深40mm ，反射體中心深度、三項全部正確輸入后按確認鍵開始測試。儀器在波形區(qū)左上角出現(xiàn)提示框（參見例1）。將探頭和試塊如右圖523放置，移動探頭使目標反射體（深40mm的F1 孔）的最高回波出現(xiàn)在進波門內，按確認鍵后儀器算出K圖523值和折射角，確認測試值后儀器自動存儲。值得注意的是，為了適應各種可能的情形（由于可能使用各種不同深度或不同直徑的孔或棱角，其反射體直徑有的可忽略，如用CSKIIIA試塊上的小孔測K值，但有些是絕不能忽略的，如例1中所舉的F50孔，如忽略會導致錯誤結果），因此在測試中儀器會自動將聲程標度設為（S），即距離。如例1所示，如果輸入K值與實際K值相等或很相近，則在試塊中超聲波的行程約為101mm，由于在一般測試過程中，進波門設在第七格至第八格，反射體最高回波將處于第七格至第八格中，因此，雖然在提示中是“深度70mm”，但是在屏幕下方，最高回波處的標尺數(shù)值取整后可能是“100mm”，應注意是聲程值（即距離），而不是深度值。注：如果聲速零點未校準，則所測K值會有錯誤，應先測準聲速和零點。反射體深度是指探測面到反射體中心的距離，而不是反射面。僅在屏幕左上角有“測折射角度”提示且波高約為80%時才可確認回波。測K值時不可調延時，不可更換通道，也不可嵌套其它測試。如果由于實際K值與標稱K值誤差較大，導致最高回波不在進波門內，可調節(jié)進波門參數(shù)或聲程，使所需最高波處于進波門內。 52制作DAC按調校鍵出現(xiàn)調校菜單后，按3選擇制作DAC，屏幕左上角出現(xiàn)提示：“先測零點K值？y/ n”，如按y鍵則先測聲速零點、K值（參見552，），再制作DAC；如按n則直接制作DAC，屏幕上出現(xiàn)對話框：1． 最大深度： mm2．反射體直徑： mm3．反射體長度： mm191。 鍵測試172。修正輸入數(shù)據(jù)并確認后即開始制作DAC曲線。屏幕左上端參數(shù)區(qū)有DAC三字，且波形區(qū)右上端出現(xiàn)提示框：+ 鍵選擇目標回波 191。結束測試在制作DAC過程中可調節(jié)波門、增益、聲程等各項參量，其它參量只能是測試之前在參數(shù)菜單中輸入。在試塊上移動探頭，當反射體最高波出現(xiàn)時穩(wěn)住探頭，按＋或－鍵，則屏幕凍結，且在一個波峰上出現(xiàn)一個光標，再按＋或－鍵可移動此光標至下一個波峰，同時參數(shù)區(qū)會同步顯示該波峰的位置、波高等參數(shù)，按191。鍵選中光標所在的回波，在儀器畫好DAC曲線上的一點后，回波將被解凍，此時可在試塊上移動探頭，尋找來自另一深度的缺陷波。如果發(fā)現(xiàn)因未找到最高回波而使某一點偏低，使得DAC線不夠準確，可重新尋找該點的最高回波，按＋或－鍵重新將光標移到該點的最高回波上再按191。鍵選中該點，該點將被補高。在測試過程中儀器測試第一個點時會自動增減增益調整回波高度，使門內最高波在預設值（一般80%）附近，當有按鍵后，自動增減增益功能失效。門內出現(xiàn)的最高波的指示方式有兩種，一是十字光標，一種是峰波記憶，按功能鍵可以在光標與峰波之間切換，當切換到峰波指示最高波后，則自動增降增益功能不再起效。在測試時按增益鍵可以將門內回波自動增減到預設值，配合峰波指示使用較佳。當測試點多于一點時，提示框變?yōu)槿缦滤荆? 鍵選波 172。修正 退出 191。完成按172。鍵可以對已測點進行修正，同時提示框變?yōu)槿缦滤荆?72。選點 + 調整 清除 191。修正按172。鍵可以選擇待修正的已測點，待修正點會有十字光標指示，此時按＋或－鍵可以調整該點的高度，按鍵能清除該點。按191。鍵完成修正工作。所有點測試完畢后，若認可已制作完成的DAC母線，按191。鍵完成。再輸入表面補償值和工件厚度，按191。鍵結束測試。儀器根據(jù)標準設置自動生成DAC曲線（默認設置為JB/T47302005），如圖53。詳細舉例參見第八章。圖53DAC曲線注：必須測準零點（聲速）、K值，否則所制作DAC曲線不準確；儀器可自動調節(jié)增益，使進波門內回波幅度約為80%；僅在參數(shù)區(qū)有“制作DAC”且進波門內有回波高于10%時再使用加或減號鍵，屏幕才會凍結，才能進行移點選波，對此要特別注意。AVG制作方法與DAC類似，53測儀器性能測試前務必在設置菜單中將“探頭類型”設為直探頭。在調校菜單中選中測儀器性能，屏幕上出現(xiàn)提示：“查看前次測試結果！Y是 N否”，如選擇“Y”則查看前次測試的儀器性能指標，如選擇“N”則出現(xiàn)以下提示框：將直探頭放在25mm厚試塊上，回波穩(wěn)定后191。確認 用戶按確認鍵開始進行儀器探頭組合性能測試。1． 水平線性測試1）如圖541所示，將直探頭放置CSKIA試塊上，測聲速零點（參見51，默認聲波類型為縱波，試塊聲程為50mm）CSK—IA25mm2）聲速零點測準后，聲程范圍改為125mm，使25mm厚試塊的一至五次回波依次出現(xiàn)在第二、四、六、八和十格，用戶僅需保持探頭不動，儀器會自動調整增益、進波門位，使進波門內回波高為50%，最后計算出水平線性值。圖5412． 分辨力測試1） 波形區(qū)左上方提示：請將探頭置于試塊上當深85和91兩回波等高且穩(wěn)定時191。確認并穩(wěn)住探頭85mm91mmCSK—IA如圖542所示，用戶在CSKIA試塊上移動直探頭，當85mm和91mm兩處的回波等高且為50%時按確認鍵，用戶穩(wěn)住探頭并等待片刻，儀器自動增加增益使兩波的波谷上升為50%，儀器記下增益差，即為直探頭分辨力。儀器屏幕波形如圖543所示。圖543儀器屏幕波形顯示圖5423． 垂直線性及動態(tài)范圍測試1） 波形區(qū)左上方提示：在CS15試塊上移動探頭當200mm處F2平底孔回波最高時191。確認并穩(wěn)住探頭如圖544所示，用戶在CS15試塊上移動直探頭，當200mm深F2平底孔處的回波最高且為50%時按確認鍵，儀器自動調節(jié)增益使波高上升為100%，然后以2dB的步長使增益下降，這時儀器自動記下每次的波高，算出垂直線性和動態(tài)范圍。CS—1—5平底孔試塊200mm25mm圖5444．靈敏度余量測試1） 波形區(qū)左上方提示：在CS15試塊上移動探頭當200mm處F2平底孔回波最高時191。確認并穩(wěn)住探頭2） 如圖544所示，用戶穩(wěn)住探頭，當200mm深F2平底孔處的回波最高且為50%時按確認鍵，屏幕上出現(xiàn)提示：請除去探頭后191。 確認3） 這時用戶需除去探頭，確認后，儀器增加增益，使干擾波達10%，記下增益差即為靈敏度余量。5．顯示測試結果上述四項測試完成后，儀器會自動算出結果，并將其顯示在屏幕上，用戶可將其打印輸出。1 打印 重測191。 退出儀器性能指標水平線性 %垂直線性 %分辨力 dB動態(tài)范圍 dB靈敏度余量 dB注：如果要打印測試結果，用戶需在測試前在關機狀態(tài)下將打印機與儀器接好； F20直探頭；由于測儀器是測試儀器和探頭的組合性能，因此強烈建議您使用質量較好的探頭。 54測缺陷高度在測該項前務必先測零點和K值，然后在調校菜單中選中“測缺陷高度”，儀器會出現(xiàn)提示菜單：移探頭調參量使缺陷下端最高波出現(xiàn)在門內191。確認找到缺陷下端最高波后按確認鍵，此時儀器會提醒找缺陷上端最高波，再次確認后儀器則測得缺陷高度，儀器此時顯示測得的缺陷高度，并提示是否存儲波形，按y鍵保存，n則直接退出?！皽y缺陷高度”操作示意圖如下圖55所示。缺陷高度圖55 55第六章 功能使用初始化 “初始化”功能的作用是將儀器恢復至初始狀態(tài)。在功能菜單中選中初始化后，屏幕出現(xiàn)對話框：初始化1． 當前通道2． 所有通道3． 缺陷數(shù)據(jù)4． 儀器按1且確認后則將當前通道存儲的參數(shù)初始化，其它通道參數(shù)和存儲的缺陷數(shù)據(jù)不變；按2且確認后則將所有通道存儲的參數(shù)初始化；按3且確認后，存儲的缺陷記錄全部被清除，而通道參數(shù)不變；按4且確認后，所有通道存儲的參數(shù)初始化，存儲的缺陷記錄全部被清除；按確認鍵退出此功能。其中“y”確認清除，“n”放棄清除。注：一旦使用此功能，數(shù)據(jù)將會丟失，應慎用。61回波包絡“回波包絡”功能的作用是當探頭在試塊或工件上移動時，對進波門內的連續(xù)多個回波的峰值點進行了記憶，將其連成一條包絡線，并在屏幕上予以顯示。根據(jù)包絡形狀，可方便地找到缺陷的最高波，并可為判斷缺陷的性質提供依據(jù)，如圖62。（參見84）圖62注：該功能與“峰值記憶”功能不能同時生效；該功能啟用后，按記錄