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正文內(nèi)容

生產(chǎn)制作指示編寫指引培訓資料-資料下載頁

2025-08-04 03:54本頁面
  

【正文】 設(shè)計要求: 孔徑:∮ ,鉆咀用∮ ,鉆孔個數(shù):2 ; 孔與孔中心距離為127MM ,孔與板邊的距離為:《(板長127)247。2》+/1 mm(中央對稱); 孔中心距成型線≥7MM; 沉鎳金線生產(chǎn)尺寸圖詳見 對于先字符后沉金的板:當PNL尺寸大于上述沉鎳金最大生產(chǎn)尺寸時,在沉金前增加VCUT流程。將板對半VCUT,掰開后沉金 。對半VCUT處的排板間距為:≥2MM ,一般以5MM制作。 。 必須對半VCUT的板,為便于生產(chǎn),鑼帶按對半VCUT后的尺寸制作,不按開料后的PNL尺寸制作。 如不需對半VCUT 。 如成品本身有VCUT,則生產(chǎn)流程為:字符→對半VCUT→掰斷→沉鎳金→成品VCUT→鑼板 當對半VCUT線與成品VCUT線平行時,必須要在另一板邊增加一排VCUT定位孔,用與對半VCUT掰斷后進行成品VCUT定位。 當對半VCUT線與成品VCUT線垂直時,VCUT定位孔必須按掰斷后,分成兩塊板的位置來確定。 對于先沉金后字符的板則按(1),(2),(3)條件制作。 按上述要求,MI做如下更改和注明。 增加對半VCUT流程,且流程處注明:對半VCUT后掰斷,盡量V深以便掰斷。 在原VCUT圖中增加一條對半VCUT線,且在該條VCUT線處注明:盡量V深以便掰斷。 沉鎳金的流程順序一般為先印字符后沉鎳金,以防止沉金后再印字符出現(xiàn)甩油現(xiàn)象。 沉錫: 。 由于在80℃及以上烤板時,銅面與錫面發(fā)生劣化發(fā)應(yīng),導(dǎo)致上錫不良。所以沉錫之后嚴禁烤板,須將壓板曲作為單獨流程放在沉錫之前。 沉錫板正常流程為:成型→測試→FQC1→壓板曲→沉錫→FQC,(此流程不受PNL尺寸限制,即排版大于415*510mm時不用對半VCUT)。 只有在特殊情況時,流程改為:FQC1→壓板曲→沉錫→成型→測試→FQC。特殊情況為:出貨單位中沒有NPTH孔且成型尺寸的長和寬任何一邊小于65*140mm。 先沉錫后成型的最大PNL尺寸為415 * 500 MM。當PNL尺寸的長和寬任何一邊大于 415 * 500 MM,需按沉金板的方式:對半VCUT后掰開后沉錫。對半VCUT的排版間距要求、流程位置等同沉金板的方式。 沉錫板+藍膠屬特殊制程,需建議客戶改貼KAPTON膠帶,否則我司無法保證其可焊性,如需制作,必須由工程部經(jīng)理、品保部經(jīng)理及市場部經(jīng)理簽字方可出工程資料. 嚴禁出現(xiàn)先沉錫后字符的工藝流程。 化學沉銀: 銀層厚度: (6u″30u″)。 我司沉銀板是外發(fā)制作,沉銀加工商對尺寸有限定:最小尺寸是100*150mm,最大尺寸是450*610mm 沉銀板流程和尺寸的規(guī)定如下: 當出貨單位尺寸的長和寬符合上述要求時,(要求即為:100≤寬≤450 且 150≤長≤610mm),流程為:成型→測試→FQC1→壓板曲→沉銀→FQC→下工序。 當出貨單位尺寸的長和寬不符合上述要求時,(即:寬<100 或 長<150mm時),流程改為FQC1→沉銀→成型→測試→FQC→下工序。且在”成型”流程中注明:疊無硫紙鑼板防止表面擦花。 ,且PNL尺寸的寬>450 或長>610時則需按沉金板的方式:對半VCUT后掰開后沉銀。 對半VCUT的排版間距要求、流程位置等同沉金板的方式。 沉銀后不可烤板,(原因同沉錫)。 沉銀后需用無硫紙隔板。 噴錫: ≤T≤5um,孔內(nèi)鉛錫厚度5um≤T≤20um; 噴錫分為有鉛噴錫和無鉛噴錫,無鉛噴錫又分為:無鉛噴鎳錫(SN100C)和無鉛噴銀錫SAC30SAC405;SAC305含義為合金含量:3%Ag,%Cu ,% Sn;SAC405含義為合金含量:4%Ag,%Cu ,% Sn ; 無鉛噴錫的PNL最大尺寸為:580*622mm,即表面處理為“L,M”的我司PNL尺寸都可生產(chǎn); 有鉛噴錫的PNL最大尺寸為:470*622mm。即表面處理為”H”的PNL尺寸有如下具體限制: 最大的有效上噴錫寬度為:457mm。(注:有效寬度是指PNL中最大的上錫范圍,如超過457mm則噴不上錫。) 噴錫最大的PNL寬度規(guī)定為:470mm。(注:最大的PNL寬度是指能放進錫爐中最大尺寸,如超過470mm則無法放進噴錫軌道中。) ,即:軌道邊到成型線內(nèi)最外邊的上錫處(孔或焊盤)距離為:+1=,(1mm為安全距離)。 如有鉛噴錫的PNL尺寸不符合上述要求時,則需要按下列規(guī)定執(zhí)行: 增加”對半V-CUT”流程,相應(yīng)增加V-CUT孔,以便掰開后再噴錫。 如要“對半V-CUT”后再噴錫必須滿足:兩相鄰PCS的成型線內(nèi)最外邊的上錫處(孔或焊盤)間距最小為:2=11mm。且最小拼板間距為8mm(一般拼板間距按12mm制作。) 阻抗測試: 按客戶要求填寫阻抗線寬及對應(yīng)的阻抗值,我司阻抗測試儀為POLAR公司產(chǎn)品,所有阻抗板均需加測試COUPON,測試COUPON中測試孔位置,大小等相關(guān)參數(shù)按其規(guī)格而定。 測試COUPON必須放置在PNL的中間,不能放在靠板邊,特殊情況除外。 若客戶無特殊要求,阻抗值按:+/10%控制。 阻抗測試分為:蝕刻后阻抗測試和成品阻抗測試。 常見的阻抗類型分為:特性阻抗(單端阻抗),差分阻抗(差動阻抗),共面阻抗 。A. 特性阻抗(CHARACTRISTIC IMPEDANCE OR SINGLE ENDED IMPEDANCE),參考層為:與阻抗線所在層相鄰且能完全遮蔽阻抗線的層,通常為GND或VCC層,影響特性阻抗的因素有: (1)介電常數(shù)DK (2)阻抗線的銅厚T (3)阻抗線寬(W為下底線寬,W1為上頂線寬) (4)介質(zhì)層厚度H (5)阻焊膜厚度H1 .B. 差分阻抗(DIFFERENTIAL IMPEDANCE), 參考層為:與阻抗線所在層相鄰且能完全遮蔽阻抗線的層,通常為GND或VCC層,影響差分阻抗的因素有: (1)介電常數(shù)DK (2)阻抗線的銅厚T (3)阻抗線寬(W為下底線寬,W1為上頂線寬) (4)阻抗線的間距S (5)介質(zhì)層厚度H (6)阻焊膜厚度H1 .C. 共面阻抗:參考層與阻抗線在同一層,通常為包圍阻抗線之大銅皮(GND),影響共面阻抗的因素有:(1)介電常數(shù)DK (2)阻抗線的銅厚T (3)阻抗線寬(W為下底線寬,W1為上頂線寬) (4)介質(zhì)層厚度H (5)阻焊膜厚度H1 (6)阻抗線與周圍銅皮的間距D 我司阻抗測試COUPON的設(shè)計規(guī)范:A. 特性阻抗:(1)測試孔直徑:D=(2X)/COUPON,此為測試儀探針大小 (2)測試定位孔,D=(3X)/COUPON,此為鑼板定為孔 (3)B. 差分阻抗:(1)測試孔直徑:D=(4X)/COUPON,此為測試儀探針大小 (2)測試定位孔,D=(3X)/COUPON,此為鑼板定為孔 (3)。C. 共面阻抗:(1)測試孔直徑:D=(2X)/COUPON,此為測試儀探針大小 (2)測試定位孔,D=(3X)/COUPON,此為鑼板定為孔 (3)共面阻抗僅參考層的選擇與特性阻抗不同。 阻抗測試COUPON設(shè)計注意事項:A. 兩相鄰信號層中阻抗線所加保護線不可遮蔽另一層信號層中阻抗線;B. 相鄰信號層之最近GND或VCC為阻抗測量之接地參考層;C. 阻抗測試COUPON需完全模擬板內(nèi)阻抗線的形式;D. 阻抗線與所加保護線的間距需大于阻抗線寬。 HIPOT測試: 也叫高壓測試,分為層間HIPOT測試,和導(dǎo)體間HIPOT測試。按客戶要求填寫測試電壓,最大測試電流,測試時間。 VCUT: 填寫余留板厚及公差、角度及公差、上下刀對準度。 余留板厚及公差:177。一般以177。 FR4板料:當基板厚度為:≤,余厚一般為1/3板厚;當基板厚度為:>,余厚一般為1/4板厚;CEM板料一般為1/2板厚。 VCUT角度:有30,45,60度。一般選用30176。,公差最小177。5176。 上下刀對準度最小為177。一般以177。 VCUT板厚范圍:~。 跳VCUT:從起刀到再下刀之間的有效距離為≥15mm。如只有起刀,或只有下刀則距離要求為:≥。 。 成型: 填寫成型方式、成型公差、沖模編號、鑼帶編號。 按客戶要求選擇成型方式:鑼板或沖板 鑼帶編號為:。沖模編號為:生產(chǎn)編號。 鑼板最小公差:177。,一般以177。 鑼板定位用的銷釘直徑的范圍為(,)。 mm(),。 沖板最小公差:177。(需開精修模具,如客戶有此要求,需工程部經(jīng)理簽字方可定議生產(chǎn)型號)。一般以177。 當有鑼平臺時要先鑼外型再鑼平臺。 斜邊: 填寫斜邊角度、深度及公差。 斜邊角度: 1560度;一般選用30176。公差最小177。5176。 斜邊深度及公差:177。 斜邊余留板厚公差最小為177。 斜邊部位所在邊的其他部位不能凸出斜邊直線,且斜邊部位的兩邊槽寬要≥5mm。 鑼平臺: 按客戶要求填寫平臺深度,鑼平臺面向,鑼帶編號。 鑼平臺板的規(guī)定: 對于所有鑼平臺在S/S面的板:必須在“鑼平臺”流程中增加注意事項:必須Ln面向上鑼板”的指示。(n為層數(shù)) 當兩面都有鑼平臺時,則不要作上述注明。但必須在“鑼平臺”流程中增加L1面鑼平臺鑼帶:”指示, 以及Ln面鑼平臺鑼帶:。(n為層數(shù)) 鑼平臺流程順序:一般情況為上工序→鑼外型→鑼平臺→下工序,當1PNL>10PCS時,流程順序為:上工序→鑼平臺→鑼外型→下工序。 鉆沉孔: 按客戶要求填寫沉孔深度,沉孔面向,沉孔鉆帶編號。 沉孔:沉孔制作時需特別注意沉孔面向,MI中需明確標示清楚。 我司只有90度,對于90度沉孔,(深度=(上孔孔徑下孔孔徑)/2)。 對于180度沉孔,用普通鉆咀制作, 。 對于NPTH沉孔:1)電金板:阻焊后,成型前鉆沉孔2)其他板:蝕刻后,退錫前鉆沉孔. 對于PTH沉孔,在鉆孔后沉銅前鉆出。 為防止PTH沉孔面向鉆反,需在沉孔詳圖中(分孔圖或外形圖等中)增加防呆備注,用方向孔做為沉孔防呆標識。沉孔在C/S面時,則備注:沉孔防呆孔在生產(chǎn)編號孔的左上角;若沉孔在S/S面,則備注:沉孔防呆孔在生產(chǎn)編號孔的右上角。 我司沉孔鉆咀大小為:,由于要控制沉孔深度,對于不同深度的沉孔雖然用的沉孔鉆咀相同,但不可合刀 。 沉沉孔的規(guī)定: 對于所有沉孔在S/S面的板:必須在“鉆沉孔”流程中增加注意事項:必須Ln面向上鉆板”的指示。(n為層數(shù)) 當兩面都有沉孔時,則不要作上述注明。但必須在”鉆沉孔”流程中增加L1面沉孔鉆帶:”指示,以及Ln面沉孔鉆帶:。(n為層數(shù)) 測試: 填寫測試方式、治具編號、飛針編號。 測試方式有:飛針,專用治具,通用治具。一般為:測試數(shù)量少或PCB為較高精密時選擇飛針(如樣品)。測試數(shù)量較大,PCB為中低精密時選擇專用治具,測試數(shù)量較大,PCB為高精密時選擇通用治具。 治具編號、飛針編號都為生產(chǎn)編號。 測試能力:(當內(nèi)外層有許多長度≤,由于制程上容易脫落,脫落后電測無法測到。要在蝕刻后增加AOI且會知客戶此脫落后無法測到的情況。) 通常情況下正常流程為先成型后測試,但如選用飛針測試時,以下情況需先測試后成型: 如果出貨PCB的尺寸小于80X100mm,先測試后成型; 對于軟板(≤)在飛針測試時,建議先測試后成型; 如成品出貨單位板只靠連接位連在一起,板中鑼得太空,如需飛針測試時,需考慮先測試后成型(防止針點到板中板軟變形斷針)。 非矩形的不規(guī)則板,如需飛針測試時(因夾板不便),需先測試后成型; 測試尺寸的界定: 飛針測試尺寸:最大尺寸:610x460㎜(我司),最大尺寸:620x510㎜(外發(fā))。 專用測試尺寸:最大尺寸:640x400MM 板厚:~ . 通用測試尺寸:最大尺寸:325x406MM(我司);482x609MM(外發(fā)),板厚:~㎜ 無論圖形是否簡單,所有板都要進行電測試。(不含AOI檢測) 有機防氧化涂層(OSP): 填寫氧化膜厚,抗氧化后嚴禁烤板。 同沉錫板情況,為防止發(fā)生劣化發(fā)應(yīng)。所以防氧化之后嚴禁烤板。 流程順序……成型→測試→FQC1→防氧化→FQC→FQA。 防氧化板+藍膠屬特殊制程,需建議客戶改貼KAPTON膠帶,否則我司無法保證其可焊性,如需制作,必須由工程部經(jīng)理、品保部經(jīng)理及市場部經(jīng)理簽字方可出工程資料。 印成品藍膠: 填寫藍膠型號、藍膠厚度、藍膠層面、藍膠方式、鑼帶編號、菲林編號。 如客戶無要求藍膠型號則填寫:無要求,我司常用的藍膠型號有PETER SD2954 、PETER SD2955 ;SD2955符合ROHS標準。 藍膠厚度要求: 藍膠厚度范圍為:。厚度公差為:177。 藍膠厚度如客戶無要求,則厚度以≤,MI注明厚度≤ 。如客戶有要求則按客戶要求制作。 [例:如客戶有要求≥,≥T≥]。 藍膠層面: 藍膠菲林一定要注明面向(比如L1正,L4反等)。 為防止藍膠層面印反,藍膠菲林中需增加3個定位孔,并注明為防呆孔,以區(qū)分需要正常藍膠塞孔的NPTH孔。 在PDF文檔中需增加彩色藍膠菲林圖紙,藍膠菲林圖紙必需為對應(yīng)線路PAD位,阻焊開窗,鉆孔相互疊加的效果圖。 印藍膠
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