【正文】 長軸類鍛件從端面作軸向探測時，容易出現(xiàn)的非缺陷回波是（ D ）A、三角反射波 B、61176。反射波 C、輪廓回波 D、遲到波 方形鍛件垂直法探傷時，熒光屏上出現(xiàn)一游動缺陷回波，其波幅較低但底波降低很大。該缺陷取向可能是（ C ）A、平行且靠近探測面 B、與聲束方向平行C、與探測面成較大角度 D、平行且靠近底面 缺陷反射聲壓的大小取決于：（ D ）A、缺陷反射面大小 B、缺陷性質(zhì) C、缺陷取向 D、以上全部 鋼板缺陷的主要分布方向是：（ A ）A、平行于或基本平行于鋼板表面 B、垂直于鋼板表面C、分布方向無傾向性 D、以上都可能 鋼板超聲波探傷主要應(yīng)采用：（ A ）A、縱波直探頭 B、表面波探頭 C、順波直探頭 D、聚焦探頭 下面關(guān)于鋼板探傷的敘述，哪一條是正確的：（ A ）A、若出現(xiàn)缺陷波的多次反射，缺陷尺寸一定很大B、無底波時，說明鋼板無缺陷C、鋼板中不允許存在的缺陷尺寸應(yīng)采用當量法測定（常用測長法測定指示長度和面積）D、鋼板探傷應(yīng)盡量采用低頻率 鋼板厚為30mm，用水浸法探傷，當水層厚度為l5mm時，則第三次底面回波顯示于（ B ）A、二次界面回波之前 B、二次界面回波之后C、一次界面回波之前 D、不一定 復(fù)合材料探傷，由于兩介質(zhì)聲阻抗不同，在界面處有回波出現(xiàn)，為了檢查復(fù)合層結(jié)合質(zhì)量，下面哪條敘述是正確的：（ C ）A、兩介質(zhì)聲阻抗接近，界面回波小，不易檢查B、兩介質(zhì)聲阻抗接近，界面回波大，容易檢查C、兩介質(zhì)聲阻抗差別大，界面回波大，不易檢查D、兩介質(zhì)聲阻抗差別大，界面回波小，容易檢查 探測厚度為18mm的鋼板，在探傷波形上出現(xiàn)了“疊加效應(yīng)”，問哪一種說法是正確的：（ B ）A、同大于20mm的厚鋼板一樣，按F1評價缺陷B、因為板厚小于20mm，按F2評價缺陷C、按最大缺陷回波評價缺陷D、必須降低靈敏度重新探傷 探測T=28mm的鋼板，熒光屏上出現(xiàn)“疊加效應(yīng)”的波形，下面哪種評定缺陷的方法是正確的？（A）A、接缺陷第一次回波(Fl)評定缺陷B、按缺陷第二次回波(F2)評定缺陷C、按缺陷多次回波中最大值評定缺陷D、以上都可以 下面有關(guān)“疊加效應(yīng)”的敘述中，哪點是正確的（ C ） A、疊加效應(yīng)是波型轉(zhuǎn)換時產(chǎn)生的現(xiàn)象B、疊加效應(yīng)是幻象波的一種C、疊加效應(yīng)是鋼板底波多次反射時可看到的現(xiàn)象D、疊加效應(yīng)是探傷頻率過高而引起的 帶堆焊層工件中的缺陷有：（ D ）A、堆焊金屬中的缺陷 B、堆焊層與母材間的脫層C、堆焊層下母材熱影響區(qū)的再熱裂紋 D、以上三種都有 用水浸聚焦探頭局部水浸法檢驗鋼板時，聲束進入工件后將（ B ）A、因折射而發(fā)散 B、進一步集聚C、保持原聚焦狀況 D、以上都能 無縫鋼管缺陷分布的方向有；（ D ）A、平行于鋼管軸線的徑向分布 B、垂直于鋼管軸線的徑向分布C、平行于鋼管表面的層狀分布 D、以上都可能 小口徑鋼管超探時探頭布置方向為：（ C ）A、使超聲沿周向射入工件以探測縱向缺陷B、使超聲沿軸向射入工件以探測橫向缺陷C、以上二者都有D、以上二者都沒有 小口徑無縫鋼管探傷中多用聚焦探頭，其主要目的是：（ A ）A、克服表面曲率引起超聲散焦 B、提高探傷效率C、提高探傷靈敏度 D、以上都對 鋼管原材料超探試樣中的參考反射體是：（ C ）A、橫孔 B、平底孔 C、槽 D、豎孔 管材橫波接觸法探傷時，入射角的允許范圍與哪一因素有關(guān)（ D ）A、探頭楔塊中的縱波聲速 B、管材中的縱橫波聲速C、管子的規(guī)格 D、以上全部 管材周向斜角探傷與板材斜角探傷顯著不同的地方是（ C ）A、內(nèi)表面入射角等于折射角 B、內(nèi)表面入射角小于折射角C、內(nèi)表面入射角大于折射角 D、以上都可能 管材水漫法探傷中，偏心距x與入射角α的關(guān)系是（ sina=X/R ）。（rR為管材的內(nèi)外半徑） 管材自動探傷設(shè)備中，探頭與管材相對運動的形式是（ D ）A、探頭旋轉(zhuǎn)，管材直線前進 B、探頭靜止，管材螺旋前進C、管材旋轉(zhuǎn)，探頭直線移動 D、以上均可 下面有關(guān)鋼管水浸探傷的敘述中，哪點是錯誤的（ C ）A、使用水浸式縱波探頭 B、探頭偏離管材中心線C、無缺陷時，熒光屏上只顯示始波和l～2次底波D、水層距離應(yīng)大于鋼中一次波聲程的1／2 鋼管水浸聚焦法探傷中，下面有關(guān)點聚焦方法的敘述中，哪條是錯誤的？（ B ）A、對短缺陷有較高探測靈敏度 B、聚焦方法一般采用圓柱面聲透鏡C、缺陷長度達到一定尺寸后（即超過焦距長度時），回波幅度不隨長度而變化D、探傷速度較慢 鋼管水浸聚焦法探傷時，下面有關(guān)線聚焦方式的敘述中，哪條是正確的？（ D ）A、探傷速度輕快 B、回波幅度隨缺陷長度增大而增高C、聚焦方法一般采用圓柱面透鏡或瓦片型晶片D、以上全部 使用聚焦探頭對管材探傷，如聚焦點未調(diào)到與聲束中心線相垂直的管半徑上，且偏差較大距離，則會引起（ B ）A、盲區(qū)增大 B、在管中折射發(fā)散C、多種波型傳播 D、同波脈沖變寬 鍛件的鍛造過程包括：（ A ）A、加熱形變，成型和冷卻 B、加熱，形變C、形變，成型 D、以上都不全面 鍛件缺陷包括：（ D ）A、原材料缺陷 B、鍛造缺陷C、熱處理缺陷 D、以上都有 鍛件中的粗大晶?？赡芤穑海?D ）A、底波降低或消失 B、噪聲或雜波增大C、超聲嚴重衰減 D、以上都有 鍛件中的白點是在鍛造過程中哪個階段形成：（ D ） A、加熱 B、形變 C、成型 D、冷卻 軸類鍛件最主要探測方向是：（ B ）A、軸向直探頭探傷 B、徑向直探頭探傷C、斜探頭外圓面軸向探傷 D、斜探頭外圓面周向探傷 餅類鍛件最主要探測方向是：（ A ）A、直探頭端面探傷 B、直探頭翻面探傷C、斜探頭端面探傷 D、斜探頭側(cè)面探傷 筒形鍛件最主要探測方向是：（ A ）A、直探頭端面和外圓面探傷 B、直探頭外圓面軸向探傷C、斜探頭外四面周向探傷 D、以上都是 鍛件中非金屬夾雜物的取向最可能的是：（ C ） A、與主軸線平行 B、與鍛造方向一致C、與鍛件金屬流線一致 D、與鍛件金屬流線垂直 超聲波經(jīng)液體進入具有彎曲表面工件時，聲束在工件內(nèi)將會產(chǎn)生：（ C ）A、與液體中相同的聲束傳播 B、不受零件幾何形狀的影響C、凹圓弧面聲波將收斂，凸圓弧面聲波將發(fā)散D、與C的情況相反 鍛鋼件探測靈敏度的校正方式是：（ D ）A、沒有特定的方式 B、采用底波方式C、采用試塊方式 D、采用底波方式和試塊方式 以工件底面作為靈敏度校正基準，可以：（ D ）A、不考慮探測面的耦合差補償 B、不考慮材質(zhì)衰減差補償C、不必使用校正試塊 D、以上都是 ，如用400mm深底波調(diào)整Φ3mm平底孔靈敏度，底波調(diào)整后應(yīng)提高多少db探傷？（晶片直徑D=14mm）（ A ）A、 B、 C、50db D、 在直探頭探傷，調(diào)節(jié)鍛件200mm底波于熒光屏水平基線滿量度10。如果改用5MHz直探頭，儀器所有旋紐保持不變，則200mm底波出現(xiàn)在（ C ）A、刻度5處 B、越出熒光屏外C、仍在刻度10處 D、須視具體情況而定 化學(xué)成份相同，厚度相同，以下哪一類工件超聲波衰減最大（ D ）A、鋼板 B、鋼管 C、鍛鋼件 D、鑄鋼件 通用AVG曲線的通用性表現(xiàn)在可適用于：（ C ）A、不同的探測頻率 B、不同的晶片尺寸C、不同示波屏尺寸的A型探傷儀 D、以上都是 大型鑄件應(yīng)用超聲波探傷檢查的主要困難是：（ D ）A、組織不均勻 B、晶粒非常粗C、表面非常粗糙 D、以上都對 鍛鋼件大平底面與探測面不平行時，會產(chǎn)生：（ A ）A、無底面回波或底面回波降低 B、難以發(fā)現(xiàn)平行探測面的缺陷C、聲波穿透能力下降 D、缺陷回波受底面回波影響 利用試塊法校正探傷靈敏度的優(yōu)點是：（ B ）A、校正方法簡單 B、對大于3N和小于3N的鍛件都適用C、可以克服探傷面形狀對靈敏度的影響 D、不必考慮材質(zhì)差異 下列哪種方法可增大超聲波在粗晶材料中的穿透能力：（ B ）A、用直徑較大的探頭進行檢驗 B、在細化晶粒的熱處理后檢驗C、將接觸法探傷改為液浸法探傷 D、將縱波探傷改為橫波探傷 以下有關(guān)鍛件白點缺陷的敘述，哪一條是錯誤的（ A ）A、白點是一種非金屬夾雜物 B、白點通常發(fā)生在鍛件中心部位C、白點的回波清晰尖銳往往有多個波峰同時出現(xiàn)D、一旦判斷是白點缺陷，該鍛件即為不合格 在鍛件探傷中當使用底面多次回波計算衰減系數(shù)時應(yīng)注意一次底面回波聲（ C ）A、大于非擴散區(qū) B、大于近場區(qū)C、大于3倍近場區(qū) D、無甚要求 鍛件超聲波探傷時機應(yīng)選樣（ B ）A、熱處理前孔槽臺階加工前 B、熱處理后孔曹臺階加工前C、熱處理前孔槽臺階加工后 D、熱處理孔槽臺階加工后 鋼鍛件探傷中，超聲波的衰減主要取決于（ B ）A、材料的表面狀態(tài) B、材料晶粒度的影響C、材料的幾何形狀 D、材料對聲波的吸收 下面有關(guān)用試塊法調(diào)節(jié)鍛件探傷靈敏度的敘述中，哪點是正確的。（ D ）A、對厚薄鍛件都適用 B、對平面和曲面鍛件都適用C、應(yīng)作耦合及衰減差補償 D、以上全部 用底波法調(diào)節(jié)鍛件探傷靈敏度時，下面有關(guān)缺陷定量的敘述中哪點是錯誤的？（ D ）A、可不考慮探傷耦合差補償B、C、可不使用試塊D、缺陷定量可不考慮材質(zhì)衰減差修正 用直探頭檢驗鋼鍛件時，引起底波明顯降低或消失的因素有（ D ）A、底面與探傷面不平行 B、工件內(nèi)部有傾斜的大缺陷C、工件內(nèi)部有材質(zhì)衰減大的部位 D、以上全部 鍛件探傷中，如果材料的晶粒粗大，通常會引起（ D ）A、底波降低或消失 B、有較高的“噪聲”顯示C、使聲波穿透力降低 D、以上全部 鑄鋼件超聲波探傷頻率一般選擇（ A ）A、 B、15MHZ C、 D、510MHZ 鍛件探傷時，哪些因素會在熒光屏上產(chǎn)生非缺陷回波（ D ）A、邊緣效應(yīng) B、工件形狀及外形輪廓 C、缺陷形狀和取向 D、以上全部 鍛件探傷時．如果用試塊比較法對缺陷定量對于表面粗糙的缺陷，缺陷實際尺寸會（ A ）A、大于當量尺寸 B、等于當量尺寸C、小于當量尺寸 D、以上都可能 下面有關(guān)鑄鋼件探測條件選擇的敘述中，哪點是正確的’ （ B ）A、探測頻率5MHz B、透聲性好粘度大的耦合劑C、晶片尺寸小的探頭 D、以上全部 通常要求焊縫探傷在焊后48小時進行是因為：（ C ）A、讓工件充分冷卻 B、焊縫材料組織穩(wěn)定C冷裂縫有延時產(chǎn)生的特點 D、以上都對 對接焊縫探傷時，在CSKIIA試塊上測得數(shù)據(jù)繪制距離dB曲線，現(xiàn)要計入表面補償4dB，則應(yīng)：（ D ）A、將測長線下移4dB B、將判廢線下移4dBC、三條線同時上移4dB D、三條線同時下移4dB 焊縫斜角探傷時，正確調(diào)節(jié)儀器掃描比例是為了：（ D ）A、缺陷定位 B、缺陷定量 C、判定結(jié)構(gòu)反射波和缺陷波 D、以上A和C 采用半圓試塊調(diào)節(jié)焊縫探傷掃描比例時，如圓弧第一次反射波對準時基刻度2， 則以后各次反射波對應(yīng)的刻度為（ C ） A、4，6，8，10 B、3，5，7，9 C、6，10 D、以上都不對 探測出焊縫中與表面成不同角度的缺陷，應(yīng)采取的方法是（ B ）A、提高探鍘頻率 B、用多種角度探頭探測 C、修磨探傷面 D、以上都可以 焊縫斜角探傷時，焊縫中與表面成一定角度的缺陷，其表面狀態(tài)對回波高度的影響是（ A ）A、粗糙表面回波幅度高 B、無影響 C、光滑表面回波幅度高 D、以上都可能 焊縫斜角探傷時，熒光屏上的反射渡來自：（ D ） A、焊道 B、缺陷 C、結(jié)構(gòu) D、以上全部 斜角探傷時，焊縫中的近表面缺陷不容易探測出來，其原因是（ B ） A、遠場效應(yīng) B、受分辨力影響 C、盲區(qū) D、受反射波影響 厚板焊縫斜角探傷時，時常會漏掉：（ D ） A、與表面垂直的裂紋 B、方向無規(guī)律的夾渣 C、根部未焊透 D、與表面平行未熔合 焊縫檢驗中，對一缺陷環(huán)繞掃查，其動態(tài)波形包括絡(luò)線是方形的，則缺陷性質(zhì)可估 判為（ B ） A、條狀夾渣 B、氣孔或圓形夾渣 C、裂紋 D、以上A和C 板厚100mm以上窄間隙焊縫作超聲檢驗時，為探測邊緣未熔合缺陷，最有效的掃查方法是（ B ） A、斜平行掃查 B、串列掃查 C、晶斜探頭前后掃查 D、交叉掃查 對圓筒形工件縱向焊縫探傷時，跨距將（ D ） A、增大 B、減小 C、不變 D、以上A或B