【正文】 模型對Panel進(jìn)行充放電，電阻為電源的內(nèi)阻、MOSFET的導(dǎo)通電阻和電極引線的電阻之和。在脈沖上升時(shí)，對電容充電，充電結(jié)束時(shí)電容中存儲的能量為CVsus2/2，在電阻上消耗的能量為CVsus2/2；在脈沖下降時(shí)，電容放電，存儲在電容中的能量CVsus2/2全部以熱能的形式消耗在電阻上，所以在電容的一個(gè)充放電過程中，損耗的總能量為CVsus2。在對電容的充放電過程中電容本身并不消耗能量，但由于對其進(jìn)行充放電引起的電流將導(dǎo)致在回路電阻上消耗能量。在系統(tǒng)中引入LC諧振回路，通過PDP 屏寄生電容和電感之間的諧振，將平板電容上所充的電荷加以回收利用，達(dá)到能量復(fù)得的目的。 式中：Ev為有能量復(fù)得電路時(shí)施加一個(gè)脈沖的能量損耗，Ev’為沒有能量復(fù)得電路時(shí)施加一個(gè)脈沖的能量損耗，C為屏電容Cp和儲能電容Cs的串聯(lián)值。實(shí)際中，能量復(fù)得效率可以達(dá)到80%。 能量復(fù)得維持驅(qū)動(dòng)電路系統(tǒng)的設(shè)計(jì) 串聯(lián)諧振型維持驅(qū)動(dòng)電路圖1．2．3（a）（b）所示的是一種最早的典型的ACCPDP 能量恢復(fù)電路以及驅(qū)動(dòng)波形。此電路包括兩個(gè)獨(dú)立的充電和放電電路，一個(gè)加在掃描電極上，而另一個(gè)加在公共電極上。僅考慮加在掃描電極上的電路，平板寄生電容Cp 和能量恢復(fù)電容Css1（Css1Cp ）通過一個(gè)外部電感L1 串聯(lián)，電路利用Cp 、L1 和Css1 之間的串聯(lián)諧振給平板電容進(jìn)行充放電。電路充放電可以分為4 個(gè)階段：T1,T2,T3 和T4。在T1 之前，僅僅開關(guān)M3 和M4 處于導(dǎo)通狀態(tài)，其它開關(guān)截止，這樣電壓Vp 等于零。T1 期間，M3 截止，M5 導(dǎo)通，這樣就得到了如圖1．2．4 所示的等效的LC 電路。電容Css1 上的電壓在電路工作穩(wěn)定的時(shí)候幾乎不變，大小為Vs/2，平板電壓Vp 在T1 末充電達(dá)到接近Vs 的大小。在Vp 增大到接近Vs 后，開關(guān)M1 導(dǎo)通，而開關(guān)M5 截止。在T2 期間，直接由電源通過開關(guān)M1 給平板提供大小為Vs 的電壓。在T3 期間，平板電容Cp 放電。開關(guān)M1 截止，而開關(guān)M6 導(dǎo)通，電容Cp 的放電電流開始通過電感L二極管D2 和開關(guān)M6 流到電容Css1，電容Css1 得到充電。平板電容Cp 一直持續(xù)放直到電壓Vp降到接近零為止。當(dāng)電壓Vp 降到接近零時(shí)，開關(guān)M3 導(dǎo)通，而M6 截止。也就是說，在T4 期間，參考地通過M3 給平板提供零電位，在整個(gè)T4 期間平板電容Cp 上一直維持零電壓。如上所述，當(dāng)充放電電流流經(jīng)電感L1 時(shí)，LC 諧振得以實(shí)現(xiàn)，這樣就獲得了能量復(fù)得的效果。 并聯(lián)諧振型維持驅(qū)動(dòng)電路上述的串聯(lián)諧振型維持驅(qū)動(dòng)電路工作時(shí)產(chǎn)生的高壓波形上的電壓槽口的出現(xiàn)，減少了壁電荷的積累，降低了顯示的質(zhì)量。而下面的并聯(lián)諧振型維持驅(qū)動(dòng)電路可以克服這個(gè)問題。所示的是一種并聯(lián)諧振電路的結(jié)構(gòu)與驅(qū)動(dòng)波形，D1～D6 是MOSFET M1～M6的從源極到漏極的體二極管，C1～C4 是開關(guān)M1～M4 的寄生電容。此外，二極管D7 和D8 是用來防止在M5 和M6 上存在由電感L1 和L2 與其他部件的寄生電容之間的諧振而產(chǎn)生的高壓。 能量復(fù)得的測試將能量復(fù)得電容的值計(jì)算在串聯(lián)諧振電路中，通過對微分方程的分析，可以知道使用能量復(fù)得電路后的能量復(fù)得效率為：能量復(fù)得維持驅(qū)動(dòng)下的維持波形和erup第五章：aging電路的優(yōu)化 系統(tǒng)驗(yàn)證主要以實(shí)現(xiàn)aging系統(tǒng)正常工作的為驗(yàn)證目的。我們用示波器對正常工作時(shí)的系統(tǒng)輸出進(jìn)行采集。本系統(tǒng)可以滿足aging的基本要求，實(shí)現(xiàn)Panel正常顯示時(shí)所需的驅(qū)動(dòng)信號。 波形優(yōu)化們采用了高壓脈沖作為點(diǎn)火脈沖，而在現(xiàn)在的PDP驅(qū)動(dòng)技術(shù)中，已普遍采用了RAMP點(diǎn)火甚至更為復(fù)雜的點(diǎn)火方式，相對于傳統(tǒng)的脈沖點(diǎn)火，RAMP點(diǎn)火方式主要具有在點(diǎn)火尋址時(shí)更加穩(wěn)定，使整屏放電更為均勻的優(yōu)點(diǎn)。在原系統(tǒng)上實(shí)現(xiàn)指數(shù)坡點(diǎn)火比較簡單，只須在MOSFET上串聯(lián)一合適電阻即可，下圖為最終輸出的點(diǎn)火波形和總波形。 aging參數(shù)確定①設(shè)置老練頻率②設(shè)置上升和下降沿時(shí)間③設(shè)置點(diǎn)火電壓④設(shè)置維持電壓⑤設(shè)置維持電壓時(shí)間具體參數(shù)視情況而定。結(jié)論本論文針對PDP的結(jié)構(gòu)與驅(qū)動(dòng)方案，在對ACCPDP 能量復(fù)得維持驅(qū)動(dòng)電路、LC 諧振電路理論以及MOSFET 柵極驅(qū)動(dòng)技術(shù)的基礎(chǔ)上，提出了一種用于大屏幕全彩色PDP 整機(jī)系統(tǒng)的專用能量復(fù)得維持驅(qū)動(dòng)電路。在課題設(shè)計(jì)過程中，通過查閱大量的文獻(xiàn)資料，了解了課題的背景和當(dāng)前的研究情況，并有針對性的學(xué)習(xí)了LC 諧振電路的理論知識、電力電子學(xué)中的軟開關(guān)應(yīng)用技術(shù)以及高速M(fèi)OSFET 開關(guān)的驅(qū)動(dòng)方法，為課題方案的提出打下了理論基礎(chǔ)。針對SMPDP 的具體結(jié)構(gòu)和驅(qū)動(dòng)方案，提出了一種SMPDP 專用的單邊能量復(fù)得維持驅(qū)動(dòng)電路的方案，進(jìn)行了詳細(xì)的理論分析，并將電路方案加入到了整個(gè)SMPDP 高壓驅(qū)動(dòng)電路系統(tǒng)中，設(shè)計(jì)出了帶能量復(fù)得電路的具體高壓驅(qū)動(dòng)電路。同時(shí)，電路設(shè)計(jì)由于存在所選擇的電路元器件參數(shù)與實(shí)際應(yīng)用中不匹配、PCB 上引線寄生電感大等問題，電路具體形式還有待于調(diào)整，導(dǎo)致了能量復(fù)得效率不高和對屏電容充放電時(shí)間較長等缺點(diǎn)，還有較大的改善余地。致謝一段時(shí)間的忙碌，終于在這篇論文的完成，告一段落。期間我得到了很多老師和同學(xué)的幫助。沒有他們的鼎立相助，也就沒有這篇文章的順利完成。首先我要感謝我的老師陳剛，他在繁忙的教學(xué)任務(wù)當(dāng)中，還要抽出時(shí)間來關(guān)心我的課程的進(jìn)展，提出重要的建議和意見，使論文的撰寫得以順利完成。他嚴(yán)謹(jǐn)?shù)闹螌W(xué)態(tài)度、做事情一絲不茍的精神使我受益非淺。在課題的設(shè)計(jì)當(dāng)中，還要感謝我所在部門的處長張海周，他有著豐富的電路知識，在我遇到困難的時(shí)候，給了我很多的指導(dǎo)和幫助，解決了很多的問題。同時(shí)還要感謝我的兩位同學(xué)兼同事姜叢磊和邱益東，一起的生活和工作，讓我學(xué)習(xí)到很多的東西。參考文獻(xiàn)[1] 王兆安,[M]. 機(jī)械工業(yè)出版社,2000[2] 應(yīng)根裕，胡文波等編著，《平板顯示技術(shù)》，人民郵電出版社出版，2002 年10 月[3] 湯勇明，屠彥，夏軍等，“PDP放電單元工作特性計(jì)算機(jī)輔助模擬方法的研究”。光電子技術(shù)[4] 宋國棟，鄭姚生，吳忠，湯勇明，屠彥. SMPDP aging系統(tǒng)設(shè)計(jì)[J]. 電子器件，2006[5] T Tokunaga, H Nakamura, M Suzuki, et al. Development of New Driving Method for ACPDPs[J]. Proceedings of IDW’99, 1999:787790[6] 蔣慶全. 等離子體顯示器綜述[J]. 光電技術(shù), 1999,[7] 應(yīng)根裕，胡文波等編著，《平板顯示技術(shù)》，人民郵電出版社出版[8] International Rectifier 應(yīng)用手冊，“高壓浮動(dòng)MOS 柵極驅(qū)動(dòng)集成電路”27