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特種設(shè)備超聲波檢測(cè)教材習(xí)題解答-資料下載頁(yè)

2025-06-07 20:34本頁(yè)面
  

【正文】 與探測(cè)面垂直的內(nèi)部平滑缺陷,最有效的探測(cè)方法是:( )探測(cè)距離均為100mm的底面,用同樣規(guī)格直探頭以相同靈敏度探測(cè)時(shí),下列哪種底面回波最高。( )鍛件探傷中,熒光屏上出現(xiàn)“林狀波”時(shí),是由于( ) 直徑為d的鋼棒徑向探傷時(shí),遲到波出現(xiàn)的位置是( C )下面有關(guān)61176。反射波的說(shuō)法,哪一點(diǎn)是錯(cuò)誤的?( )176。反射時(shí),縱波入射角與橫波反射角之和為90176。176。反射時(shí),縱波入射角為61176。橫波反射角為29176。176。反射時(shí),橫波入射角為29176。,縱波反射角為61176。176。反射時(shí),其聲程是恒定的長(zhǎng)軸類鍛件從端面作軸向探測(cè)時(shí),容易出現(xiàn)的非缺陷回波是( )176。反射波方形鍛件垂直法探傷時(shí),熒光屏上出現(xiàn)一游動(dòng)缺陷回波,其波幅較低但底波降低很大。該缺陷取向可能是( )缺陷反射聲壓的大小取決于:( )選擇題答案DDCDDCDBBCACDDBBBCBABBAABADABBDCCBDDDDDBCDDCDCACBCCDD第四章 二、選擇題采用什么超聲探傷技術(shù)不能測(cè)出缺陷深度?( )超聲檢驗(yàn)中,當(dāng)探傷面比較粗糙時(shí),宜選用( )超聲檢驗(yàn)中,選用晶片尺寸大的探頭的優(yōu)點(diǎn)是( )探傷時(shí)采用較高的探測(cè)頻率,可有利于( )工件表面形狀不同時(shí)耦合效果不一樣,下面的說(shuō)法中,哪點(diǎn)是正確的( )缺陷反射聲能的大小,取決于( )聲波垂直入射到表面粗糙的缺陷時(shí),缺陷表面粗糙度對(duì)缺陷反射波高的影響是: ( )如果聲波在耦合介質(zhì)中的波長(zhǎng)為λ,為使透聲效果好,耦合層厚度為( )表面波探傷時(shí),儀器熒光屏上出現(xiàn)缺陷波的水平刻度值通常代表( )探頭沿圓柱曲面外壁作周向探測(cè)時(shí),如儀器用平試塊按深度1∶1調(diào)掃描,下面哪種說(shuō)法正確( )?,隨顯示值的增加而減小采用底波高度法(F/B百分比法)對(duì)缺陷定量時(shí),下面哪種說(shuō)法正確( )?,缺陷當(dāng)量相同在頻率一定和材料相同情況下,橫波對(duì)小缺陷探測(cè)靈敏度高于縱波的原因是:( )采用下列何種頻率的直探頭在不銹鋼大鍛件超探時(shí),可獲得較好的穿透能力:( ) 在用5MHzΦ10晶片的直探頭作水浸探傷時(shí),水層厚度為20mm,此時(shí)在鋼工件中的近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度還有:( )使用半波高度法測(cè)定小于聲束直徑的缺陷尺寸時(shí),所測(cè)的結(jié)果:( )端點(diǎn)衍射波主要用于測(cè)定:( )從A型顯示熒光屏上不能直接獲得缺陷性質(zhì)信息。超聲探傷對(duì)缺陷的定性是通過(guò)下列方法來(lái)進(jìn)行:( )單斜探頭探傷時(shí),在近區(qū)有幅度波動(dòng)較快,探頭移動(dòng)時(shí)水平位置不變的回波,它們可能是:( )確定脈沖在時(shí)基線上的位置應(yīng)根據(jù):( )用實(shí)測(cè)折射角71176。的探頭探測(cè)板厚為25mm的對(duì)接焊縫,熒光屏上最適當(dāng)?shù)穆暢虦y(cè)定范圍是:( )用IIW2調(diào)整時(shí)間軸,當(dāng)探頭對(duì)準(zhǔn)R50圓孤面時(shí),示波屏上的回波位置(聲程調(diào)試)應(yīng)在:( )能使K2斜探頭得到圖示深度1∶1調(diào)節(jié)波形的鋼半圓試塊半徑R為( )在厚焊縫斜探頭探傷時(shí),一般宜使用什么方法標(biāo)定儀器時(shí)基線?( )在中薄板焊縫斜探頭探傷時(shí),宜使用什么方法標(biāo)定儀器時(shí)基線?( )對(duì)圓柱形筒體環(huán)縫探測(cè)時(shí)的缺陷定位應(yīng):( )在筒身外壁作曲面周向探傷時(shí)(r,R為筒體的內(nèi)、外半徑) ,斜探頭(β為折射角)的臨界角應(yīng)滿足:( A )A. B. C. D. 在筒身外壁作曲面周向探傷時(shí),缺陷的實(shí)際深度比按平板探傷時(shí)所得讀數(shù):( ) 在筒身內(nèi)壁作曲面周向探傷,所得缺陷的實(shí)際深度比按平板探傷時(shí)的讀數(shù):( ) 在筒身外壁作曲面周向探傷時(shí),實(shí)際的缺陷前沿距離比按平板探傷時(shí)所得讀數(shù)( )在筒身內(nèi)壁作曲面周向探傷時(shí),實(shí)際的缺陷前沿距離比按平板探傷時(shí)所得讀數(shù)( ) 為保證易于探出垂直于焊縫表面的平面型缺陷,凹曲面周向斜探頭探傷應(yīng)選用( )在鍛件直探頭探傷時(shí)可能定不準(zhǔn)近側(cè)面缺陷的位置,其原因是:( ),無(wú)法移至邊緣 用斜探頭檢測(cè)厚焊縫時(shí),為提高缺陷定位精度可采取措施是:( )當(dāng)量大的缺陷實(shí)際尺寸:( )當(dāng)量小的缺陷實(shí)際尺寸:( )在超聲探傷時(shí),如果聲束指向不與平面缺陷垂直,則缺陷尺寸一定時(shí),缺陷表面越平滑反射回波越:( )當(dāng)聲束指向不與平面缺陷垂直時(shí),在一定范圍內(nèi),缺陷尺寸越大,其反射回波強(qiáng)度越:( )焊縫探傷中一般不宜選用較高頻率是因?yàn)轭l率越高:( ),缺陷方向不利就不易探出厚度為600mm的鋁試件,用直探頭測(cè)得一回波的傳播時(shí)間為165 ,若縱波在鋁中聲速為6300m/s則此回波是:( )直探頭縱波探傷時(shí),工件上下表面不平行會(huì)產(chǎn)生:( )直探頭探測(cè)厚100mm和400mm的兩平底面鍛件,若后者探測(cè)面粗糙,與前者耦合差為5dB,(雙程),今將前者底面回波調(diào)至滿幅(100%)高,則后者的底面回波應(yīng)是滿幅度的:( )%%%%厚度均為400mm,但材質(zhì)衰減不同的兩個(gè)鍛件,采用各自底面校正400/Φ2靈敏度分別進(jìn)行探測(cè),現(xiàn)兩個(gè)鍛件中均發(fā)現(xiàn)缺陷,且回波高度和缺陷聲程均相同,則:( )在脈沖反射法探傷中可根據(jù)什么判斷缺陷的存在?( )在直接接觸法直探頭探傷時(shí),底波消失的原因是:( )在直探頭探傷時(shí),發(fā)現(xiàn)缺陷回波不高,但底波降低較大,則該缺陷可能是:( )影響直接接觸法耦合損耗的原因有:( ),超聲波在耦合介質(zhì)中的波長(zhǎng)及耦合介質(zhì)聲阻抗被檢工件晶粒粗大,通常會(huì)引起:( );;;為減少凹面探傷時(shí)的耦合損耗,通常采用以下方法:( )在平整光潔表面上作直探頭探傷時(shí)宜使用硬保護(hù)膜探頭,因?yàn)檫@樣:( ),但有利于減小工件中噪聲,探測(cè)靈敏度高應(yīng)用有人工反射體的參考試塊主要目的是:( ),并為評(píng)價(jià)工件中缺陷嚴(yán)重程度提供依據(jù)下面哪種參考反射體與入射聲束角度無(wú)關(guān):( )測(cè)定材質(zhì)衰減時(shí)所得結(jié)果除材料本身衰減外,還包括:( )沿細(xì)長(zhǎng)工件軸向探傷時(shí),遲到波聲程Δx的計(jì)算公式是:( )A. B. C. D. 換能器尺寸不變而頻率提高時(shí):( ) 在確定缺陷當(dāng)量時(shí),通常在獲得缺陷的最高回波時(shí)加以測(cè)定,這是因?yàn)椋? )考慮靈敏度補(bǔ)償?shù)睦碛墒牵? )、表面光潔度有差異探測(cè)粗糙表面的工件時(shí),為提高聲能傳遞,應(yīng)選用:( )超聲容易探測(cè)到的缺陷尺寸一般不小于:( )與探測(cè)面垂直的內(nèi)部平滑缺陷,最有效的探測(cè)方法是:( )探測(cè)距離均為100mm的底面,用同樣規(guī)格直探頭以相同靈敏度探測(cè)時(shí),下列哪種底面回波最高。( )鍛件探傷中,熒光屏上出現(xiàn)“林狀波”時(shí),是由于( ) 直徑為d的鋼棒徑向探傷時(shí),遲到波出現(xiàn)的位置是( C )下面有關(guān)61176。反射波的說(shuō)法,哪一點(diǎn)是錯(cuò)誤的?( )176。反射時(shí),縱波入射角與橫波反射角之和為90176。176。反射時(shí),縱波入射角為61176。橫波反射角為29176。176。反射時(shí),橫波入射角為29176。,縱波反射角為61176。176。反射時(shí),其聲程是恒定的長(zhǎng)軸類鍛件從端面作軸向探測(cè)時(shí),容易出現(xiàn)的非缺陷回波是( )176。反射波方形鍛件垂直法探傷時(shí),熒光屏上出現(xiàn)一游動(dòng)缺陷回波,其波幅較低但底波降低很大。該缺陷取向可能是( )缺陷反射聲壓的大小取決于:( )選擇題答案DDCDDCDBBCACDDBBDBCBABBAABBADABBDCCBDDDDDBACDDCDCACBCCDD第四章 一、是非題多次底波法缺陷撿出靈敏度低于缺陷回波法。( )穿透法的最大優(yōu)點(diǎn)是不存在盲區(qū),但小缺陷容易漏檢( )穿透法的靈敏度高于脈沖反射法。( )串列法探傷適用于檢查垂直于探測(cè)面的平面缺陷。( )“靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力,因此超聲波探傷靈敏度越高越好。( )所謂“幻影回波”,是由于探傷頻率過(guò)高或材料晶粒粗大引起的。( )當(dāng)量法用來(lái)測(cè)量大于聲束截面的缺陷的尺寸。( )半波高度法用來(lái)測(cè)量小于聲束截面的缺陷的尺寸。( )串列式雙探頭法探傷即為穿透法。( )厚焊縫采用串列法掃查時(shí),如焊縫余高磨平,則不存在死區(qū)。( ) 曲面工件探傷時(shí),探傷面曲率半徑愈大,耦合效果愈好。( )實(shí)際探傷中,為提高掃查速度減少雜波的干擾,應(yīng)將探傷靈敏度適當(dāng)降低。( )采用當(dāng)量法確定的缺陷尺寸一般小于缺陷的實(shí)際尺寸。( )只有當(dāng)工件中缺陷在各個(gè)方向的尺寸均大于聲束截面時(shí),才能采用測(cè)長(zhǎng)法確定缺陷長(zhǎng)度。( )絕對(duì)靈敏度法測(cè)量缺陷指示長(zhǎng)度時(shí),測(cè)長(zhǎng)靈敏度高,測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度大。( )當(dāng)工件內(nèi)存在較大的內(nèi)應(yīng)力時(shí),將使超聲波的傳播速度及方向發(fā)生變化。( )超聲波傾斜入射至缺陷表面時(shí),缺陷反射波高隨入射角的增大而增高。( )是非題答案○○16
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