互換性與測量技術第42章-資料下載頁
2025-05-07 22:20本頁面
【正文】 且軸：且孔：167。 形位公差與尺寸公差的關系 互換性與技術測量 三、包容要求 ER E1 9 . 9 720201 9 . 9 7M M B 邊 界 00.0320完工尺寸 尺寸公差 T 形位誤差 t_ φ20 0 … … … … … … 167。 形位公差與尺寸公差的關系 互換性與技術測量 對形狀公差進一步限制： 三、包容要求 ER E0 . 0 2 00.0320完工尺寸 尺寸公差 T 形位誤差 t_ φ20 0 … … … 167。 形位公差與尺寸公差的關系 互換性與技術測量 四、最大實體要求 MMR 標記： M、 0 M 用最大實體實效邊界來控制實際要素的輪廓線。既可用于被測要素（單一要素和關聯要素），又可用于基準中心要素。 m i nm i nm a xm a xm i nm i n t d t dddddDDDDDDaMVfeaMVfe?????????且軸：且孔： 圖樣上給出的形位公差值是當被測要素處于最大實體狀態(tài)時允許的形位誤差值。當被測要素偏離最大實體狀態(tài)時，其形狀、定向或定位公差得到補償。 167。 形位公差與尺寸公差的關系 互換性與技術測量 四、最大實體要求 MMR 標記： M、 0 M 1. 最大實體要求應用于單一要素 0 . 0 2 00.0320M0 . 0 220(MMS)20.02M M V B 邊 界MMVS 完工尺寸 t_ t給定 t補償 Φ20 0 167。 形位公差與尺寸公差的關系 互換性與技術測量 四、最大實體要求 MMR 標記： M、 0 M 2. 最大實體要求應用于關聯要素 MMVS 完工尺寸 t總 t給定 t補償 Φ40 … … … 0 … 例：在上圖中，如果 Da =φ ， f◎ = φ ，問該孔合格否？ 解： Dm = Da－ f◎ = － = MMVS = 且 40 Da ∴ 合格 A0 . 0 5AM4 0+ 0 . 10+ 167。 形位公差與尺寸公差的關系 互換性與技術測量 五、最小實體要求 LMR 標記： L、 0 L 用最小實體實效邊界來控制實際要素的輪廓，既可用于被測要素（單一要素和關聯要素），又可用于基準中心要素。 m i nm i nm i nm a xm i nm a x t d t dddddDDDDDDaLvfiaLVfi??????????且軸：且孔： 圖樣上給出的形位公差值是當被測要素處于最小實體狀態(tài)時允許的形位誤差值。當被測要素偏離最小實體狀態(tài)時，其形狀、定向或定位公差得到補償。 167。 形位公差與尺寸公差的關系 互換性與技術測量 六、可逆要求 RR 標記： M R L R 當可逆要求與最大實體要求一起使用時，其被測要素的實際輪廓要素受到最大實體實效邊界的控制，即： m i nm a xm a xm i n t d t ddddDDDDDaMVfeaMVfe???????且軸：且孔： 當可逆要求與最小實體要求一起使用時，其被測要素的實際輪廓要素受到最小實體實效邊界的控制，即： t d t m a xm i nm i nm a xddddDDDDDaLvfiaLVfi????????且軸：且孔：IP ER MMR LMR RR 符號 單一要素： 尺寸 E 邊界 MMC邊界 MMVB邊界 LMVB邊界 MMVB邊界 LMVB邊界 形位公差值 t給 t補償 t給 ? t補償 t給 ? t補償 t給 ? t補償 應用 保證功能 保證配合要求 可裝配性 最小壁厚 可裝配性 最小壁厚 檢測 尺寸誤差與形位誤差分別檢測 尺寸：兩點法 形位：綜合量規(guī) 尺寸：兩點法 形位：綜合量規(guī) 167。 形位公差與尺寸公差的關系 互換性與技術測量 M LRMRL小 結 本章結束
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